[發(fā)明專利]一種靜止無(wú)功發(fā)生器的電壓故障測(cè)試方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210798769.7 | 申請(qǐng)日: | 2022-07-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115201599A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-10-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳冶;奚魯瑋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 斯鉭博電力科技(杭州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G06F30/20;H02J3/18 |
| 代理公司: | 北京沁優(yōu)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11684 | 代理人: | 楊敏 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州市*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 靜止 無(wú)功 發(fā)生器 電壓 故障測(cè)試 方法 | ||
1.一種靜止無(wú)功發(fā)生器的電壓故障測(cè)試方法,其特征在于,提供交流電網(wǎng)、故障模擬模塊、靜止無(wú)功發(fā)生器、狀態(tài)檢測(cè)模塊和處理模塊,所述故障模擬模塊的輸入端連接所述交流電網(wǎng),所述故障模擬模塊的輸出端連接所述靜止無(wú)功發(fā)生器的輸入端,所述靜止無(wú)功發(fā)生器的輸出端連接所述交流電網(wǎng),所述狀態(tài)檢測(cè)模塊的輸入端分別連接所述靜止無(wú)功發(fā)生器的輸出端和所述故障模擬模塊的輸出端,所述狀態(tài)檢測(cè)模塊的輸出端連接所述處理模塊,所述靜止無(wú)功發(fā)生器的電壓故障測(cè)試方法包括:
步驟S1,所述狀態(tài)檢測(cè)模塊對(duì)所述靜止無(wú)功發(fā)生器內(nèi)部各元器件的耐久度、內(nèi)部溫度、所述靜止無(wú)功發(fā)生器輸出端的無(wú)功電流、所述無(wú)功電流的持續(xù)時(shí)間以及所述故障模擬模塊輸出的故障電壓進(jìn)行檢測(cè),得到若干第一耐久值、若干第二耐久值、內(nèi)部溫度值、無(wú)功電流值、電流持續(xù)時(shí)長(zhǎng)和故障電壓值并保存,各所述第二耐久值、各所述第二耐久值和所述內(nèi)部溫度值均關(guān)聯(lián)有相應(yīng)檢測(cè)時(shí)刻;
步驟S2,所述處理模塊提取所述狀態(tài)檢測(cè)模塊中關(guān)聯(lián)的檢測(cè)時(shí)刻早于當(dāng)前時(shí)刻的若干所述第二耐久值、若干第二耐久值和若干所述內(nèi)部溫度值,以標(biāo)記為若干第一歷史耐久值、若干第二歷史耐久值和若干歷史溫度值,并根據(jù)若干所述第一歷史耐久值和若干所述第二歷史耐久值處理得到同一檢測(cè)時(shí)刻的歷史綜合損耗值,進(jìn)而根據(jù)所述歷史綜合損耗值和所述歷史溫度值處理得到歷史狀態(tài)指數(shù);
步驟S3,所述處理模塊將若干所述第一歷史耐久值、若干所述第二歷史耐久值和若干所述歷史溫度值作為輸入,將相應(yīng)的各所述歷史狀態(tài)指數(shù)作為輸出,訓(xùn)練得到一初始預(yù)測(cè)模型;
步驟S4,所述處理模塊將當(dāng)前時(shí)刻的各所述第一耐久值、各所述第二耐久值和所述內(nèi)部溫度值輸入所述輸入所述初始預(yù)測(cè)模型,得到一預(yù)測(cè)狀態(tài)指數(shù);
步驟S5,所述處理模塊根據(jù)下一檢測(cè)時(shí)刻的各所述第一耐久值、各所述第二耐久值和所述內(nèi)部溫度值處理得到所述靜止無(wú)功發(fā)生器下一檢測(cè)時(shí)刻的實(shí)際狀態(tài)指數(shù),并根據(jù)所述預(yù)測(cè)狀態(tài)指數(shù)和所述實(shí)際狀態(tài)指數(shù)之間的差值對(duì)所述初始預(yù)測(cè)模型進(jìn)行優(yōu)化調(diào)整,得到一優(yōu)化預(yù)測(cè)模型,所述優(yōu)化預(yù)測(cè)模型用于輸出優(yōu)化預(yù)測(cè)狀態(tài)指數(shù);
步驟S6,所述處理模塊根據(jù)所述優(yōu)化預(yù)測(cè)狀態(tài)指數(shù)、所述無(wú)功電流值、所述電流持續(xù)時(shí)長(zhǎng)和所述故障電壓值處理得到當(dāng)前時(shí)刻的穿越指數(shù)并保存,并根據(jù)不同時(shí)刻的所述穿越指數(shù)生成動(dòng)態(tài)延伸的故障穿越折線圖。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜止無(wú)功發(fā)生器的電壓故障測(cè)試方法,其特征在于,所述步驟S2包括:
步驟S21,所述處理模塊根據(jù)預(yù)設(shè)的第一篩選規(guī)則對(duì)若干所述第一歷史耐久值進(jìn)行篩選,得到若干第一篩選數(shù)值,并對(duì)若干所述第一篩選數(shù)值進(jìn)行平均運(yùn)算,得到第一損耗值;
以及根據(jù)預(yù)設(shè)的第二篩選規(guī)則對(duì)若干所述第二歷史耐久值進(jìn)行篩選,得到若干第二篩選數(shù)值,并對(duì)若干所述第二篩選數(shù)值進(jìn)行平均運(yùn)算,得到第二損耗值;
步驟S22,所述處理模塊將所述第一損耗值和所述第二損耗值代入預(yù)設(shè)的第一運(yùn)算公式中,輸出所述綜合損耗值;
步驟S23,所述處理模塊將所述綜合損耗值和所述歷史溫度值代入預(yù)設(shè)的第二運(yùn)算公式中,輸出所述歷史狀態(tài)指數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的靜止無(wú)功發(fā)生器的電壓故障測(cè)試方法,其特征在于:所述第一運(yùn)算公式配置為:
其中,S用于表示所述綜合損耗值;
k1用于表示所述第一損耗值;
k2用于表示所述第二損耗值;
用于表示所述第一損耗值與所述第二損耗值的均值;
n用于表示預(yù)設(shè)常數(shù),該預(yù)設(shè)常數(shù)為正整數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的靜止無(wú)功發(fā)生器的電壓故障測(cè)試方法,其特征在于:所述第二運(yùn)算公式配置為:
H=1/4aT2-bST+3ab;
a+b=10;
其中,H用于表示所述歷史狀態(tài)指數(shù);
a用于表示預(yù)設(shè)的第一常數(shù);
b用于表示預(yù)設(shè)的第二常數(shù);
S用于表示所述綜合損耗值;
T用于表示所述歷史溫度值。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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