[發明專利]一種煙支外觀缺陷檢測方法、裝置及電子設備有效
| 申請號: | 202210823040.0 | 申請日: | 2022-07-14 |
| 公開(公告)號: | CN114897907B | 公開(公告)日: | 2022-09-30 |
| 發明(設計)人: | 李小龍;黃俊成 | 申請(專利權)人: | 北京遠舢智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/70;G06T3/00 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 張文娥 |
| 地址: | 101400 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 外觀 缺陷 檢測 方法 裝置 電子設備 | ||
1.一種煙支外觀缺陷檢測方法,其特征在于,包括:
獲取與待檢測煙支的目標外觀缺陷對應的目標點云數據,所述目標點云數據包括煙頭端對應的第一點云數據,和/或,濾嘴端對應的第二點云數據;
將所述目標點云數據沿所述待檢測煙支的軸向方向進行投影獲得目標投影,確定所述目標投影對應的投影中心點位置以及投影半徑,所述軸向方向是指垂直于所述待檢測煙支的橫截面的方向;
基于所述投影中心點位置以及所述投影半徑確定所述目標點云數據的外圍點集,從所述外圍點集中選取軸向基準點;
從所述目標點云數據的內部點集中選取目標檢測點,利用所述軸向基準點與所述目標檢測點在軸向方向上的差值確定目標外觀缺陷指標的取值,所述內部點集是由除所述外圍點集之外的目標點云數據上的點構成的點集,所述目標檢測點包括第一目標檢測點,和/或,第二目標檢測點;
確定與所述目標外觀缺陷指標的取值對應的目標外觀缺陷的缺陷評級;
所述基于所述投影中心點位置以及所述投影半徑確定所述目標點云數據的外圍點集,從所述外圍點集中選取軸向基準點,包括:
計算所述目標投影中各個投影點與投影中心點之間的距離;
將所述距離大于設定長度的多個投影點對應的目標點云數據中的點確定為外圍點集;
從所述外圍點集中選取軸向方向上處于預設位置上的點作為軸向基準點;
所述從所述目標點云數據的內部點集中選取目標檢測點,包括:
將所述第一點云數據上的點作為第一候選檢測點;
從所述第二點云數據的內部點集中選取與第二投影中心點之間的平面距離小于設定長度的多個檢測點作為第二候選檢測點,所述第二投影中心點是第二點云數據對應第二目標投影的投影中心點;
從第一候選檢測點中選取內部點集中的所有內部點作為第一目標檢測點,和/或,從第二候選檢測點中選取軸向方向上處于預設位置上的點作為第二目標檢測點。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述將所述目標點云數據沿所述待檢測煙支的軸向方向進行投影獲得目標投影,確定所述目標投影對應的投影中心點位置以及投影半徑,包括:
從所述目標投影上的多個投影點中分別選取第一橫坐標投影點、第二橫坐標投影點、第一縱坐標投影點以及第二縱坐標投影點,所述第一橫坐標投影點是橫坐標處于對應橫坐標軸上第一百分位數上的點,第二橫坐標投影點是橫坐標處于對應橫坐標軸上第二百分位數上的點,第一縱坐標投影點縱坐標處于對應縱坐標軸上第一百分位數上的點,第二縱坐標投影點是縱坐標處于對應縱坐標軸上第二百分位數上的點;
將所述第一橫坐標投影點與第二橫坐標投影點的橫坐標均值、第一縱坐標投影點與第二縱坐標投影點的縱坐標均值分別作為投影中心點的橫坐標和縱坐標;
計算第二橫坐標投影點與第一橫坐標投影點的橫坐標差值、第二縱坐標投影點與第一縱坐標投影點的縱坐標差值;
將所述橫坐標差值以及所述縱坐標差值中數值最小的差值作為目標差值,將所述目標差值的一半作為投影半徑。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述軸向基準點與所述目標檢測點在軸向方向上的差值確定目標外觀缺陷指標的取值,包括:
利用所述第一目標檢測點與第一軸向基準點在軸向方向上的差值確定第一外觀缺陷指標的取值,所述第一軸向基準點是第一點云數據對應的軸向基準點;
和/或,利用所述第二目標檢測點與第二軸向基準點在軸向方向上的差值確定第二外觀缺陷指標的取值,所述第二軸向基準點是第二點云數據對應的軸向基準點。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述利用所述第一目標檢測點與第一軸向基準點在軸向方向上的差值確定第一外觀缺陷指標的取值,包括:
針對每個第一目標檢測點,將所述第一軸向基準點與該第一目標檢測點在軸向方向上的差值確定為第一軸向差值;
針對每個空陷深度區間,統計處于該空陷深度區間范圍內的第一軸向差值對應的第一目標檢測點的數量;
將處于該空陷深度區間的第一目標檢測點的數量與所述內部點集中內部點的總數的比值確定為空陷截面比;
將所述第一軸向差值以及空陷截面比確定為第一外觀缺陷指標的取值。
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