[發明專利]光學玻璃基板研磨不均的缺陷檢測方法

在審

• 申請號: 202210610385.8
• 申請日: 2022-05-31
• 公開（公告）號: CN114923932A
• 公開（公告）日: 2022-08-19
• 發明（設計）人: 李陽;金虎范;周陽強
• 申請（專利權）人: 青島融合智能科技有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958;G01N21/88;G01N21/01
• 代理公司: 青島發思特專利商標代理有限公司 37212
• 代理人: 張灑灑

本發明公開了一種光學玻璃基板研磨不均的缺陷檢測方法，屬于玻璃基板技術領域。其技術方案為：包括以下步驟：1)將光學玻璃基板放置在玻璃支架上；2)打開光源調整亮度，光透過光學玻璃基板投射至白色背景上；3)對投射到白色背景上的圖像進行分析，判斷出光學玻璃基板上是否存在研磨不均的缺陷。本發明有效解決了光學玻璃基板磨削不均無法有效檢測的問題，在不損害光學玻璃基板產品表面質量的狀況下，快速完成缺陷檢測判定。

技術領域

本發明涉及玻璃基板技術領域，具體涉及一種光學玻璃基板研磨不均的缺陷檢測方法。

背景技術

光學玻璃基板生產包括熱端成型或再加熱成型技術，在此過程中玻璃基板表面接觸錫液、傳送輥輪、顆粒、石墨模具等物質，造成劃傷、臟污、凹凸點等缺陷，因此需要對光學玻璃基板表面進行研磨、拋光來獲取高質量的玻璃表面。光學玻璃基板表面研磨是一種機械化學拋光法，采用研磨液(氧化鈰、碳酸鈣等)與玻璃基板表面水解生成硅酸凝膠層，并用研磨液中的磨料與研磨墊進行機械磨削作用來達到玻璃基板表面精加工的作用。如劃傷、臟污、欠點等普通研磨缺陷通過強光配合人眼或設備即可準確檢出判斷，但研磨導致玻璃板面磨削不均造成顯示屏光線透過出現不良的問題亟需一種快速有效的檢驗方法來解決。

發明內容

本發明要解決的技術問題是：克服現有技術的不足，提供一種光學玻璃基板研磨不均的缺陷檢測方法，有效解決了光學玻璃基板磨削不均無法有效檢測的問題，在不損害光學玻璃基板產品表面質量的狀況下，快速完成缺陷檢測判定。

本發明的技術方案為：

光學玻璃基板研磨不均的缺陷檢測方法，包括以下步驟：

1)將光學玻璃基板放置在玻璃支架上；

2)打開光源調整亮度，光透過光學玻璃基板投射至白色背景上；

3)對投射到白色背景上的圖像進行分析，判斷出光學玻璃基板上是否存在研磨不均的缺陷。

優選地，步驟3)中，具體分析方式為：檢測人員觀察白色背景是否存在豎向或弧線狀印記，若存在則說明光學玻璃基板上存在研磨不均的缺陷，否則不存在缺陷。

優選地，步驟3)中，具體分析方式為：玻璃支架上方放置CCD鏡頭，對白色背景上的成像進行圖片信息收集，然后對收集到的圖像進行像素灰階判定。

優選地，所述CCD鏡頭采用單個像素為7-10μm的廣角線性CCD鏡頭。

優選地，所述光源采用氙燈。

優選地，所述玻璃支架距幕布0.5-1m。

優選地，白色背景處檢測照度大于80LUX。

優選地，所述玻璃支架采用可旋轉的玻璃支架。

優選地，所述白色背景采用白色幕布。

本發明與現有技術相比，具有以下有益效果：

本發明可實現快速對光學玻璃基板表面研磨不均缺陷的檢查判定，有效解決了光學玻璃基板磨削不均無法有效檢測的問題。且在此過程中不會觸碰到玻璃基板表面，從而實現了在不損害光學玻璃基板產品表面質量的狀況下，快速完成缺陷檢測判定。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，對于本領域普通技術人員而言，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發明的結構示意圖。

圖2是本發明的流程圖。

圖中，1-光源、2-光學玻璃基板、3-白色背景。

具體實施方式