[發明專利]人臉圖像質量評估方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202210577984.4
• 申請日: 2022-05-25
• 公開（公告）號: CN114881995A
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發明（設計）人: 詹建勛
• 申請（專利權）人: 廣州市奧威亞電子科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06V40/16
• 代理公司: 北京竟易和專利代理事務所(特殊普通合伙) 16103
• 代理人: 李欣迎

1.一種人臉圖像質量評估方法，其特征在于，包括步驟：

獲取待評估的人臉圖像的人臉關鍵點區域和所述人臉圖像經過顯著性檢測后得到的顯著圖；

通過預設的統計模型，分別對所述顯著圖和所述顯著圖中的人臉關鍵點區域進行統計，得到第一統計結果和第二統計結果；

基于所述第一統計結果和所述第二統計結果，得到第一人臉質量評分。

2.根據權利要求1所述的人臉圖像質量評估方法，其特征在于，所述預設的統計模型是對數值大于預設閾值的像素點的值進行求和。

3.根據權利要求1所述的人臉圖像質量評估方法，其特征在于，所述預設的統計模型是通過能量函數統計能量值。

4.根據權利要求1所述的人臉圖像質量評估方法，其特征在于，所述基于所述第一統計結果和所述第二統計結果，得到第一人臉質量評分的過程，包括步驟：

基于所述第二統計結果與所述第一統計結果之間的比值，得到第一人臉質量評分。

5.根據權利要求1所述的人臉圖像質量評估方法，其特征在于，所述基于所述第一統計結果和所述第二統計結果，得到第一人臉質量評分的過程，包括步驟：

獲取第二統計結果中各人臉關鍵點區域的統計結果；

基于所述各人臉關鍵點區域的統計結果，計算人臉關鍵點區域的統計方差；

基于所述第二統計結果和所述統計方差之間的差值與所述第一統計結果的比，得到第一人臉質量評分。

6.根據權利要求1所述的人臉圖像質量評估方法，其特征在于，所述基于所述第一統計結果和所述第二統計結果，得到第一人臉質量評分的過程還基于所述顯著圖的標準差與平均值之間的比值。

7.根據權利要求1所述的人臉圖像質量評估方法，其特征在于，還包括步驟：

獲取待評估的人臉圖像的人臉檢測置信度得分；

基于所述第一人臉質量評分與人臉檢測置信度得分，得到第二人臉質量評分。

8.一種人臉圖像質量評估裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取待評估的人臉圖像的人臉關鍵點區域和所述人臉圖像經過顯著性檢測后得到的顯著圖；

統計模塊，用于通過預設的統計模型，分別對所述顯著圖和所述顯著圖中的人臉關鍵點區域進行統計，得到第一統計結果和第二統計結果；

評估模塊，用于基于所述第一統計結果和所述第二統計結果，得到第一人臉質量評分。

9.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1-7中任一所述的方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現如權利要求1-7中任一所述的方法。