[發明專利]一種機械校正方法、裝置、電子設備、系統及存儲介質

在審

• 申請號: 202210570765.3
• 申請日: 2022-05-24
• 公開（公告）號: CN114963928A
• 公開（公告）日: 2022-08-30
• 發明（設計）人: 余文聰
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技股份有限公司
• 主分類號: G01B5/004
• 分類號: G01B5/004;G01B5/02;A61B6/00
• 代理公司: 武漢智嘉聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231
• 代理人: 李平麗

1.一種機械校正方法，其特征在于，包括如下步驟：

建立以預設位置為原點的工作坐標系，獲取待校正機械在所述工作坐標系下的參考坐標點；

獲取所述待校正機械運動至第一方向上的極限位置時，所述待校正機械的第一方向上的極限位置與所述參考坐標點之間的距離以及所述待校正機械的偏移角度；

根據所述參考坐標點、所述待校正機械的第一方向上的極限位置與所述參考坐標點之間的距離以及所述待校正機械的偏移角度，計算出所述待校正機械的第一方向上的極限位置在工作坐標系下的實際坐標；

根據所述參考坐標點以及所述實際坐標，確定所述待校正機械的第一方向上的極限位置與所述參考坐標點在第一方向上的距離。

2.根據權利要求1所述的機械校正方法，其特征在于，所述參考坐標點為所述待校正機械的初始位置在所述工作坐標系下的初始坐標。

3.根據權利要求1或2所述的機械校正方法，其特征在于，所述預設位置為所述待校正機械的初始位置。

4.根據權利要求1所述的機械校正方法，其特征在于，所述偏移角度包括所述待校正機械的第一方向上的極限位置和參考坐標點之間的連線與所述工作坐標系的各個坐標軸之間的夾角。

5.根據權利要求1所述的機械校正方法，其特征在于，所述獲取所述待校正機械運動至第一方向上的極限位置時，所述待校正機械的第一方向上的極限位置與所述參考坐標點之間的距離，包括：

獲取所述待校正機械位于參考坐標點時，待校正機械配置的距離傳感器檢測的第一距離值；

獲取所述待校正機械位于第一方向上的極限位置時，待校正機械配置的距離傳感器檢測的第二距離值；

通過第一距離值和第二距離值，獲取所述待校正機械的第一方向上的極限位置與參考坐標點之間的距離。

6.根據權利要求4所述的機械校正方法，其特征在于，所述根據所述參考坐標點、所述待校正機械的第一方向上的極限位置與所述參考坐標點之間的距離以及所述待校正機械的偏移角度，計算出所述待校正機械的第一方向上的極限位置在工作坐標系下的實際坐標，包括：

根據所述參考坐標點、所述待校正機械的第一方向上的極限位置與所述參考坐標點之間的距離以及所述待校正機械的偏移角度，分別計算出所述待校正機械的第一方向上的極限位置在所述工作坐標系下的各個方向上的坐標值，以得到所述待校正機械的第一方向上的極限位置在工作坐標系下的實際坐標。

7.一種機械校正裝置，其特征在于，包括：

坐標系建立模塊，用于建立以預設位置為原點的工作坐標系，獲取待校正機械在所述工作坐標系下的參考坐標點；

數據獲取模塊，用于獲取所述待校正機械運動至第一方向上的極限位置時，所述待校正機械的第一方向上的極限位置與所述參考坐標點之間的距離以及所述待校正機械的偏移角度；

坐標計算模塊，用于根據所述參考坐標點、所述待校正機械的第一方向上的極限位置與所述參考坐標點之間的距離以及所述待校正機械的偏移角度，計算出所述待校正機械的第一方向上的極限位置在工作坐標系下的實際坐標；

極限位置確定模塊，用于根據所述參考坐標點以及所述實際坐標，確定所述待校正機械的第一方向上的極限位置與所述參考坐標點在第一方向上的距離。

8.一種電子設備，其特征在于，包括：處理器、存儲器及顯示器；

所述存儲器上存儲有可被所述處理器執行的計算機可讀程序；

所述處理器執行所述計算機可讀程序時實現如權利要求1-6任意一項所述的機械校正方法中的步驟；

所述顯示器用于顯示可視化界面。

9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有一個或者多個程序，所述一個或者多個程序可被一個或者多個處理器執行，以實現如權利要求1-6任意一項所述的機械校正方法中的步驟。

10.一種機械校正系統，其特征在于，包括距離傳感器、角度傳感器以及如權利要求8所述的電子設備，所述距離傳感器和角度傳感器均安裝于所述待校正機械上，所述距離傳感器和角度傳感器與所述電子設備電連接。