[發(fā)明專利]刺激線圈磁場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)及方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210613570.2
• 申請(qǐng)日: 2022-06-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114895226A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-08-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 嚴(yán)瀟;武小濤;李想;孫傳鑄
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州腦控腦科學(xué)技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R33/10
• 分類號(hào): G01R33/10;A61N2/02
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種刺激線圈磁場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)包括機(jī)械臂裝置，磁場(chǎng)測(cè)量裝置及捕獲裝置。其中，捕獲裝置獲取磁場(chǎng)測(cè)量裝置的空間位姿，然后通過(guò)機(jī)械臂控制刺激線圈走位到預(yù)設(shè)的測(cè)試點(diǎn)上，并在刺激線圈發(fā)射電磁脈沖時(shí)，采集器控制磁場(chǎng)測(cè)量單元采集各個(gè)測(cè)試點(diǎn)上的磁場(chǎng)值，然后基于各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的磁場(chǎng)值，獲取刺激線圈的磁場(chǎng)分布。本發(fā)明實(shí)施例該方法，由于機(jī)械臂走位的空間精度高，獲取的磁場(chǎng)分布空間位置誤差小。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明實(shí)施例涉及醫(yī)療設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種刺激線圈磁場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

磁刺激是一種利用脈沖磁場(chǎng)作用于中樞神經(jīng)系統(tǒng)，改變皮質(zhì)神經(jīng)細(xì)胞的膜電位，使之產(chǎn)生感應(yīng)電流，影響腦內(nèi)代謝和神經(jīng)電活動(dòng)，從而引起一系列生理生化反應(yīng)的非侵入式的研究和治療方法。磁刺激可以作用于大腦，也可以作用于外周神經(jīng)，作用于大腦的磁刺激稱為經(jīng)顱磁刺激（Transcranial Magnetic Stimulation, TMS）。

實(shí)施更精準(zhǔn)的刺激強(qiáng)度，更科學(xué)的刺激劑量，是提升磁刺激治療效果，提供標(biāo)準(zhǔn)化治療方案的必要手段，而磁刺激的可量化是精準(zhǔn)刺激與精準(zhǔn)劑量的前提。磁刺激系統(tǒng)通常由脈沖發(fā)生器、控制器和刺激線圈組成，其中，刺激線圈所激發(fā)磁場(chǎng)的強(qiáng)度分布、對(duì)稱性等特性，對(duì)磁刺激的量化具有重要意義。

現(xiàn)有技術(shù)中，由于空間測(cè)試精度有限，測(cè)量刺激線圈磁場(chǎng)的誤差較大。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供一種刺激線圈磁場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)及方法，以克服現(xiàn)有技術(shù)測(cè)量誤差較大的缺陷。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種刺激線圈磁場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：

機(jī)械臂裝置，包括機(jī)械臂，和固定于機(jī)械臂末端的刺激線圈；所述機(jī)械臂用于控制所述刺激線圈移動(dòng)到目標(biāo)位姿；

磁場(chǎng)測(cè)量裝置，包括支架，固定于所述支架上的第一示蹤標(biāo)記，固定于所述支架上的磁場(chǎng)測(cè)量單元，以及與所述磁場(chǎng)測(cè)量單元連接的采集器；所述第一示蹤標(biāo)記用于被捕獲裝置識(shí)別；所述采集器用于控制所述磁場(chǎng)測(cè)量單元采集空間磁場(chǎng)值；

所述捕獲裝置，用于捕獲所述磁場(chǎng)測(cè)量裝置的空間位姿。

可選地，所述磁場(chǎng)測(cè)量單元包括磁場(chǎng)測(cè)量芯片組。

可選地，所述磁場(chǎng)測(cè)量單元包括若干套磁場(chǎng)測(cè)量芯片組。

可選地，所述機(jī)械臂末端固定有第二示蹤標(biāo)記，所述捕獲裝置還用于捕獲所述刺激線圈的空間位姿。

第二方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種刺激線圈磁場(chǎng)測(cè)量方法，所述方法應(yīng)用于刺激線圈磁場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)，所述方法包括：

獲取磁場(chǎng)測(cè)量裝置的空間位姿；

循環(huán)執(zhí)行n次如下步驟，所述n表征：刺激線圈的測(cè)試點(diǎn)集中測(cè)試點(diǎn)的個(gè)數(shù)，所述n為大于或等于1的整數(shù)；

在第i次循環(huán)中，控制所述刺激線圈移動(dòng)到第i個(gè)測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)位姿；

在第i次循環(huán)中，在所述刺激線圈實(shí)施磁刺激時(shí)，采集器控制磁場(chǎng)測(cè)量單元測(cè)量第i個(gè)測(cè)試點(diǎn)的空間磁場(chǎng)值；

根據(jù)獲取的測(cè)試點(diǎn)集的空間磁場(chǎng)值，獲取所述刺激線圈的磁場(chǎng)分布。

可選地，所述根據(jù)獲取的測(cè)試點(diǎn)集的空間磁場(chǎng)值，獲取所述刺激線圈的磁場(chǎng)，具體包括：

將每個(gè)測(cè)試點(diǎn)測(cè)量的多個(gè)空間磁場(chǎng)值的平均值，作為該測(cè)試點(diǎn)的空間磁場(chǎng)值，獲取所述刺激線圈的磁場(chǎng)分布。