[發明專利]一種電子產品的質量檢測方法及系統

有效

• 申請號: 202210497589.5
• 申請日: 2022-05-09
• 公開（公告）號: CN114580985B
• 公開（公告）日: 2022-08-05
• 發明（設計）人: 胡俊波;羅忠;李華;阮旻智;邵松世;錢超
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍海軍工程大學
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06F17/18;G06Q50/04
• 代理公司: 武漢華之喻知識產權代理有限公司 42267
• 代理人: 李君;廖盈春

本發明提供了一種電子產品的質量檢測方法及系統，屬于產品質量測試領域，試驗截止時間和接收數的獲取方法包括：采用標準正態分布，獲取接收數的搜索范圍下限；初始化或更新雙方風險閾值的波動區間；采用伽瑪分布，計算生產方和使用方的試驗截止時間的波動區間；通過計算試驗截止時間的搜索區間，計算雙方風險閾值與雙方風險概率的最小接近程度；當雙方風險概率小于雙方風險閾值，則獲取試驗截止時間和接收數。本發明遍歷尋找試驗方案的兩種風險概率都小于風險閾值的試驗截止時間，減少電子產品發生故障的概率。

技術領域

本發明屬于產品質量測試領域，更具體地，涉及一種電子產品的質量檢測方法及系統。

背景技術

一般來講，正常使用的電子零部件壽命均服從指數分布，如：印刷電路插件、電子部件、電阻、電容和集成電路等。此外，當產品由很多部分組成，無論這些組成部分的壽命是什么分布，只要產品的任一部分出了故障，給予修復再投入使用，則較長時間之后，產品的壽命在理論上可視為服從指數分布。

指數壽命型定時試驗是一種針對壽命服從指數分布產品的抽樣檢驗方式，其常見試驗模式為：在一批電子產品中隨機抽取n個樣本進行可靠性壽命試驗，當試驗進行到累計壽命達到預定的截止試驗時間Tw時截止；設在試驗過程中共出現r次故障。如r ≤Ac，認為該批電子產品可靠性合格，可接收；如r＞Ac，則認為該批電子產品可靠性不合格，拒收；其中，Ac為接收數。對于指數壽命型電子產品，慣例以平均壽命t描述可靠性質量水平。

對于電子產品的生產方和使用方，由于現有的抽樣試驗始終存在著樣本質量偏離電子產品總體質量的可能性，因而必然存在兩種風險：棄真風險和取偽風險。棄真風險由生產方承擔，也稱為生產方風險，是指抽樣檢驗結論為“該批產品質量不合格，被拒收”，但是實際上該批電子產品的良品率達到或甚至超過生產方的要求，該批電子產品質量總體合格。良品的質量水平記為t₀，棄真風險通常以質量為t₀的電子產品被拒收的概率來描述，記為Pa，生產方可接受的Pa最大值記為α。取偽風險由使用方承擔，也稱為使用方風險，是指抽樣檢驗結論為“該批產品質量合格，可接收”，但在實際使用中發現該批電子產品的質量低于使用方可接受的最低質量水平t₁，t₁對應的產品稱為差品，實際上是合格品的下限。取偽風險通常以質量為t₁的產品被接收的概率來描述，記為Pb，使用方可接受的Pb最大值記為β。

現有電子產品進行指數壽命型定時試驗已經有了一系列的國際標準、國家標準或軍隊標準，例如GJB899A-2009。但是這些標準未給出計算試驗參數的具體方法，只是給出了類似表1和表2典型試驗方案集合。一旦試驗雙方約定的α、β和鑒別比d不在這些標準提供的典型試驗方案集合中，將面臨無（滿足試驗雙方要求的）試驗方案可用的情況。此外，即便是這些標準提供的典型試驗方案，也存在方案的風險實際值α’、β’在相當多的情況下會超出雙方約定的名義值α、β這種問題。當方案的α’＞α時，質量合格的產品會以更高的概率被誤判為不合格而被拒收，合格產品因無法投入使用而造成浪費；當方案的β’＞β時，質量不合格的產品會以更高的概率被誤判為合格而被接收，不合格產品在投入使用后將因更容易出現故障而帶來安全事故等后續問題。