[發(fā)明專利]一種芯片的自適應測試的方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)

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• 申請日: 2022-07-14
• 公開（公告）號: CN115344441A
• 公開（公告）日: 2022-11-15
• 發(fā)明（設計）人: 陳冬兵
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州欣華銳電子有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F16/25
• 代理公司: 蘇州國誠專利代理有限公司 32293
• 代理人: 陳松

1.一種芯片的自適應測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

建立數(shù)據(jù)庫，所述數(shù)據(jù)庫中存儲有歷史檢測的芯片數(shù)據(jù)；

獲取待測試的芯片的已知特征，從數(shù)據(jù)庫匹配得到待測試的芯片的特征參數(shù)；

根據(jù)匹配結(jié)果，推送與芯片對應的測試程序；

采用測試程序進行芯片測試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片的自適應測試方法，其特征在于：所述的讀取待測試的芯片的已知特征，從數(shù)據(jù)庫匹配得到待測試的芯片的特征參數(shù)，具體包括：

獲取待測試的芯片的ID，從數(shù)據(jù)庫匹配得到待測試的芯片的特征參數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種芯片的自適應測試方法，其特征在于：所述的待測試的芯片的特征參數(shù)包括通信協(xié)議、廠牌、容量、電壓、電流、上電時序、加密區(qū)域、寄存器、封裝尺寸、頻率、波特率中的任意一種或多種。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種芯片的自適應測試方法，其特征在于：所述的根據(jù)匹配結(jié)果，推送與芯片對應的測試程序，包括：

推送與待測試的芯片相匹配的測試項目；

根據(jù)推送的測試項目，從測試程序數(shù)據(jù)庫中調(diào)取對應的測試程序模版；

在調(diào)取的測試程序模版中自動填充待測試的芯片的特征參數(shù)，構(gòu)成所述測試程序。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片的自適應測試方法，其特征在于：當檢索到數(shù)據(jù)庫中未收錄待測試的芯片的信息時，則在數(shù)據(jù)庫中建立對應芯片的目錄，并且在芯片對應目錄下設置特征參數(shù)的詞條，用于錄入對應的特征參數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種芯片的自適應測試方法，其特征在于：通過文本識別錄入芯片的設計手冊的信息，對文本信息進行特征參數(shù)的關鍵詞檢索，將檢索到的所有的與特征參數(shù)相匹配的關鍵詞推送給信息錄入人員以供參考。

7.一種芯片測試系統(tǒng)，包括芯片夾具和測試線路板及處理器，所述測試線路板上能夠安裝多個所述芯片夾具，其特征在于：所述處理器用于執(zhí)行如上述的芯片的自適應測試方法。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種芯片測試系統(tǒng)，其特征在于：所述測試線路板上對應所述芯片的每個引腳分別設置了若干種接口電路，所述接口電路至少包括供電、接地、I/O接口，每種所述接口電路上分別設有可控開關，所述可控開關連接所述處理器和測試回路，所述處理器讀取匹配得到的待測試芯片的特征參數(shù)中的封裝信息，根據(jù)待測試芯片的封裝信息控制對應接口電路的可控開關閉合，使得測試線路板上的每個引腳的接口電路與所述待測試芯片封裝的引腳相對應。

9.一種計算機裝置，其特征在于，其包括：包括處理器、存儲器以及程序；

所述程序存儲在所述存儲器中，所述處理器調(diào)用存儲器存儲的程序，以執(zhí)行如權(quán)利要求1至6任意項所述的一種芯片的自適應測試方法。

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于：所述計算機可讀存儲介質(zhì)用于存儲程序，所述程序用于執(zhí)行如權(quán)利要求1至6任意項所述的一種芯片的自適應測試方法。