[發明專利]一種指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統及方法有效
| 申請號： | 202210498966.7 | 申請日： | 2022-05-09 |
| 公開（公告）號： | CN114970120B | 公開（公告）日： | 2023-10-24 |
| 發明（設計）人： | 朱擁勇;張愷;周奇鄭;李華 | 申請（專利權）人： | 中國人民解放軍海軍工程大學 |
| 主分類號： | G06F30/20 | 分類號： | G06F30/20;G01R31/00;G06F119/04 |
| 代理公司： | 北京金智普華知識產權代理有限公司 11401 | 代理人： | 張曉博 |
| 地址： | 430033 *** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 指數 壽命 電子 零部件 試驗 方案 確定 系統 方法 | ||
1.一種指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統，其特征在于，所述指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統包括：
參數采集模塊，用于分別獲取生產方與使用方關注的電子零部件的壽命參數；
方案輸出模塊，用于基于獲取的生產方與使用方關注的電子零部件的壽命參數輸出雙方風險小于閾值的定時試驗的方案；
方案選擇模塊，用于從輸出的多個雙方風險小于閾值的試驗方案中選擇其中一個作為最終試驗方案。
2.如權利要求1所述指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統，其特征在于，所述生產方關注的電子零部件的壽命參數包括：良品電子零部件的平均壽命以及生產方風險閾值；
所述使用方關注的電子零部件的壽命采納數包括：差品電子零部件的平均壽命以及使用方風險閾值。
3.如權利要求1所述指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統，其特征在于，所述定時試驗方案包括：試驗截止時間和接收數。
4.一種應用于如權利要求1-3任意一項所述指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定系統的指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定方法，其特征在于，所述指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定方法包括：
步驟一，分別獲取生產方與使用方關注的電子零部件的壽命參數；
步驟二，基于獲取的生產方與使用方關注的電子零部件的壽命參數輸出雙方風險小于閾值的定時試驗方案；
步驟三，從輸出的多個雙方風險小于閾值的試驗方案中選擇其中一個作為最終試驗方案。
5.如權利要求4所述指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定方法，其特征在于，所述基于獲取的生產方與使用方關注的電子零部件的壽命參數輸出定時試驗的方案包括：
(1)對獲取的參數進行初始化處理，并基于獲取的參數計算標志Fc；
(2)若Fc＜1，則轉向步驟(8)；否則令At＝At+1，執行(3)；
(3)計算伽馬分布Ga(1+At,t0)的(α-dp)分位數x01、(α+dp)分位數x02；
(4)計算伽馬分布Ga(1+At,t1)的(1-β-dp)分位數x11，(1-β+dp)分位數x12；
(5)取x01、x11中的最大數并向上取整數，結果記為xt1；取x02、x12中的最小數并向下取整數，結果記為xt2；
(6)若xt1＞xt2，則令At＝At+1，執行步驟(3)，否則執行步驟(7)；
(7)在[xt1,xt2]區間內以步長xs遍歷計算各點txi對應的雙方風險概率；
(8)終止計算，輸出矩陣jzC；所述jzC中的每一個行向量為一組試驗方案參數以及所述試驗方案的雙方風險概率。
6.如權利要求5所述指數壽命型電子零部件壽命試驗方案確定方法，其特征在于，所述對獲取的參數進行初始化處理，并基于獲取的參數計算標志Fc包括：
令鑒別比At＝-1，計算標志Fc＝1，有效的參數數量jzk＝0；設置風險閾值接近范圍dp，所述風險閾值接近范圍dp滿足：α+dp＜1、1-β+dp＜1；
其中，α表示生產方關注的風險閾值；t0表示良品質量水平；β表示使用方關注的風險閾值；t1表示差品質量水平。
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