[發明專利]一種芯片掃描測試方法在審
| 申請號： | 202210805917.3 | 申請日： | 2022-07-08 |
| 公開（公告）號： | CN115078972A | 公開（公告）日： | 2022-09-20 |
| 發明（設計）人： | 劉亞東 | 申請（專利權）人： | 上海立可芯半導體科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人： | 朱方杰;駱希聰 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區中國（上海*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 芯片 掃描 測試 方法 | ||
1.一種芯片掃描測試方法，包括：
根據芯片組成模塊的時鐘激勵頻率參數添加相應的片上時鐘模塊，并連接形成第一掃描測試電路；
獲取不同的片上時鐘模塊之間的時序路徑數量；
判斷每兩個片上時鐘模塊之間雙向的時序路徑數量是否為零；
如果為零，則基于合并規則確定是否將所述兩個片上時鐘模塊合并為一個片上時鐘模塊；
如果確定合并，則基于合并后的片上時鐘模塊連接形成第二掃描測試電路，并基于合并后的片上時鐘模塊生成相應的掃描測試向量。
2.根據權利要求1所述的芯片掃描測試方法，其特征在于，包括，如果判斷兩個片上時鐘模塊之間雙向的時序路徑數量為零，則計算所述兩個片上時鐘模塊的時鐘頻率相對差值；
如果所述相對差值大于零且小于等于第一閾值比例，則將所述兩個片上時鐘模塊中較高頻率的片上時鐘模塊作為合并后的片上時鐘模塊；
如果所述相對差值大于第一閾值比例且小于等于第二閾值比例，則將所述兩個片上時鐘模塊中較低頻率的片上時鐘模塊作為合并后的片上時鐘模塊。
3.根據權利要求1所述的芯片掃描測試方法，其特征在于，基于時序分析工具獲取同的片上時鐘模塊之間的時序路徑數量。
4.根據權利要求1所述的芯片掃描測試方法，其特征在于，基于合并后的片上時鐘模塊生成相應的掃描測試向量包括：
基于合并后的片上時鐘模塊，通過APTG工具生成相應的掃描測試向量。
5.根據權利要求1所述的芯片掃描測試方法，其特征在于，所述掃描測試向量用于芯片掃描測試中捕獲模式下的測試。
6.根據權利要求2所述的芯片掃描測試方法，其特征在于，所述第一閾值比例為百分之十，所述第二閾值比例為百分之五十。
7.根據權利要求1所述的芯片掃描測試方法，其特征在于，所述片上時鐘模塊經過組合邏輯電路連接至所述芯片組成模塊的時鐘輸入端。
8.根據權利要求1所述的芯片掃描測試方法，其特征在于，所述芯片包括處理器芯片、存儲芯片、圖像處理芯片或射頻芯片。
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