[發明專利]一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統在審
| 申請號: | 202210852774.1 | 申請日: | 2022-07-19 |
| 公開(公告)號: | CN115389905A | 公開(公告)日: | 2022-11-25 |
| 發明(設計)人: | 馬啟田;張玉;呂珍旗 | 申請(專利權)人: | 江蘇粵科檢測技術服務有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市道勤知酷知識產權代理事務所(普通合伙) 44439 | 代理人: | 李蘭蘭 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 集成電路 高溫 效應 檢測 系統 | ||
1.一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統,包括試驗箱(11)、箱門(14)、連接在試驗箱(11)底部的檢測箱(12)和設置在試驗箱(11)內的檢測腔(15),所述試驗箱(11)靠近箱門(14)一側設有控制面板(13);
其特征在于:所述檢測腔(15)內設有用于安裝電路板的第一安裝板(16)和兩組第二安裝板(17),所述第一安裝板(16)和第二安裝板(17)相靠近的一側均連接若干個安裝導軌(18);
所述箱門(14)靠近檢測腔(15)一側連接有若干個與電路板對應的電加熱板(27),所述試驗箱(11)頂部和其中一側設有與檢測腔(15)內對應的通風區(38),所述箱門(14)上連接有用于隔斷檢測腔(15)與通風區(38)連通的第三隔斷板(24)和第二隔斷板(25);
所述第二隔斷板(25)遠離箱門(14)一側連接銜接塊(26),所述試驗箱(11)內設有與銜接塊(26)鉸接的定位座(28),所述定位座(28)滑動設置在試驗箱(11)內外壁之間;
所述試驗箱(11)外側壁連接有用于第二隔斷板(25)繞定位座(28)翻轉時固定第二隔斷板(25)位置的固定件。
2.根據權利要求1所述的一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統,其特征在于:所述試驗箱(11)頂部內外壁之間設有用于第三隔斷板(24)置入的第三隔斷腔(22),所述試驗箱(11)與第二隔斷板(25)對應側壁的內外壁之間設有用于第二隔斷板(25)置入的第二隔斷腔,所述試驗箱(11)遠離第二隔斷腔一側的內壁與元器件之間設有第一隔斷腔(21),所述箱門(14)靠近電加熱板(27)一側連接有置入第一隔斷腔(21)內的第一隔斷板(23)。
3.根據權利要求2所述的一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統,其特征在于:所述定位座(28)包括移動板(29),所述移動板(29)靠近第二隔斷板(25)一側連接延伸板(30),所述延伸板(30)上連接有與銜接塊(26)鉸接的鉸接塊(31),所述第二隔斷腔內設有用于移動板(29)滑動的限位槽,所述限位槽一端設有用于第二隔斷板(25)和延伸板(30)通過的矩形槽,限位槽通過矩形槽與外部連通。
4.根據權利要求2所述的一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統,其特征在于:所述第二隔斷腔和第三隔斷腔(22)與兩組通風區(38)對應,所述第二隔斷腔和第三隔斷腔(22所處腔室的兩側板面上均設有若干通風孔,用于檢測腔(15)與外部的連通。
5.根據權利要求1所述的一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統,其特征在于:所述固定件包括連接在試驗箱(11)外側壁的固定套(32)和滑動設置在固定套(32)內的固定板(33),所述固定板(33)遠離箱門(14)一端連接限位板(34),所述固定板(33)靠近箱門(14)一端的頂部和底部均設有凸塊(35),所述固定板(33)內部設有與凸塊(35)連接的銜接塊,所述固定板(33)遠離試驗箱(11)一側設有與銜接塊連接的調節塊(36),所述固定板(33)上設有用于調節塊(36)上下滑動的滑槽,所述固定板(33)內部設有用于銜接塊上下滑動的滑槽,兩組銜接塊相靠近的一側均連接有設置在對應滑槽內的彈簧。
6.根據權利要求5所述的一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統,其特征在于:所述第二隔斷板(25)一側設有與固定板(33)端部對應的固定槽(37),所述固定槽(37)頂部和底部均設有與凸塊(35)對應的卡槽。
7.根據權利要求1所述的一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統,其特征在于:所述控制面板(13)與試驗箱(11)內的元器件電性連接,所述試驗箱(11)一側設有用于元器件散熱的散熱區,所述檢測箱(12)兩側均設有散熱區。
8.根據權利要求1所述的一種集成電路高溫閂鎖效應檢測系統,其特征在于:所述第一安裝板(16)和第二安裝板(17)上均設有若干個矩形通孔,用于氣流的流通。
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