[發明專利]一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統

在審

• 申請號: 202210852774.1
• 申請日: 2022-07-19
• 公開（公告）號: CN115389905A
• 公開（公告）日: 2022-11-25
• 發明（設計）人: 馬啟田;張玉;呂珍旗
• 申請（專利權）人: 江蘇粵科檢測技術服務有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市道勤知酷知識產權代理事務所(普通合伙) 44439
• 代理人: 李蘭蘭

本發明涉及電路檢測技術領域，具體公開了一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統，包括試驗箱、箱門、連接在試驗箱底部的檢測箱和設置在試驗箱內的檢測腔，試驗箱靠近箱門一側設有控制面板；檢測腔內設有用于安裝電路板的第一安裝板和兩組第二安裝板，第一安裝板和第二安裝板相靠近的一側均連接若干個安裝導軌；箱門靠近檢測腔一側連接有若干個與電路板對應的電加熱板；本發明針對現有試驗箱改進，方便試驗電路板的安裝，能對多組電路板進行檢測，之后箱門關閉時，能隔斷檢測腔與外界的連通，便于對電路穩定檢測，且加熱均勻，后續箱門開啟時，便于電路板和檢測腔的散熱，利于使用。

技術領域

本發明涉及電路檢測技術領域，具體是一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統。

背景技術

集成電路在電子行業廣泛應用，而在集成電路投入使用前，需要對集成電路及分立器件進行高溫檢測，或檢測電路的閂鎖效應(閂鎖效應是CMOS集成電路中一個重要的問題，這種問題會導致芯片功能的混亂或者電路直接無法工作甚至燒毀)。檢測時通常會配備有試驗箱，箱內設置有溫度檢測、監測、超溫報警系統等，微機能實時檢測、記錄試驗箱的溫度，并對電路板的工作狀態進行檢測。

現有的集成電路高溫試驗箱內會設有用于放置電路板的檢測柜，檢測柜內設有加熱器進行加熱，例如現有專利公告號為CN108121377A公開的一種高溫老化試驗箱控制系統中，加熱器開始工作后，鼓風機工作，避免加熱器通電后溫度過分集中，其試驗時的高溫采用主電路中熱繼電器FR的熱元件工作，多個電路板集中檢測時，加熱點易集中，需要進行改進。針對以上問題，提出一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統。

發明內容

本發明的目的在于提供一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統，包括試驗箱、箱門、連接在試驗箱底部的檢測箱和設置在試驗箱內的檢測腔，所述試驗箱靠近箱門一側設有控制面板；

所述檢測腔內設有用于安裝電路板的第一安裝板和兩組第二安裝板，所述第一安裝板和第二安裝板相靠近的一側均連接若干個安裝導軌；

所述箱門靠近檢測腔一側連接有若干個與電路板對應的電加熱板，所述試驗箱頂部和其中一側設有與檢測腔內對應的通風區，所述箱門上連接有用于隔斷檢測腔與通風區連通的第三隔斷板和第二隔斷板；

所述第二隔斷板遠離箱門一側連接銜接塊，所述試驗箱內設有與銜接塊鉸接的定位座，所述定位座滑動設置在試驗箱內外壁之間；

所述試驗箱外側壁連接有用于第二隔斷板繞定位座翻轉時固定第二隔斷板位置的固定件。

在一種可選方案中：所述試驗箱頂部內外壁之間設有用于第三隔斷板置入的第三隔斷腔，所述試驗箱與第二隔斷板對應側壁的內外壁之間設有用于第二隔斷板置入的第二隔斷腔，所述試驗箱遠離第二隔斷腔一側的內壁與元器件之間設有第一隔斷腔，所述箱門靠近電加熱板一側連接有置入第一隔斷腔內的第一隔斷板。

在一種可選方案中：所述定位座包括移動板，所述移動板靠近第二隔斷板一側連接延伸板，所述延伸板上連接有與銜接塊鉸接的鉸接塊，所述第二隔斷腔內設有用于移動板滑動的限位槽，所述限位槽一端設有用于第二隔斷板和延伸板通過的矩形槽，限位槽通過矩形槽與外部連通。

在一種可選方案中：所述第二隔斷腔和第三隔斷腔與兩組通風區對應，所述第二隔斷腔和第三隔斷腔所處腔室的兩側板面上均設有若干通風孔，用于檢測腔與外部的連通。