[發明專利]一種分級測試性優化的測試集確定方法及系統

有效

• 申請號: 202210746802.1
• 申請日: 2022-06-28
• 公開（公告）號: CN115184055B
• 公開（公告）日: 2023-05-12
• 發明（設計）人: 秦亮;史賢俊;聶新華;肖支才;呂佳朋;王朕
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍海軍航空大學
• 主分類號: G01M99/00
• 分類號: G01M99/00;G01R31/00;G06Q10/04
• 代理公司: 北京高沃律師事務所 11569
• 代理人: 杜陽陽

1.一種分級測試性優化的測試集確定方法，其特征在于，包括：

對設備進行測試性建模，得到設備測試性模型；

基于所述設備測試性模型對所述設備進行測試性分析，得到初始故障-測試相關矩陣；所述初始故障-測試相關矩陣用于描述設備的故障模式與測試之間的相關性；

對所述初始故障-測試相關矩陣進行機內測試級優化，得到機內故障-測試相關矩陣；

基于所述機內故障-測試相關矩陣，對所述初始故障-測試相關矩陣進行自動測試級優化，得到自動故障-測試相關矩陣；

基于所述自動故障-測試相關矩陣，對所述初始故障-測試相關矩陣進行人工測試級優化，得到人工故障-測試相關矩陣；

根據故障-測試相關完結矩陣，確定測試集和故障集；所述測試集和故障集均用于故障-測試相關完結矩陣的對應測試；所述故障-測試相關完結矩陣包括機內故障-測試相關矩陣、機內故障-測試相關矩陣和機內故障-測試相關矩陣；

所述對所述初始故障-測試相關矩陣進行機內測試級優化，得到機內故障-測試相關矩陣，包括：

基于所述設備測試性模型，確定對設備進行機內測試時的機內代價矩陣、測試重量矩陣和可靠度矩陣；所述機內代價矩陣用于表述對設備進行機內測試時每種測試的代價；所述測試重量矩陣用于表述對設備進行機內測試時每種測試的測試設備重量；所述可靠度矩陣用于表述對設備進行機內測試時每種測試的測試設備可靠度；

分別確定所述初始故障-測試相關矩陣的行向量陣列和列向量陣列；

確定所述列向量陣列的任一真子集為待定機內列向量組；

確定所述待定機內列向量組的標識向量為第一標識向量；所述第一標識向量為1×n階0-1矩陣；所述第一標識向量中的第j個元素為1時表示所述機內列向量組內包括所述列向量陣列中的第j個列向量；所述第一標識向量中的第j個元素為0時表示所述機內列向量組內不包括所述列向量陣列中的第j個列向量；

根據所述行向量陣列和所述第一標識向量，確定待定機內列向量組的故障檢測率為第一故障檢測率；

根據所述行向量陣列和所述第一標識向量，確定待定機內列向量組的故障隔離率為第一故障隔離率；

根據所述第一標識向量和所述機內代價矩陣，利用公式確定待定機內列向量組的優化系數為第一優化系數；其中，A為第一優化系數；為第一標識向量中的第i個元素；為第一代價矩陣中的第i個元素；

更新所述待定機內列向量組，并返回步驟“確定所述待定機內列向量組的標識向量為第一標識向量”直至遍歷所述列向量陣列所有真子集，得到每個待定機內列向量組的第一優化系數、第一故障檢測率和第一故障隔離率；

構建第一約束條件；

基于所述第一約束條件、所述第一故障檢測率、所述第一故障隔離率、所述測試重量矩陣和所述可靠度矩陣，確定第一優化系數最小的待定機內列向量組為最優待定機內列向量組；

將所述最優待定機內列向量組轉化為矩陣形式，得到機內故障-測試相關待定矩陣；

刪除所述機內故障-測試相關待定矩陣中所有元素均為0的行向量，得到機內故障-測試相關矩陣；

所述基于所述機內故障-測試相關矩陣，對所述初始故障-測試相關矩陣進行自動測試級優化，得到自動故障-測試相關矩陣，包括：

基于所述設備測試性模型，確定對設備進行自動測試時的自動代價矩陣；所述自動代價矩陣用于表述對設備進行自動測試時每種測試的代價；

根據所述機內故障-測試相關矩陣，確定所述列向量陣列的任一真子集為待定自動列向量組；所述機內故障-測試相關矩陣為所述待定自動列向量組的真子集；

確定所述待定自動列向量組的標識向量為第二標識向量；所述第二標識向量為1×n階0-1矩陣；

根據所述行向量陣列和所述第二標識向量，確定待定自動列向量組的故障檢測率為第二故障檢測率；

根據所述行向量陣列和所述第二標識向量，確定待定自動列向量組的故障隔離率為第二故障隔離率；

根據所述第二標識向量和所述自動代價矩陣，利用公式確定待定自動列向量組的優化系數為第二優化系數；其中，B為第二優化系數；為第二標識向量中的第i個元素；為第二代價矩陣中的第i個元素；

更新所述待定自動列向量組，并返回步驟“確定所述待定自動列向量組的標識向量為第二標識向量”直至遍歷所述列向量陣列所有真子集，得到每個待定自動列向量組的第二優化系數、第二故障檢測率和第二故障隔離率；

構建第二約束條件；

基于所述第二約束條件、所述第二故障檢測率和所述第二故障隔離率，確定第二優化系數最小的待定自動列向量組為最優待定自動列向量組；

將所述最優待定自動列向量組轉化為矩陣形式，得到自動故障-測試相關待定矩陣；

刪除所述自動故障-測試相關待定矩陣中所有元素均為0的行向量，得到自動故障-測試相關矩陣；

所述基于所述自動故障-測試相關矩陣，對所述初始故障-測試相關矩陣進行人工測試級優化，得到人工故障-測試相關矩陣，包括：

基于所述設備測試性模型，確定對設備進行人工測試時的人工代價矩陣；所述人工代價矩陣用于表述對設備進行人工測試時每種測試的代價；

根據所述自動故障-測試相關矩陣，確定所述列向量陣列的任一真子集為待定人工列向量組；所述自動故障-測試相關矩陣為所述待定人工列向量組的真子集；

確定所述待定人工列向量組的標識向量為第三標識向量；所述第三標識向量為1×n階0-1矩陣；

根據所述行向量陣列和所述第三標識向量，確定待定人工列向量組的故障檢測率為第三故障檢測率；

根據所述行向量陣列和所述第三標識向量，確定待定人工列向量組的故障隔離率為第三故障隔離率；

根據所述第三標識向量和所述人工代價矩陣，利用公式確定待定人工列向量組的優化系數為第三優化系數；其中，D為第三優化系數；為第三標識向量中的第i個元素；為第三代價矩陣中的第i個元素；

更新所述待定人工列向量組，并返回步驟“確定所述待定人工列向量組的標識向量為第三標識向量”直至遍歷所述列向量陣列所有真子集，得到每個待定人工列向量組的第三優化系數、第三故障檢測率和第三故障隔離率；

構建第三約束條件；

基于所述第三約束條件、所述第三故障檢測率和所述第三故障隔離率，確定第三優化系數最小的待定人工列向量組為最優待定人工列向量組；

將所述最優待定人工列向量組轉化為矩陣形式，得到人工故障-測試相關待定矩陣；

刪除所述人工故障-測試相關待定矩陣中元素均為0的行向量，得到人工故障-測試相關矩陣。