[發(fā)明專利]數(shù)據(jù)處理裝置、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、以及數(shù)據(jù)處理方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210904301.1
• 申請日: 2022-07-29
• 公開（公告）號: CN116596082A
• 公開（公告）日: 2023-08-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 菅原克也;山田健一郎;前田知幸
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社
• 主分類號: G06N20/00
• 分類號: G06N20/00;G06F18/2411
• 代理公司: 北京市中咨律師事務(wù)所 11247
• 代理人: 林娜;段承恩

1.一種數(shù)據(jù)處理裝置，具備處理部，

所述處理部能夠取得第1分類標(biāo)簽所對應(yīng)的多個第1特征量、和第2分類標(biāo)簽所對應(yīng)的多個第2特征量，

所述處理部能夠從所述多個第1特征量中選擇所述多個第1特征量的至少一部分，能夠從所述多個第2特征量中選擇所述多個第2特征量的至少一部分，所述處理部能夠?qū)嵤┑?動作，在所述第1動作中，所選擇出的所述多個第1特征量的所述至少一部分的數(shù)量即第1數(shù)量是所選擇出的所述多個第2特征量的所述至少一部分的數(shù)量即第2數(shù)量的1.1倍以上且2倍以下，

所述處理部能夠基于第1教師數(shù)據(jù)生成第1機器學(xué)習(xí)模型，所述第1教師數(shù)據(jù)是基于所選擇出的所述多個第1特征量的所述至少一部分、以及所選擇出的所述多個第2特征量的所述至少一部分的數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理裝置，

所述處理部還能夠取得所述第1分類標(biāo)簽所對應(yīng)的多個第3特征量、和所述第2分類標(biāo)簽所對應(yīng)的多個第4特征量，

所述處理部能夠從所述多個第3特征量中選擇所述多個第3特征量的至少一部分，能夠從所述多個第4特征量中選擇所述多個第4特征量的至少一部分，所述處理部能夠?qū)嵤┑?動作，在所述第2動作中，所選擇出的所述多個第3特征量的所述至少一部分的數(shù)量即第3數(shù)量是所選擇出的所述多個第4特征量的所述至少一部分的數(shù)量即第4數(shù)量的0.1倍以上且0.9倍以下，

所述處理部還能夠基于第2教師數(shù)據(jù)生成第2機器學(xué)習(xí)模型，所述第2教師數(shù)據(jù)是基于所選擇出的所述多個第3特征量的所述至少一部分、以及所選擇出的所述多個第4特征量的所述至少一部分的數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)處理裝置，

作為對象的多個事件包含所述第1分類標(biāo)簽所對應(yīng)的多個第3事件、和所述第2分類標(biāo)簽所對應(yīng)的多個第4事件，

在所述第2動作中，所述多個事件中的所述多個第3事件的第3發(fā)生率比所述多個事件中的所述多個第4事件的第4發(fā)生率要低。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)處理裝置，

在所述第2動作中，所述第3發(fā)生率對應(yīng)于對象物的正常品的發(fā)生率，所述第4發(fā)生率對應(yīng)于所述對象物的非正常品的發(fā)生率。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理裝置，

作為對象的多個事件包含所述第1分類標(biāo)簽所對應(yīng)的多個第1事件、和所述第2分類標(biāo)簽所對應(yīng)的多個第2事件，

在所述第1動作中，所述多個事件中的所述多個第1事件的第1發(fā)生率比所述多個事件中的所述多個第2事件的第2發(fā)生率要高。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的數(shù)據(jù)處理裝置，

在所述第1動作中，所述第1發(fā)生率對應(yīng)于對象物的正常品的發(fā)生率，所述第2發(fā)生率對應(yīng)于所述對象物的非正常品的發(fā)生率。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理裝置，

所述第1教師數(shù)據(jù)是基于對所述多個第1特征量進(jìn)行特征量縮放處理而得到的多個量、和對所述多個第2特征量進(jìn)行特征量縮放處理而得到的多個量的數(shù)據(jù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理裝置，

所述處理部還能夠進(jìn)行分類動作，

在所述分類動作中，所述處理部基于所述第1機器學(xué)習(xí)模型，將其他特征量分類為所述第1分類標(biāo)簽或所述第2分類標(biāo)簽。