[發明專利]光學調整裝置、光學調整方法以及光器件

在審

• 申請號: 202210500829.2
• 申請日: 2022-05-09
• 公開（公告）號: CN115371575A
• 公開（公告）日: 2022-11-22
• 發明（設計）人: 古田寬和;鐮谷淳一;白石龍朗
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14;G02B6/30;G02B6/38
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 齊秀鳳

本公開提供一種光學調整裝置、光學調整方法以及光器件。光學調整裝置具備：測定光照射部，具有多個第2光纖，經由多個第2光纖將具有單一波長的多個光在相互不同的定時射出；光纖塊，對第1光纖以及多個第2光纖的射出側端部進行保持；光檢測部，經由多個第2光纖對多個反射光進行受光并進行檢測；傾斜度計算部，對多個反射光中的每個反射光的強度的時間變化相互進行比較，計算光纖塊相對于光學基板的傾斜度；和距離計算部，基于至少1個強度的時間變化來計算光學基板與光纖塊的端面間距離。

技術領域

本發明涉及光學調整裝置、光學調整方法以及光器件。

背景技術

在將光纖相對于保持光纖的基板或形成有波導的基板等連接目標的光器件的光學基板進行連接時，對光纖的光軸進行調整以使得在光學基板的核心中傳播的光的強度成為最大。

一邊使光纖的射出端面接近光學基板的入射端面一邊進行光纖的光軸的調整。若光纖的射出端面與光學基板的入射端面接觸，則存在光纖以及光學基板的各端面損傷的擔擾。這些端面的損傷會導致從光纖向光學基板的光的傳播效率的下降。

由此，為了避免光纖與光學基板的接觸，一邊測定光纖與光學基板的端面間距離一邊進行光纖的光軸調整。

在專利文獻1中公開了如下的距離測定裝置：從光纖朝向連接目標的光學基板射出波長不同的光，測定來自光學基板的反射光的強度，基于測定出的反射光強度的波長依賴性來計算光纖與光學基板的端面間距離。

在先技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2014-228444號公報

發明內容

本公開的一方式涉及的光學調整裝置是在將第1光纖與連接目標的光學基板連接時使用的光學調整裝置，具備：測定光照射部，具有多個第2光纖，經由所述多個第2光纖將具有單一波長的多個光在相互不同的定時射出；光纖塊，對所述第1光纖以及所述多個第2光纖的射出側端部進行保持；光檢測部，經由所述多個第2光纖對由所述光學基板的基板端面反射的與所述多個光對應的多個反射光進行受光并進行檢測；傾斜度計算部，對所述多個反射光中的每個反射光的強度的時間變化相互進行比較，基于比較結果來計算所述光纖塊相對于所述光學基板的傾斜度；和距離計算部，基于所述多個反射光之中至少1個反射光的強度的時間變化，計算所述光學基板與所述光纖塊的端面間距離。

本公開的一方式涉及的光學調整方法是在將第1光纖與連接目標的光學基板連接時進行的光學調整方法，在該光學調整方法中，通過光纖塊對所述第1光纖以及測定用的多個第2光纖的射出側端部進行保持，經由所述多個第2光纖將具有單一波長的多個光在相互不同的定時射出，經由所述多個第2光纖對由所述光學基板的基板端面反射的與所述多個光對應的多個反射光進行受光并進行檢測，對所述多個反射光中的每個反射光的強度的時間變化相互進行比較，基于比較結果來計算所述光纖塊相對于所述光學基板的傾斜度，基于所述多個反射光之中至少1個反射光的強度的時間變化，計算所述光學基板與所述光纖塊的端面間距離。

本公開的一方式涉及的光器件具備：第1光纖；光學基板，具有波導，并且是所述第1光纖的連接目標；和光纖塊，固定于所述光學基板，所述光纖塊對所述第1光纖進行保持，具有相互連結的多個線構成三角形的多個插通孔。

附圖說明

圖1是示出實施方式涉及的光學調整裝置的概略圖。

圖2是示出被實施方式涉及的光纖塊保持的光纖的位置關系的圖。

圖3是示出實施方式涉及的光學調整裝置執行的光學調整的過程的流程圖。

圖4是示出由光檢測部得到的反射光的檢測結果的一個例子的圖。

圖5是示出從第2光纖射出的光被光學基板的基板端面反射而作為反射光返回的樣子的圖。