[發明專利]法布里-珀羅標準具表面損耗和介質損耗的估算方法

在審

• 申請號: 202210654968.0
• 申請日: 2022-06-10
• 公開（公告）號: CN115060463A
• 公開（公告）日: 2022-09-16
• 發明（設計）人: 張娜娜;郭永瑞;陳奕寬;袁泰;馬勇;潘武;陳珊珊;楊桓
• 申請（專利權）人: 重慶郵電大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 伍旭偉

本發明公開了一種法布里?珀羅標準具表面損耗和介質損耗的估算方法，在對法布里?珀羅標準具的表面損耗和介質損耗進行確定時，考慮了無介質和有介質填充時損耗對法布里?珀羅標準具透過率峰值大小的影響，建立無介質填充時的法布里?珀羅標準具的透過率峰值與表面損耗之間滿足的第一函數關系式和有介質填充的法布里?珀羅標準具的透過率峰值與表面損耗及介質損耗之間滿足的第二函數關系式；通過測量無介質填充的法布里?珀羅標準具的透過率峰值確定表面損耗的大小；通過測量有介質填充的法布里?珀羅標準具的透過率峰值大小進一步確定介質損耗的大小；適用于多種介質填充的法布里?珀羅標準具；測試過程簡單，有利于法布里?珀羅標準具的損耗的估算。

技術領域

本發明涉及光學技術領域，具體涉及一種法布里-珀羅標準具表面損耗和介質損耗的估算方法。

背景技術

法布里-珀羅標準具作為一種重要的器件，被廣泛應用于光學濾波、測風激光雷達、高光譜激光雷達、測溫激光雷達、長度測量以及超精細光譜結構等領域的研究，但是在使用法布里-珀羅標準具時，一般都認為法布里-珀羅標準具是理想的標準具，而標準具的損耗會直接影響其透射性能以及精細度的大小，目前現有技術尚未提出一種法布里-珀羅標準具表面損耗和介質損耗的估算方法。在實際實驗當中，由于無法對法布里-珀羅標準具的表面損耗和介質損耗進行估算，故將實驗損耗歸結于其他實驗裝置。對法布里-珀羅標準具的表面損耗和介質損耗對標準具的表面及介質損耗進行估算有助于高性能法布里-珀羅標準具的制備。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是在使用法布里-珀羅標準具進行測量時，無法獲得法布里-珀羅標準具在測量過程中的表面損耗和介質損耗，導致認為測量結果理想，目的在于提供一種法布里-珀羅標準具表面損耗和介質損耗的估算方法，通過考慮損耗對標準具透過率峰值大小的影響，建立無介質填充時的法布里-珀羅標準具的透過率峰值與表面損耗之間滿足的第一函數關系式對表面損耗進行確定，建立有介質填充的法布里-珀羅標準具的透過率峰值與表面損耗及介質損耗之間滿足的第二函數關系式對介質損耗進行確定。

本發明通過下述技術方案實現：

一種法布里-珀羅標準具表面損耗和介質損耗的估算方法，包括以下具體步驟：

S10、獲取法布里-珀羅標準具的透過率T_t，根據透過率T_t獲取透過率峰值T_max；

S20、根據步驟S10獲取的透過率T_t和透過率峰值T_max建立無介質填充時的法布里-珀羅標準具的透過率峰值與表面損耗之間滿足的第一函數關系式；

S30、根據第一函數關系式，建立有介質填充的法布里-珀羅標準具的透過率峰值與表面損耗及介質損耗之間滿足的第二函數關系式；

S40、獲取無介質填充的標準具的透過率峰值T_max1的實驗測量值，代入第一函數關系式中計算得到標準具的表面損耗γ；

S50、獲取有介質填充的標準具的透過率峰值T_max2的實驗測量值和步驟S40中計算得到的標準具的表面損耗γ，代入第二函數關系式中計算得到標準具的介質損耗α。

本發明在對法布里-珀羅標準具的表面損耗和介質損耗進行確定時，考慮了無介質和有介質填充時損耗對法布里-珀羅標準具透過率峰值大小的影響，在對法布里-珀羅標準具的表面損耗和介質損耗進行確定時，建立了無介質填充時的法布里-珀羅標準具的透過率峰值與表面損耗之間滿足的第一函數關系式；在對法布里-珀羅標準具的表面損耗和介質損耗進行確定時，建立了有介質填充的法布里-珀羅標準具的透過率峰值與表面損耗及介質損耗之間滿足的第二函數關系式；通過測量無介質填充的法布里-珀羅標準具的透過率峰值確定表面損耗的大小；通過測量有介質填充的法布里-珀羅標準具的透過率峰值大小進一步確定介質損耗的大小；本方法適用于多種介質填充的法布里-珀羅標準具；對損耗的估算過程僅需對透過率進行測量，測試過程簡單。