[發明專利]一種分級測試性優化的測試集確定方法及系統

有效

• 申請號: 202210746802.1
• 申請日: 2022-06-28
• 公開（公告）號: CN115184055B
• 公開（公告）日: 2023-05-12
• 發明（設計）人: 秦亮;史賢俊;聶新華;肖支才;呂佳朋;王朕
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍海軍航空大學
• 主分類號: G01M99/00
• 分類號: G01M99/00;G01R31/00;G06Q10/04
• 代理公司: 北京高沃律師事務所 11569
• 代理人: 杜陽陽

本發明提供了一種分級測試性優化的測試集確定方法及系統，涉及計算機輔助設計技術領域，對設備進行測試性建模，得到設備測試性模型；基于設備測試性模型對設備進行測試性分析，得到初始故障?測試相關矩陣；對初始故障?測試相關矩陣進行機內測試級優化，得到機內故障?測試相關矩陣；對初始故障?測試相關矩陣進行自動測試級優化，得到自動故障?測試相關矩陣；對初始故障?測試相關矩陣進行人工測試級優化，得到人工故障?測試相關矩陣，進而確定測試集和故障集；本發明通過對初始故障?測試相關矩陣進行機內測試級優化、自動測試級優化和人工測試級優化，對不同測試分別構建測試集和故障集，進而提高測試性優化能力。

技術領域

本發明涉及計算機輔助設計技術領域，特別是涉及一種分級測試性優化的測試集確定方法及系統。

背景技術

測試性(Testability)是指產品能及時準確地確定其狀態(可工作、不可工作或性能下降)并有效地隔離其內部故障的一種設計特性，是設備質量特性的關鍵。測試性設計(Design?forTestability，DFT)是指在產品設計過程中綜合考慮所有的測試資源，如機內測試(Built?inTest，BIT)、自動測試設備(Automatic?TestEquipment，ATE)、人工測試(MT)等，通過周密的計劃保證產品用最小的工作量獲得充分的測試，并且確保測試結果具有較高置信度的一種設計方法。在設備系統測試性設計過程中，由于設備系統性能的提升和復雜性的日益增加，對其進行故障檢測和診斷難度越來越大。為了提高設備測試性水平以及診斷能力，在對設備的故障進行全面分析基礎上通常需要設置大量的測試。但是從滿足設備測試性要求的角度而言，如此多的測試并不具有相同的重要性，存在冗余。因此測試性設計的重要工作之一就是測試優化選擇。

目前飛機、導彈等大型設備的機內測試與外部測試設備的設計基本依賴設計人員的經驗，無統一的方法和流程，更談不上一體化的設計平臺。通常是機內測試設計完成后，產品的定型階段才開始開展外部測試設備設計。甚至機內測試與外部測試設備為兩個部門分開設計，各自相互獨立，導致機內測試與外部測試設備的分工不明確、設計水平差距較大、缺乏科學依據，且不同設計人員的設計水平參差不齊，嚴重制約了設備的測試性設計水平。目前，技術人員通常通過優化測試設備或改進測試性優化方法的來提高設備測試性能，但是，這種優化方式在進行機內測試、自動測試和人工測試均采用設備設計階提供的測試集(包括測試集和故障集)，設備設計階提供的測試集針對每一種測試均存在數據冗余，造成測試性的優化效果低。

發明內容

本發明的目的是提供一種分級測試性優化的測試集確定方法及系統，能夠分別針對機內測試、自動測試和人工測試對測試集進行優化，進而提高測試性優化能力。

為實現上述目的，本發明提供了如下方案：

一種分級測試性優化的測試集確定方法，包括：

對設備進行測試性建模，得到設備測試性模型；

基于所述設備測試性模型對所述設備進行測試性分析，得到初始故障-測試相關矩陣；所述初始故障-測試相關矩陣用于描述設備的故障模式與測試之間的相關性；

對所述初始故障-測試相關矩陣進行機內測試級優化，得到機內故障-測試相關矩陣；

基于所述機內故障-測試相關矩陣，對所述初始故障-測試相關矩陣進行自動測試級優化，得到自動故障-測試相關矩陣；

基于所述自動故障-測試相關矩陣，對所述初始故障-測試相關矩陣進行人工測試級優化，得到人工故障-測試相關矩陣；

根據故障-測試相關完結矩陣，確定測試集和故障集；所述測試集和故障集均用于故障-測試相關完結矩陣的對應測試；所述故障-測試相關完結矩陣包括機內故障-測試相關矩陣、機內故障-測試相關矩陣和機內故障-測試相關矩陣。

可選的，所述初始故障-測試相關矩陣為m×n階0-1矩陣；其中，m表示設備的故障模式總數；n表示設備的測試種類總數；