[發(fā)明專利]一種煙支外觀缺陷檢測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210823040.0
• 申請(qǐng)日: 2022-07-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114897907B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-09-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李小龍;黃俊成
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京遠(yuǎn)舢智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T7/70;G06T3/00
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 張文娥

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N煙支外觀缺陷檢測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備，屬于圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，該方法包括：獲取與待檢測(cè)煙支的目標(biāo)外觀缺陷對(duì)應(yīng)的目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)；將目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)沿待檢測(cè)煙支的軸向方向進(jìn)行投影獲得目標(biāo)投影，確定目標(biāo)投影對(duì)應(yīng)的投影中心點(diǎn)位置及投影半徑；基于投影中心點(diǎn)位置及投影半徑確定目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的外圍點(diǎn)集，從外圍點(diǎn)集中選取軸向基準(zhǔn)點(diǎn)；從目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的內(nèi)部點(diǎn)集中選取目標(biāo)檢測(cè)點(diǎn)，利用軸向基準(zhǔn)點(diǎn)與目標(biāo)檢測(cè)點(diǎn)在軸向方向上的差值確定目標(biāo)外觀缺陷指標(biāo)的取值；確定目標(biāo)外觀缺陷的缺陷評(píng)級(jí)。通過(guò)采用上述煙支外觀缺陷檢測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備，解決了在對(duì)煙支外觀缺陷進(jìn)行檢測(cè)時(shí)檢測(cè)效率低及檢測(cè)精度差的問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種煙支外觀缺陷檢測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

香煙深受廣大消費(fèi)者的青睞，香煙的市場(chǎng)規(guī)模也在逐年增加。在香煙包裝以及卷制過(guò)程中可能會(huì)產(chǎn)生煙支外觀質(zhì)量缺陷，例如：空頭缺陷、濾嘴縮頭缺陷以及切口歪斜缺陷，因此，需要對(duì)煙支的外觀缺陷進(jìn)行評(píng)級(jí)，以依據(jù)外觀缺陷評(píng)級(jí)對(duì)制造工藝進(jìn)行改良，對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)進(jìn)行控制，提升消費(fèi)者滿意度。目前，通常采用人工測(cè)量的方式來(lái)確定外觀缺陷指標(biāo)的數(shù)值，然后通過(guò)外觀缺陷指標(biāo)的數(shù)值來(lái)對(duì)產(chǎn)品的外觀缺陷進(jìn)行評(píng)級(jí)。

然而，采用人工測(cè)量方式檢測(cè)煙支外觀缺陷時(shí)，由于操作過(guò)程復(fù)雜且檢測(cè)時(shí)間較長(zhǎng)，造成檢測(cè)效率低以及檢測(cè)精度差的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請(qǐng)的目的在于提供一種煙支外觀缺陷檢測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備，以解決在對(duì)煙支外觀缺陷進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)效率低及檢測(cè)精度差的問(wèn)題。

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種煙支外觀缺陷檢測(cè)方法，包括：

獲取與待檢測(cè)煙支的目標(biāo)外觀缺陷對(duì)應(yīng)的目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)；

將目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)沿待檢測(cè)煙支的軸向方向進(jìn)行投影獲得目標(biāo)投影，確定目標(biāo)投影對(duì)應(yīng)的投影中心點(diǎn)位置以及投影半徑，軸向方向是指垂直于待檢測(cè)煙支的橫截面的方向；

基于投影中心點(diǎn)位置以及投影半徑確定目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的外圍點(diǎn)集，從外圍點(diǎn)集中選取軸向基準(zhǔn)點(diǎn)；

從目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的內(nèi)部點(diǎn)集中選取目標(biāo)檢測(cè)點(diǎn)，利用軸向基準(zhǔn)點(diǎn)與目標(biāo)檢測(cè)點(diǎn)在軸向方向上的差值確定目標(biāo)外觀缺陷指標(biāo)的取值，內(nèi)部點(diǎn)集是由除外圍點(diǎn)集之外的目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)上的點(diǎn)構(gòu)成的點(diǎn)集；

確定與目標(biāo)外觀缺陷指標(biāo)的取值對(duì)應(yīng)的目標(biāo)外觀缺陷的缺陷評(píng)級(jí)。

可選地，將目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)沿待檢測(cè)煙支的軸向方向進(jìn)行投影獲得目標(biāo)投影，確定目標(biāo)投影對(duì)應(yīng)的投影中心點(diǎn)位置以及投影半徑，包括：從目標(biāo)投影上的多個(gè)投影點(diǎn)中分別選取第一橫坐標(biāo)投影點(diǎn)、第二橫坐標(biāo)投影點(diǎn)、第一縱坐標(biāo)投影點(diǎn)以及第二縱坐標(biāo)投影點(diǎn)；將第一橫坐標(biāo)投影點(diǎn)與第二橫坐標(biāo)投影點(diǎn)的橫坐標(biāo)均值、第一縱坐標(biāo)投影點(diǎn)與第二縱坐標(biāo)投影點(diǎn)的縱坐標(biāo)均值分別作為投影中心點(diǎn)的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)；計(jì)算第二橫坐標(biāo)投影點(diǎn)與第一橫坐標(biāo)投影點(diǎn)的橫坐標(biāo)差值、第二縱坐標(biāo)投影點(diǎn)與第一縱坐標(biāo)投影點(diǎn)的縱坐標(biāo)差值；將橫坐標(biāo)差值以及縱坐標(biāo)差值中數(shù)值最小的差值作為目標(biāo)差值，將目標(biāo)差值的一半作為投影半徑。

可選地，基于投影中心點(diǎn)位置以及投影半徑確定目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的外圍點(diǎn)集，從外圍點(diǎn)集中選取軸向基準(zhǔn)點(diǎn)，包括：計(jì)算目標(biāo)投影中各個(gè)投影點(diǎn)與投影中心點(diǎn)之間的距離；將距離大于設(shè)定長(zhǎng)度的多個(gè)投影點(diǎn)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)中的點(diǎn)確定為外圍點(diǎn)集；從外圍點(diǎn)集中選取軸向方向上處于預(yù)設(shè)位置上的點(diǎn)作為軸向基準(zhǔn)點(diǎn)。