[發明專利]一種檢測機用調制波的讀取方法

有效

• 申請號: 202210807847.5
• 申請日: 2022-07-11
• 公開（公告）號: CN114884490B
• 公開（公告）日: 2022-09-13
• 發明（設計）人: 屈糧富;張大偉;馬慧娟
• 申請（專利權）人: 天津普智芯網絡測控技術有限公司
• 主分類號: H03K5/1534
• 分類號: H03K5/1534;G01R31/28
• 代理公司: 北京沁優知識產權代理有限公司 11684
• 代理人: 郭衍飛

本發明提供一種檢測機用調制波的讀取方法，包括S1：獲取激勵波信號的傳輸周期和測試設備的基準周期，依據傳輸周期和基準周期獲取循環值和補償時間；S2：測試設備間隔循環值個基準周期并延遲補償時間后讀取一次信號，疊加補償時間生成總延時；S3：判斷總延時是否小于基準周期時，是，跳轉至S2步驟；否，測試設備間隔循環值+1個基準周期和延遲補償時間后讀取一次信號，總延時減去一個基準周期并疊加補償時間后生成新的總延時，跳轉至S2步驟。本發明能夠讀取任意頻率的激勵波信號的同時，提高了數據讀取的準確性，以保證芯片的測試效率和準確性。

技術領域

本發明涉及數據讀取技術領域，具體涉及一種檢測機用調制波的讀取方法。

背景技術

測試芯片功能的檢測機包括有主模塊和副模塊，待測試的芯片安裝在副模塊上，主模塊通過通信端口與副模塊數據互通，用于傳輸激勵信號，當芯片測試不同功能時，依據接收的激勵信號給待測芯片配置不同的測試環境和測試激勵，并接收反饋。由于不同類型的測試芯片功能的不同，使用的到的通信端口頻率不完全相同，副模塊需精準的讀取不同頻率的激勵信號，當激勵信號通過上升沿或下降沿進行數據傳輸時，由于上升沿或下降沿的變化時間短，當激勵波信號頻率過大時，容易出現漏讀取的情況，影響檢測機讀取信息的準確性。

發明內容

有鑒于此，本發明要解決的問題是提供一種檢測機用調制波的讀取方法，能夠讀取任意頻率的激勵波信號的同時，提高了數據讀取的準確性，以保證芯片的測試效率和準確性。

為解決上述技術問題，本發明采用的技術方案是：一種檢測機用調制波的讀取方法，包括S1：獲取激勵波信號的傳輸周期和測試設備的基準周期，依據傳輸周期和基準周期獲取循環值和補償時間；S2：測試設備間隔循環值個基準周期并延遲補償時間后讀取一次信號，疊加補償時間生成總延時；S3：判斷總延時是否小于基準周期時，是，跳轉至S2步驟；否，測試設備間隔循環值+1個基準周期和延遲補償時間后讀取一次信號，總延時減去一個基準周期并疊加補償時間后生成新的總延時，跳轉至S2步驟。

進一步的，所述測試設備內包括有用于計算補償時間和總延時的延時模塊，所述延時模塊對應有延時晶振周期，所述延時晶振周期小于基準周期設置。

進一步的，所述延時晶振周期為1/12微秒，以使測試設備的讀取誤差在0~1/24微秒范圍內變動。

進一步的，所述測試設備內包括有用于讀取激勵波信號內數據的讀取單元，所述讀取單元對應有一個晶振周期，所述晶振周期為基準周期。

進一步的，所述S2之前包括有跳轉步驟：讀取到激勵波信號上的跳轉指令后，自動跳轉至激勵波信號對應位置并連續讀取數據。

進一步的，所述激勵波信號為高頻方波信號，且通過上升沿和下降沿傳輸數據，所述跳轉指令通過上升沿或下降沿觸發。

進一步的，所述激勵波信號的傳輸周期除以基準周期獲得的商值和余數值，分別為該激勵波信號的循環值和補償時間。

本發明具有的優點和積極效果是：通過以副模塊的基準周期為最小時間單元，獲取傳輸周期除以基準周期的余數和商，余數為讀取一個數據的補償時間，商為讀取一個數據的循環值。讀取激勵波信號時，每間隔循環值個基準周期并延遲補償時間后讀取一次數據，同時疊加延時的補償時間生成總延時，當總延時超過一個基準周期時，間隔商+1個基準周期，總延時減去一個基準周期在延遲補償時間后讀取一次數據，保證總延時始終在一個基準周期范圍內波動，不同的頻率的激勵波信號對應有不同的補償時間和循環值，便于讀取任意頻率的激勵波信號。總延時減去標準的基準周期過程中可抵消部分因為延時時間不準確產生的延時誤差，提高了數據讀取的準確性，以保證芯片的測試效率和準確性。

附圖說明