[發(fā)明專利]一種靜止無功發(fā)生器的電壓故障測試方法

在審

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• 申請日: 2022-07-06
• 公開（公告）號: CN115201599A
• 公開（公告）日: 2022-10-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吳冶;奚魯瑋
• 申請（專利權(quán)）人: 斯鉭博電力科技（杭州）有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G06F30/20;H02J3/18
• 代理公司: 北京沁優(yōu)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11684
• 代理人: 楊敏

本發(fā)明公開了一種靜止無功發(fā)生器的電壓故障測試方法，包括：狀態(tài)檢測模塊檢測靜止無功發(fā)生器內(nèi)部，得到第一耐久值、第二耐久值、內(nèi)部溫度值、無功電流值、電流持續(xù)時長和故障電壓值；處理模塊提取狀態(tài)檢測模塊中第一歷史耐久值、第二歷史耐久值和歷史溫度值，處理得到歷史綜合損耗值和歷史狀態(tài)指數(shù)；處理模塊訓(xùn)練得到初始預(yù)測模型；處理模塊將第一耐久值、第二耐久值和內(nèi)部溫度值輸入初始預(yù)測模型，得到預(yù)測狀態(tài)指數(shù)；處理模塊對初始預(yù)測模型優(yōu)化調(diào)整得到優(yōu)化預(yù)測模型；處理模塊根據(jù)優(yōu)化預(yù)測狀態(tài)指數(shù)、無功電流值、電流持續(xù)時長和故障電壓值處理得到穿越指數(shù)，生成故障穿越折線圖。本發(fā)明提升了靜止無功發(fā)生器故障測試的完整性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電力電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種靜止無功發(fā)生器的電壓故障測試方法。

背景技術(shù)

靜止無功發(fā)生器是將自換相橋式電路通過電抗器或者直接并聯(lián)到電網(wǎng)上，調(diào)節(jié)橋式電路交流側(cè)輸出電壓的相位和幅值，或者直接控制其交流側(cè)電流，使該電路吸收或者發(fā)出滿足要求的無功功率，實現(xiàn)動態(tài)無功補償?shù)哪康摹?/p>

電網(wǎng)低電壓及高電壓故障下靜止無功發(fā)生器的不間斷運行及電網(wǎng)支撐性能是靜止無功發(fā)生器的重要性能指標(biāo)。因此，需要對靜止無功發(fā)生器進(jìn)行電壓故障測試，來驗證靜止無功發(fā)生器在電網(wǎng)低電壓及高電壓故障下的響應(yīng)特性是否達(dá)標(biāo)。目前，在現(xiàn)有技術(shù)中，靜止無功發(fā)生器在進(jìn)行低電壓和高電壓的故障測試的過程一般只是在靜止無功發(fā)生器當(dāng)前狀態(tài)下進(jìn)行一段時間的電壓故障測試，但不會對靜止無功發(fā)生器進(jìn)行持續(xù)不斷的測試。隨著外部環(huán)境的變化以及靜止無功發(fā)生器的使用老化，電網(wǎng)低電壓及高電壓下的靜止無功發(fā)生器的故障穿越性能也會隨之不斷動態(tài)變化，因此現(xiàn)有的針對靜止無功發(fā)生器的電壓故障測試方法得到的靜止無功發(fā)生器的測試結(jié)果較為片面，無法反映靜止無功發(fā)生器在持續(xù)測試下的完整性能。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種靜止無功發(fā)生器的電壓故障測試方法，用于實現(xiàn)對靜止無功發(fā)生器的動態(tài)持續(xù)測試，提升測試結(jié)果的完整性及測試精度。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下技術(shù)方案：一種靜止無功發(fā)生器的電壓故障測試方法，提供交流電網(wǎng)、故障模擬模塊、靜止無功發(fā)生器、狀態(tài)檢測模塊和處理模塊，所述故障模擬模塊的輸入端連接所述交流電網(wǎng)，所述故障模擬模塊的輸出端連接所述靜止無功發(fā)生器的輸入端，所述靜止無功發(fā)生器的輸出端連接所述交流電網(wǎng)，所述狀態(tài)檢測模塊的輸入端分別連接所述靜止無功發(fā)生器的輸出端和所述故障模擬模塊的輸出端，所述狀態(tài)檢測模塊的輸出端連接所述處理模塊，所述靜止無功發(fā)生器的電壓故障測試方法包括：

步驟S1，所述狀態(tài)檢測模塊對所述靜止無功發(fā)生器內(nèi)部各元器件的耐久度、內(nèi)部溫度、所述靜止無功發(fā)生器輸出端的無功電流、所述無功電流的持續(xù)時間以及所述故障模擬模塊輸出的故障電壓進(jìn)行檢測，得到若干第一耐久值、若干第二耐久值、內(nèi)部溫度值、無功電流值、電流持續(xù)時長和故障電壓值并保存，各所述第二耐久值、各所述第二耐久值和所述內(nèi)部溫度值均關(guān)聯(lián)有相應(yīng)檢測時刻；

步驟S2，所述處理模塊提取所述狀態(tài)檢測模塊中關(guān)聯(lián)的檢測時刻早于當(dāng)前時刻的若干所述第二耐久值、若干第二耐久值和若干所述內(nèi)部溫度值，以標(biāo)記為若干第一歷史耐久值、若干第二歷史耐久值和若干歷史溫度值，并根據(jù)若干所述第一歷史耐久值和若干所述第二歷史耐久值處理得到同一檢測時刻的歷史綜合損耗值，進(jìn)而根據(jù)所述歷史綜合損耗值和所述歷史溫度值處理得到歷史狀態(tài)指數(shù)；

步驟S3，所述處理模塊將若干所述第一歷史耐久值、若干所述第二歷史耐久值和若干所述歷史溫度值作為輸入，將相應(yīng)的各所述歷史狀態(tài)指數(shù)作為輸出，訓(xùn)練得到一初始預(yù)測模型；

步驟S4，所述處理模塊將當(dāng)前時刻的各所述第一耐久值、各所述第二耐久值和所述內(nèi)部溫度值輸入所述輸入所述初始預(yù)測模型，得到一預(yù)測狀態(tài)指數(shù)；