[發明專利]基于太赫茲的多層膜厚測量方法及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202210566605.1
• 申請日: 2022-05-23
• 公開（公告）號: CN114964014A
• 公開（公告）日: 2022-08-30
• 發明（設計）人: 張逸竹;曲秋紅;何明霞
• 申請（專利權）人: 天津大學四川創新研究院;萊儀特太赫茲（天津）科技有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 北京天下創新知識產權代理事務所(普通合伙) 16044
• 代理人: 任崇

本發明提供了一種基于太赫茲的多層膜厚測量方法及可讀存儲介質，屬于鍍膜厚度檢測的技術領域，解決了現有技術在對較薄的多層鍍膜進行測厚時存在運算速度較慢、測量效率較低的問題。一種基于太赫茲的多層膜厚測量方法，包括：獲取數據的時域信號；調整窗濾波器的窗范圍，得到最優窗濾波器；利用最優窗濾波器對數據的時域信號進行窗濾波，得到濾波后的時域信號；對濾波后的時域信號進行傅里葉變換，得到數據的頻譜信號；判斷最優窗濾波器是否移動到時域信號結束位置；若否，則最優窗濾波器移動到下一個駐點位置，返回利用最優窗濾波器對數據的時域信號進行窗濾波，得到濾波后的時域信號的步驟。

技術領域

本發明涉及鍍膜厚度檢測技術領域，尤其是涉及一種基于太赫茲的多層膜厚測量方法及可讀存儲介質。

背景技術

鍍膜是汽車、船舶、航空制造等行業必不可少的工藝步驟。在涂裝生產過程中，油漆系統一般是包括底漆、中涂、色漆、清漆的多層結構，噴涂過程繁瑣，監測工藝復雜。鍍膜厚度是涂裝質量最重要的控制因素之一，會直接影響到產品的防腐、防銹、美觀等性能。隨著涂裝技術和現代工業的快速發展，工業化程度不斷提高，涂層質量的控制有著更高的要求和更多的需求。傳統涂層測厚技術有磁感應測厚法、渦流測厚法、超聲測厚法、射線測厚法等。傳統涂層測厚技術在實際應用中存在著一些缺陷，例如具有輻射性、無法識別多涂層的單層厚度、非接觸式無法識別涂層缺陷、不能實時快速在線檢測等。太赫茲測厚度技術能夠完成非接觸式的無損檢測，對人體安全無輻射，相比于傳統涂層測厚技術具有明顯優勢。

目前，在太赫茲測厚度技術中對于獨立脈沖信號明顯的膜層采用時域上的觀測，通過飛行時間差原理計算樣品厚度。但測量膜層厚度較薄的產品時，往往無法分辨出獨立的脈沖信號，并且對于多層鍍膜，且每層鍍膜厚度都較薄的情況下，更是難以進行準確判斷脈沖間隔，需要借助復雜的迭代算法，運算速度較慢，進而導致測量困難，測量效率較低。

因此，現有技術在對較薄的多層鍍膜進行測厚時存在運算速度較慢、測量效率較低的問題。

發明內容

本發明的目的在于提供基于太赫茲的多層膜厚測量方法及可讀存儲介質，以緩解現有技術在對較薄的多層鍍膜進行測厚時存在運算速度較慢、測量效率較低的技術問題。

第一方面，本發明提供的一種基于太赫茲的多層膜厚測量方法，包括：

獲取數據的時域信號；

調整窗濾波器的窗范圍，得到最優窗濾波器；

利用最優窗濾波器對數據的時域信號進行窗濾波，得到濾波后的時域信號；

對濾波后的時域信號進行傅里葉變換，得到數據的頻譜信號；

判斷最優窗濾波器是否移動到時域信號結束位置；

若否，則最優窗濾波器移動到下一個駐點位置，返回利用最優窗濾波器對數據的時域信號進行窗濾波，得到濾波后的時域信號的步驟；

若是，則生成數據的頻譜信號集合；

根據數據的頻譜信號集合生成頻譜集合強度圖；

根據頻譜集合強度圖，得到目標層頻域間隔；

根據目標層頻域間隔計算目標層厚度值；

刪除濾波后的時域信號中的首個脈沖，得到數據的時域信號；

重復以上步驟，直到獲得預設個數的目標層厚度值，輸出預設個數的目標層厚度值。

進一步的，獲取數據的時域信號的步驟之前，還包括：

設置目標層厚度值的個數為N＝0；

所述根據目標層頻域間隔計算目標層厚度值的步驟之后，還包括：

目標層厚度值的個數N＝N+1；