[發明專利]一種指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統及方法

有效

• 申請號: 202210498966.7
• 申請日: 2022-05-09
• 公開（公告）號: CN114970120B
• 公開（公告）日: 2023-10-24
• 發明（設計）人: 朱擁勇;張愷;周奇鄭;李華
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍海軍工程大學
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G01R31/00;G06F119/04
• 代理公司: 北京金智普華知識產權代理有限公司 11401
• 代理人: 張曉博

本發明屬于電子零部件檢測技術領域，公開了一種指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統及方法，包括：參數采集模塊分別獲取生產方與使用方關注的電子零部件的壽命參數；方案輸出模塊基于獲取的生產方與使用方關注的電子零部件的壽命參數輸出雙方風險小于閾值的定時試驗的方案；方案選擇模塊從輸出的多個雙方風險小于閾值的試驗方案中選擇其中一個作為最終試驗方案。本發明得出的方案用于產品的抽樣檢驗時，既能減小合格產品被拒收的概率，避免了合格產品因不能投入使用造成的浪費，也能減小不合格產品被接收、投入使用的概率，降低了產品在使用過程中因質量不合格而故障頻發導致安全事故等問題的可能性。

技術領域

本發明屬于電子零部件檢測技術領域，尤其涉及一種指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統及方法。

背景技術

一般來說，正常使用的電子零部件壽命都服從指數分布，如：印制電路板插件、電子部件、電阻、電容、集成電路等。在理論上，當產品由很多部分組成，無論這些組成部分的壽命是什么分布，只要產品的任一部分出了故障，給予修復再投入使用，則較長時間之后，產品的壽命基本上即指數分布。指數壽命型定時試驗是一種針對壽命服從指數分布產品的抽樣檢驗方式，其常見試驗模式為：在一批產品中隨機抽取n個樣本進行可靠性壽命試驗，當試驗進行到累計壽命達到預定值Tw時截止。

盡管指數壽命型定時試驗已經有了一系列的國際標準、國家標準或軍隊標準，例如GJB899A-2009。但這些標準未給出計算試驗參數(截止試驗時間Tw和接收數Ac)的具體方法，只是給出了類似表1、表2這樣典型試驗方案集合。一旦試驗雙方約定的α、β、d不在這些標準提供的典型試驗方案集合中，將面臨無(滿足試驗雙方要求的)試驗方案可用的情況。此外，即便是這些標準提供的典型試驗方案，也存在著方案的風險實際值α′、β′在相當多的情況下會超出雙方約定的名義值α、β這種問題。當方案的α′＞α時，質量合格的產品會以更高的概率被誤判為不合格而被拒收，合格產品因無法投入使用而造成浪費；當方案的β′＞β時，質量不合格的產品會以更高的概率被誤判為合格而被接收，不合格產品在投入使用后將因更容易出現故障而帶來安全事故等后續問題。

表1和表2是GJB899A-2009中給出的各種指數壽命型定時試驗方案。這12個方案中，共有8個方案的實際風險值超出了名義值(表中的風險值采用百分制)。例如，若采用表1中的9號方案進行產品抽樣檢驗，則合格產品被誤判為不合格的概率將高達0.12，超出了生產方所能允許的0.10，合格產品會以更高的概率被誤判為不合格，不投入使用造成浪費。若采用表2中的第14號方案進行產品抽樣檢驗，則不合格產品被誤判為合格的概率將高達0.21，超出了使用方所能允許的0.20，不合格產品會以更高的概率被誤判為合格，在投入使用后因更容易發生故障而面臨安全隱患等問題。

表1標準型定時試驗統計方案簡表

表2高風險定時試驗統計方案簡表

通過上述分析，現有技術存在的問題及缺陷為：現有的電子零部件壽命試驗方案數量有限，不能應對所有的試驗要求，且試驗方案不盡合理，存在合格產品誤判率高于預期要求，或不合格產品誤判為合格產品的概率高于預期要求的問題。

發明內容

針對現有技術存在的問題，本發明提供了一種指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統及方法。

本發明是這樣實現的，一種指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統，所述指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統包括：

參數采集模塊，用于分別獲取生產方與使用方關注的電子零部件的壽命參數；

方案輸出模塊，用于基于獲取的生產方與使用方關注的電子零部件的壽命參數輸出雙方風險小于閾值的定時試驗的方案；

方案選擇模塊，用于從輸出的多個雙方風險小于閾值的試驗方案中選擇其中一個作為最終試驗方案。