[發(fā)明專利]光學(xué)調(diào)整裝置、光學(xué)調(diào)整方法以及光器件

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210500829.2
• 申請日: 2022-05-09
• 公開（公告）號: CN115371575A
• 公開（公告）日: 2022-11-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 古田寬和;鐮谷淳一;白石龍朗
• 申請（專利權(quán)）人: 松下知識產(chǎn)權(quán)經(jīng)營株式會社
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14;G02B6/30;G02B6/38
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 齊秀鳳

1.一種光學(xué)調(diào)整裝置，是在將第1光纖與連接目標(biāo)的光學(xué)基板連接時使用的光學(xué)調(diào)整裝置，具備：

測定光照射部，具有多個第2光纖，經(jīng)由所述多個第2光纖將具有單一波長的多個光在相互不同的定時射出；

光纖塊，對所述第1光纖以及所述多個第2光纖的射出側(cè)端部進(jìn)行保持；

光檢測部，經(jīng)由所述多個第2光纖對由所述光學(xué)基板的基板端面反射的與所述多個光對應(yīng)的多個反射光進(jìn)行受光并進(jìn)行檢測；

傾斜度計算部，對所述多個反射光中的每個反射光的強(qiáng)度的時間變化相互進(jìn)行比較，基于比較結(jié)果來計算所述光纖塊相對于所述光學(xué)基板的傾斜度；和

距離計算部，基于所述多個反射光之中至少1個反射光的強(qiáng)度的時間變化，計算所述光學(xué)基板與所述光纖塊的端面間距離。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)調(diào)整裝置，其中，

所述多個第2光纖包括被配置為將射出端面彼此相互連結(jié)的多個線構(gòu)成三角形的3個光纖。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)調(diào)整裝置，其中，

所述多個第2光纖具有相互不同的光路長度。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)調(diào)整裝置，其中，

所述測定光照射部具備：

光源，射出具有單一波長的光；和

光耦合器，將從所述光源射出的光分支成強(qiáng)度相互相等的所述多個光，并將所述多個光分別導(dǎo)光至所述多個第2光纖。

5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的光學(xué)調(diào)整裝置，其中，

所述傾斜度計算部計算繞第1軸的所述光纖塊相對于所述光學(xué)基板的傾斜度θx、以及繞與所述第1軸垂直的第2軸的所述光纖塊相對于所述光學(xué)基板的傾斜度θy。

6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中的任一項所述的光學(xué)調(diào)整裝置，其中，

所述傾斜度計算部基于所述多個強(qiáng)度的時間變化來計算與所述多個反射光分別對應(yīng)的多個強(qiáng)度的累計值，并對所述多個強(qiáng)度的累計值相互進(jìn)行比較。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中的任一項所述的光學(xué)調(diào)整裝置，其中，

所述傾斜度計算部對所述多個強(qiáng)度的時間變化中的與所述多個反射光分別對應(yīng)的多個峰寬度相互進(jìn)行比較。

8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中的任一項所述的光學(xué)調(diào)整裝置，其中，

還具備：傾斜度調(diào)整部，基于計算出的所述傾斜度來調(diào)整所述光纖塊相對于所述光學(xué)基板的相對姿勢。

9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中的任一項所述的光學(xué)調(diào)整裝置，其中，

還具備：距離調(diào)整部，對所述光纖塊相對于所述光學(xué)基板的相對距離進(jìn)行調(diào)整。

10.根據(jù)權(quán)利要求1至9中的任一項所述的光學(xué)調(diào)整裝置，其中，

所述距離計算部基于所述光纖塊位于不同位置時的所述反射光的強(qiáng)度的累計值的差分，計算所述光學(xué)基板與所述光纖塊的端面間距離。

11.根據(jù)權(quán)利要求1至10中的任一項所述的光學(xué)調(diào)整裝置，其中，

所述距離計算部基于所述光纖塊位于不同位置時的所述反射光的強(qiáng)度的時間變化中的表示峰位置的時間，計算所述光學(xué)基板與所述光纖塊的端面間距離。

12.一種光學(xué)調(diào)整方法，是在將第1光纖與連接目標(biāo)的光學(xué)基板連接時進(jìn)行的光學(xué)調(diào)整方法，在該光學(xué)調(diào)整方法中，

通過光纖塊對所述第1光纖以及測定用的多個第2光纖的射出側(cè)端部進(jìn)行保持，

經(jīng)由所述多個第2光纖將具有單一波長的多個光在相互不同的定時射出，

經(jīng)由所述多個第2光纖對由所述光學(xué)基板的基板端面反射的與所述多個光對應(yīng)的多個反射光進(jìn)行受光并進(jìn)行檢測，

對所述多個反射光中的每個反射光的強(qiáng)度的時間變化相互進(jìn)行比較，基于比較結(jié)果來計算所述光纖塊相對于所述光學(xué)基板的傾斜度，

基于所述多個反射光之中至少1個反射光的強(qiáng)度的時間變化，計算所述光學(xué)基板與所述光纖塊的端面間距離。