[發明專利]一種電子產品的質量檢測方法及系統

有效

• 申請號: 202210497589.5
• 申請日: 2022-05-09
• 公開（公告）號: CN114580985B
• 公開（公告）日: 2022-08-05
• 發明（設計）人: 胡俊波;羅忠;李華;阮旻智;邵松世;錢超
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍海軍工程大學
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06F17/18;G06Q50/04
• 代理公司: 武漢華之喻知識產權代理有限公司 42267
• 代理人: 李君;廖盈春

1.一種電子產品的質量檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

對待檢驗批次的電子產品進行指數壽命型測驗，當測驗時間到達試驗截止時間時停止測驗；

計算待檢驗批次中發生故障的電子產品數量，當發生故障的電子產品數量小于接收數，則判定待檢驗批次的電子產品合格，否則淘汰；

其中，試驗截止時間和接收數的獲取方法，包括以下步驟：

（1）計算標準正態分布的α和1-β的分位數，并結合生產方設定的良品質量水平t₀和使用方設定的最低質量水平t₁，獲取接收數的搜索范圍下限At；

其中，以電子產品的平均壽命評價電子產品的質量水平，α為生產方風險閾值；β為使用方風險閾值；

（2）初始化風險閾值的接近范圍dp，將α-dp和α+dp分別作為生產方風險閾值的波動下限值和波動上限值；1-β-dp和1-β+dp分別作為使用方風險閾值的波動下限值和波動上限值；其中，生產方風險閾值的波動上、下限值和使用方風險閾值的波形上、下限值大于0且小于1；

（3）采用伽瑪分布，計算生產方和使用方的試驗截止時間的波動區間；

（4）判斷生產方和使用方的試驗截止時間的波動區間是否存在交集，如存在則交集區間為試驗截止時間的搜索區間，否則，重新更新接近閾值，轉至步驟（3）；

（5）在試驗截止時間的搜索區間內以設定步長遍歷計算各時間點對應的雙方風險概率，結合雙方風險閾值，計算各時間點對應雙方風險閾值與雙方風險概率的接近程度；其中，雙方包括使用方和生產方；

（6）尋找接近程度的最小數，當最小數對應的生產方的風險概率小于生產方風險閾值，且使用方的風險概率小于使用方風險閾值時，則將接近程度的最小數對應的試驗截止時間作為電子產品的試驗截止時間；當前接收數的搜索范圍下限作為電子產品的接收數；否則，將當前接收數的搜索范圍下限更新為上次迭代接收數的搜索范圍下限加1，執行步驟（3）；

其中，所述步驟（3）具體為：

將接收數的搜索范圍下限與1相加作為伽瑪分布的第一參數，將生產方設定的良品質量水平t₀作為伽瑪分布的第二參數，計算α波動下限值的分位數和α波動上限值的分位數分別作為生產方試驗截止時間的波動區間；

將接收數的搜索范圍下限與1相加作為伽瑪分布的第一參數，將使用方設定的最低質量水平t₁作為伽瑪分布的第二參數，計算1-β的波動下限值和波動上限值的分位數分別作為使用方試驗截止時間的波動區間。

2.根據權利要求1所述的質量檢測方法，其特征在于，所述接收數的搜索范圍下限為：

At=max（nt-1，0）；

其中，，并對nt向下取整數；t₀為生產方設定的良品質量水平；t₁為使用方設定的最低質量水平；x_α和x_1-β為標準正態分布的α和1-β的分位數。

3.根據權利要求1或2所述的質量檢測方法，其特征在于，所述步驟（4）具體為：

獲取生產方和使用方風險閾值的波動下限值分位數的最大數并向上取整數，生產方和使用方風險閾值的波動上限值分位數的最小值并向下取整數；

通過比較向上取整的數與向下取整的數大小，判斷使用方風險閾值的試驗截止時間和生產方風險閾值的試驗截止時間是否存在交集；

若存在，將向上取整的數與向下取整的數構成的試驗截止時間區間作為試驗截止時間的搜索區間，否則使用1.2倍的接近范圍、生產方風險閾值、生產方可靠閾值1-α、使用方風險閾值和使用方可靠閾值1-β中的最小值更新接近范圍。