[發明專利]一種壽命估算方法及其裝置和空調器、可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202210575703.1
• 申請日: 2022-05-24
• 公開（公告）號: CN114992769A
• 公開（公告）日: 2022-09-02
• 發明（設計）人: 張志堅;斯建;肖宏利
• 申請（專利權）人: 寧波奧克斯電氣股份有限公司;奧克斯空調股份有限公司
• 主分類號: F24F11/30
• 分類號: F24F11/30;F24F11/64;F24F11/61
• 代理公司: 浙江中桓凱通專利代理有限公司 33376
• 代理人: 劉瀟

1.一種空調外機控制器的壽命估算方法，其特征在于，包括：

檢測空調器外機內多個半導體件的失效率λ；

將所述多個半導體件的失效率λ相加求和得總失效率λz；

通過總失效率λz得到空調外機控制器的壽命t，其中，t＝1/λz。

2.根據權利要求1所述的空調外機控制器的壽命估算方法，其特征在于，所述檢測空調器內多個半導體件的失效率λ具體包括：

將空調器置于室內于第一預設溫度T1下運行第一預設時間t1；

記錄所述多個半導體件的表面溫度以及電氣參數；

其中，通過所述多個半導體件的表面溫度以及電氣參數計算得到所述多個半導體件的失效率λ。

3.根據權利要求1所述的空調外機控制器的壽命估算方法，其特征在于，所述多個半導體件包括：

風機IPM、壓縮機IPM、開關電源芯片、IGBT、單片機、整流橋以及功率二極管中的任意多個。

4.根據權利要求3所述的空調外機控制器的壽命估算方法，其特征在于，

所述風機IPM的失效率λ1＝πQ×[C1×πT×πV+(C2+C3)×πE]×πL+6×(λb×πE×πQ×πA×πC×πK×πr)；

所述壓縮機IPM的失效率λ2＝πQ×[C1×πT×πV+(C2+C3)×πE]×πL+6×(λb×πE×πQ×πA×πC×πK×πr)；

所述開關電源芯片的失效率λ3＝πQ×[C1×πT×πV+(C2+C3)×πE]×πL+λb×πE×πQ×πA×πC×πK×πr；

所述IGBT的失效率λ4＝λb×πE×πQ×πA×πC×πK×πr；

所述單片機的失效率λ5＝πQ×[C1×πT×πV+(C2+C3)×πE]×πL；

其中，πQ為質量系數，C1和C2為芯片復雜度，πT為溫度應力系數，πV為供電壓力系數，C3為芯片封裝復雜度，πE為環境系數，πL為成熟系數，λb為基本失效率，πA為應用系數，πC為結構系數，πK為種類系數，πr為額定系數。

5.根據權利要求3所述的空調外機控制器的壽命估算方法，其特征在于，

所述整流橋的失效率λ6＝4×(λb×πE×πQ×πr×πA×πS2×πC)；

所述功率二極管的失效率λ7＝λb×πE×πQ×πr×πA×πS2×πC；

其中，λb為基本失效率，πE為環境系數，πQ為質量系數，πr為額定系數，πA為應用系數，πS2為電壓應力系數，πC為結構系數。

6.根據權利要求3所述的空調外機控制器的壽命估算方法，其特征在于，

當空調外機控制器在環境正常情況下工作時，檢測所述風機IPM、所述壓縮機IPM、所述IGBT、所述整流橋以及所述功率二極管的失效率之和結合進行計算空調外機控制器的壽命。

7.根據權利要求3所述的空調外機控制器的壽命估算方法，其特征在于，

當空調外機控制器在環境惡劣情況下工作時，檢測所述風機IPM、所述壓縮機IPM、所述開關電源芯片、所述IGBT、所述單片機、所述整流橋以及所述功率二極管的失效率之和結合進行計算空調外機控制器的壽命。

8.一種空調外機控制器的壽命估算裝置，其特征在于，包括：

檢測模塊，所述檢測模塊用于檢測空調器外機內多個半導體件的失效率λ；

計算模塊，所述計算模塊將所述多個半導體件的失效率λ相加求和得總失效率λz，并通過總失效率λz求得空調外機控制器的壽命t，且t＝1/λz。

9.一種空調器，其特征在于，包括：處理器，存儲器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的程序或指令，所述程序或指令被所述處理器執行時實現如權利要求1-7中任一項所述的空調外機控制器的壽命估算方法的步驟。

10.一種可讀存儲介質，其特征在于，所述可讀存儲介質包括存儲的計算機程序，其中，在所述計算機程序被處理器運行時控制所述存儲介質所在設備執行如權利要求1-7任意一項所述的空調外機控制器的壽命估算方法的步驟。