[發明專利]一種壽命估算方法及其裝置和空調器、可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202210575703.1
• 申請日: 2022-05-24
• 公開（公告）號: CN114992769A
• 公開（公告）日: 2022-09-02
• 發明（設計）人: 張志堅;斯建;肖宏利
• 申請（專利權）人: 寧波奧克斯電氣股份有限公司;奧克斯空調股份有限公司
• 主分類號: F24F11/30
• 分類號: F24F11/30;F24F11/64;F24F11/61
• 代理公司: 浙江中桓凱通專利代理有限公司 33376
• 代理人: 劉瀟

本發明提供了一種空調外機控制器的壽命估算方法、一種空調外機控制器的壽命估算裝置、一種空調器以及一種可讀存儲介質，空調外機控制器的壽命估算方法包括：檢測空調器外機內多個半導體件的失效率λ；將所述多個半導體件的失效率λ相加求和得總失效率λz；通過總失效率λz得到空調外機控制器的壽命t，其中，t＝1/λz。本發明實施例提高了空調外機控制器的壽命估算方法的精確度。

技術領域

本發明涉及空調器技術領域，具體而言，涉及一種空調外機控制器的壽命估算方法、一種空調外機控制器的壽命估算裝置、一種空調器以及一種可讀存儲介質。

背景技術

隨著半導體器件的快速發展，越來越多的電子產品出現在人們的日常生活當中，但是，如何準備評估電子產品的可靠性，降低產品的故障率，卻成為很多公司的一大技術難題。

目前，國內很多研究所、大學對與電子產品可靠性的研究還是停留在單個半導體器件的研究上，他們一般是通過加速壽命試驗來計算出某個半導體器件的加速因子，然后通過相關計算公式估算出此器件的壽命。而空調外機控制器所包含的半導體器件較多，顯然用這種方法來估算空調外機控制器的壽命不太合理。因此研究出一種適用于空調外機控制器的壽命估算方法就變得有意義了。

發明內容

因此，本發明實施例提供一種空調外機控制器的壽命估算方法，提高了空調外機控制器的壽命估算方法的精確度。

為解決上述問題，本發明提供一種空調外機控制器的壽命估算方法，包括：檢測空調器外機內多個半導體件的失效率λ；將所述多個半導體件的失效率λ相加求和得總失效率λz；通過總失效率λz得到空調外機控制器的壽命t，其中，t＝1/λz。

與現有技術相比，采用該技術方案所達到的技術效果：由于空調器控制器在長時間使用后大部分失效的原因都是半導體器件失效導致，因此本發明通過檢測空調器外機內的多個半導體件的失效率λ，將多個半導體件的失效率λ相加求和得總失效率λz，且空調外機控制器的壽命t＝1/λz，通過多個半導體件的失效率λ累加，進而得到的空調外機控制器的壽命可靠性較高。

在本發明的一個實例中，所述檢測空調器內多個半導體件的失效率λ具體包括：將空調器置于室內于第一預設溫度T1下運行第一預設時間t1；記錄所述多個半導體件的表面溫度以及電氣參數；其中，通過所述多個半導體件的表面溫度以及電氣參數計算得到所述多個半導體件的失效率λ。

與現有技術相比，采用該技術方案所達到的技術效果：通過將空調器置于室內于第一預設溫度T1下運行第一預設時間t1將多個半導體件的表面溫度以及電氣參數進行記錄，從而得到的半導體件的參數更加精確，再通過多個半導體件的表面溫度以及電氣參數計算得到多個半導體件的失效率λ，從而使半導體件的失效率λ也相對精確。

在本發明的一個實例中，所述多個半導體件包括：風機IPM、壓縮機IPM、開關電源芯片、IGBT、單片機、整流橋以及功率二極管中的任意多個。

與現有技術相比，采用該技術方案所達到的技術效果：風機IPM、壓縮機IPM、開關電源芯片、IGBT、單片機、整流橋以及功率二極管均為空調外機控制器中較為容易失效的半導體件，因此通過檢測風機IPM、壓縮機IPM、開關電源芯片、IGBT、單片機、整流橋以及功率二極管中的任意多個得到的空調外機控制器的壽命相對精確。