[發明專利]一種檢測機用調制波的讀取方法有效
| 申請號： | 202210807847.5 | 申請日： | 2022-07-11 |
| 公開（公告）號： | CN114884490B | 公開（公告）日： | 2022-09-13 |
| 發明（設計）人： | 屈糧富;張大偉;馬慧娟 | 申請（專利權）人： | 天津普智芯網絡測控技術有限公司 |
| 主分類號： | H03K5/1534 | 分類號： | H03K5/1534;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京沁優知識產權代理有限公司 11684 | 代理人： | 郭衍飛 |
| 地址： | 300450 天津市濱海新區濱*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 檢測 調制 讀取 方法 | ||
1.一種檢測機用調制波的讀取方法，其特征在于，S1：獲取激勵波信號的傳輸周期和測試設備的基準周期，依據傳輸周期和基準周期獲取循環值和補償時間，所述激勵波信號的傳輸周期除以基準周期獲得的商值和余數值，分別為該激勵波信號的循環值和補償時間；S2：測試設備間隔循環值個基準周期并延遲補償時間后讀取一次信號，疊加補償時間生成總延時；S3：判斷總延時是否小于基準周期時，是，跳轉至S2步驟；否，測試設備間隔循環值+1個基準周期和延遲補償時間后讀取一次信號，總延時減去一個基準周期并疊加補償時間后生成新的總延時，跳轉至S2步驟。
2.根據權利要求1所述的一種檢測機用調制波的讀取方法，其特征在于，所述測試設備內包括有用于計算補償時間和總延時的延時模塊，所述延時模塊對應有延時晶振周期，所述延時晶振周期小于基準周期設置。
3.根據權利要求2所述的一種檢測機用調制波的讀取方法，其特征在于，所述延時晶振周期為1/12微秒，以使測試設備的讀取誤差在0~1/12微秒范圍內變動。
4.根據權利要求1所述的一種檢測機用調制波的讀取方法，其特征在于，所述測試設備內包括有用于讀取激勵波信號內數據的讀取單元，所述讀取單元對應有一個晶振周期，所述晶振周期為基準周期。
5.根據權利要求1所述的一種檢測機用調制波的讀取方法，其特征在于，所述S2之前包括有跳轉步驟：讀取到激勵波信號上的跳轉指令后，自動跳轉至激勵波信號對應位置并連續讀取數據。
6.根據權利要求5所述的一種檢測機用調制波的讀取方法，其特征在于，所述激勵波信號為高頻方波信號，且通過上升沿和下降沿傳輸數據，所述跳轉指令通過上升沿或下降沿觸發。
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