[發明專利]一種精密軸系測角精度標定誤差的校正方法及裝置在審
| 申請號: | 202210823976.3 | 申請日: | 2022-07-14 |
| 公開(公告)號: | CN115112151A | 公開(公告)日: | 2022-09-27 |
| 發明(設計)人: | 王浩;焦揚;殷愛平;黃夢哲;詹軍海;李舒揚;程慶清;石星星;管天樂;徐慶;李曉春;黃利強;黃越凡 | 申請(專利權)人: | 上海宇航系統工程研究所 |
| 主分類號: | G01C25/00 | 分類號: | G01C25/00 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236 | 代理人: | 胡晶 |
| 地址: | 201108 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 精密 軸系測角 精度 標定 誤差 校正 方法 裝置 | ||
1.一種精密軸系測角精度標定誤差的校正方法,其特征在于,包括:
S1:分別在軸系轉子、軸系定子上分別建立測量光學鏈路和補償光學鏈路;
S2:在測量光管和多面棱體鏡之間設置補償鏡,進行基于補償鏡的測角精度標定的補償值測量;
S3:移除所述補償鏡,進行測角精度標定的原始值測量;
S4:基于所述測角精度標定的補償值和所述測角精度標定的原始值進行代數求差獲取測角元件精度測量結果。
2.根據權利要求1所述的精密軸系測角精度標定誤差的校正方法,其特征在于,在所述步驟S2和S3中還包括:
依次測量所述多面棱體鏡不同角度的所述測角精度標定的補償值或所述測角精度標定的原始值。
3.根據權利要求1所述的精密軸系測角精度標定誤差的校正方法,其特征在于,所述分別在軸系轉子、軸系定子上分別建立測量光學鏈路和補償光學鏈路包括:將所述測量光學鏈路和所述補償光學鏈路的鏈路中心設置在測量軸系軸線中心等高位置,所述測量光學鏈路和所述補償光學鏈路共用一套數字光軸標定裝置。
4.根據權利要求1所述的精密軸系測角精度標定誤差的校正方法,其特征在于,所述補償鏡通過一補償鏡安裝座與所述精密軸系連接,所述補償鏡安裝座通過一鎖定銷軸實現與所述精密軸系的軸系定子連接,所述補償鏡及所述補償鏡安裝座能夠通過所述鎖定銷軸在第一狀態和第二狀態間進行切換。
5.根據權利要求1所述的精密軸系測角精度標定誤差的校正方法,其特征在于,步驟S2包括:分別在軸系轉子、定子上分別建立測量光學鏈路和補償光學鏈路時,將所述測量光管與所述多面棱體鏡初步對準;當測量基于補償鏡301的測角精度標定的補償值時,通過調整旋轉鎖銷,將補償鏡與測量光管初步對準,并在多面棱體鏡的A面位置將補償鏡與測量光管找正,隨后旋轉多面棱體鏡停留在各個測量角度內,測量補償鏡在多面棱體鏡不同測量角度下的光管角度θA0、θA1、θA2、…θAn。
6.根據權利要求5所述的精密軸系測角精度標定誤差的校正方法,其特征在于,S3包括:通過調整旋轉鎖銷將補償鏡調整至不遮擋多面棱體鏡的位置,隨后測量多面棱體鏡對應的光管角度θB0、θB1、θB2、…θBn。
7.根據權利要求6所述的精密軸系測角精度標定誤差的校正方法,其特征在于,所述基于所述測角精度標定的補償值和所述測角精度標定的原始值進行代數求差的方法包括:
在GJB1801《慣性技術測試設備主要性能試驗方法》中方法104的基礎上引入補償量θA0、θA1、θA2、…θA23形成計算公式為:eoi=θBi-θB0-Δi-θAi,i=1~n式中n為多面棱體面數,Δi為多面棱體自身修正角;
取eoi中正最大值和負最大值即為角位置測量精度的正最大誤差和負最大誤差。
8.一種精密軸系測角精度標定誤差的校正裝置,其特征在于,包括:測量光管、多面棱體鏡、補償鏡,所述多面棱體鏡與測角精密軸系同軸連接設置,所述測量光管設置于所述多面棱體鏡的A面,所述補償鏡通過補償鏡安裝座和鎖定銷軸安裝于所述測角精密軸系的軸系定子,所述補償鏡及所述補償鏡安裝座能夠通過所述鎖定銷軸在第一狀態和第二狀態間進行切換。
9.一種電子設備,其特征在于,包括:
存儲器,所述存儲器用于存儲處理程序;
處理器,所述處理器執行所述處理程序時實現如權利要求1至7中任意一項所述的精密軸系測角精度標定誤差的校正方法。
10.一種可讀存儲介質,其特征在于,所述可讀存儲介質上存儲有處理程序,所述處理程序被處理器執行時實現如權利要求1至7中任意一項所述的精密軸系測角精度標定誤差的校正方法。
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