[發明專利]一種芯片的自適應測試的方法、系統、裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 202210823754.1
• 申請日: 2022-07-14
• 公開（公告）號: CN115344441A
• 公開（公告）日: 2022-11-15
• 發明（設計）人: 陳冬兵
• 申請（專利權）人: 蘇州欣華銳電子有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F16/25
• 代理公司: 蘇州國誠專利代理有限公司 32293
• 代理人: 陳松

本發明提供了一種芯片的自適應測試的方法、系統、裝置及存儲介質，其可以自動適配不同的芯片，且可以實現針對待測芯片的性能參數，調整測試程序的參數，減少測試的成本，提升測試效率，方法包括以下步驟：建立數據庫，所述數據庫中存儲有歷史檢測的芯片數據；獲取待測試的芯片的已知特征，從數據庫匹配得到待測試的芯片的特征參數；根據匹配結果，推送與芯片對應的測試程序；采用測試程序進行芯片測試。

技術領域

本發明涉及芯片測試技術領域，具體涉及一種芯片的自適應測試的方法、系統、裝置及存儲介質。

背景技術

目前芯片種類繁多，針對不同種類芯片通信接口不同，傳統編程測試設備往往只能滿足某一通信協議芯片，因而通常只能對單一種類的芯片編程及測試，使用傳統編程測試設備進行編程測試，需要耗費測試人員大量的精力和時間去編寫程序，耗費大量的人力成本，測試效率低，傳統編程測試設備也無法針對每顆芯片的性能參數去針對性的進行測試，同時測試芯片的種類非常有限，難以覆蓋市面上芯片的各品牌各型號。

發明內容

針對上述問題，本發明提供了一種芯片的自適應測試的方法、系統、裝置及存儲介質，其可以自動適配不同的芯片，且可以實現針對待測芯片的性能參數，調整測試程序的參數，減少測試的成本，提升測試效率。

其技術方案是這樣的：一種芯片的自適應測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

建立數據庫，所述數據庫中存儲有歷史檢測的芯片數據；

獲取待測試的芯片的已知特征，從數據庫匹配得到待測試的芯片的特征參數；

根據匹配結果，推送與芯片對應的測試程序；

采用測試程序進行芯片測試。

進一步的，所述的讀取待測試的芯片的已知特征，從數據庫匹配得到待測試的芯片的特征參數，具體包括：

獲取待測試的芯片的ID，從數據庫匹配得到待測試的芯片的特征參數。

進一步的，所述的待測試的芯片的特征參數包括通信協議、廠牌、容量、電壓、電流、上電時序、加密區域、寄存器、封裝尺寸、頻率、波特率中的任意一種或多種。

進一步的，所述的根據匹配結果，推送與芯片對應的測試程序，包括：

推送與待測試的芯片相匹配的測試項目；

根據推送的測試項目，從測試程序數據庫中調取對應的測試程序模版；

在調取的測試程序模版中自動填充待測試的芯片的特征參數，構成所述測試程序。

進一步的，當檢索到數據庫中未收錄待測試的芯片的信息時，則在數據庫中建立對應芯片的目錄，并且在芯片對應目錄下設置特征參數的詞條，用于錄入對應的特征參數。

進一步的，通過文本識別錄入芯片的設計手冊的信息，對文本信息進行特征參數的關鍵詞檢索，將檢索到的所有的與特征參數相匹配的關鍵詞推送給信息錄入人員以供參考。

一種芯片測試系統，包括芯片夾具和測試線路板及處理器，所述測試線路板上能夠安裝多個所述芯片夾具，其特征在于：所述處理器用于執行如上述的芯片的自適應測試方法。

進一步的，所述測試線路板上對應所述芯片的每個引腳分別設置了若干種接口電路，所述接口電路至少包括供電、接地、I/O接口，每種所述接口電路上分別設有可控開關，所述可控開關連接所述處理器和測試回路，所述處理器讀取匹配得到的待測試芯片的特征參數中的封裝信息，根據待測試芯片的封裝信息控制對應接口電路的可控開關閉合，使得測試線路板上的每個引腳的接口電路與所述待測試芯片封裝的引腳相對應。

一種計算機裝置，其特征在于，其包括：包括處理器、存儲器以及程序；