[發明專利]一種調整鞋幫涂膠軌跡的方法、存儲設備和鞋底涂膠機器人

有效

• 申請號: 202210492418.3
• 申請日: 2022-05-07
• 公開（公告）號: CN114788602B
• 公開（公告）日: 2023-10-20
• 發明（設計）人: 孫以澤;季霞;張豪;孟婥;郗欣甫
• 申請（專利權）人: 東華大學
• 主分類號: A43D25/18
• 分類號: A43D25/18;A43D1/00;A43D119/00;G06T1/00;G06T7/68;G06T7/73
• 代理公司: 福州市景弘專利代理事務所(普通合伙) 35219
• 代理人: 魏小霞

1.一種調整鞋幫涂膠軌跡的方法，其特征在于，包括步驟：

采集目標圖像，所述目標圖像包括：鞋底視角圖像和鞋后跟視角圖像；

對所述目標圖像進行處理得不同對象；

根據所述不同對象對套楦結果進行判定，并根據所述判定結果進行涂膠軌跡差異性補償。

2.根據權利要求1所述的一種調整鞋幫涂膠軌跡的方法，其特征在于，所述不同對象包括以下中的一種或多種：鞋后跟中心線、鞋面后跟邊緣點、鞋楦鋁塊左側邊緣線、鞋楦鋁塊上側邊緣線；

所述根據所述不同對象對套楦結果進行判定，還包括：

計算所述鞋后跟中心線與所述鞋楦鋁塊左側邊緣線的角度，計算鞋面邦角余量的長度，計算鞋面后跟邊緣點到鞋楦鋁塊上側邊緣線的垂直距離，

根據所述角度、所述鞋面邦角余量的長度和所述垂直距離對套楦結果進行判定。

3.根據權利要求2所述的一種調整鞋幫涂膠軌跡的方法，其特征在于，根據所述角度、所述鞋面邦角余量的長度和所述垂直距離對套楦結果進行判定還包括：

根據所述角度判斷鞋面是否歪斜；

根據所述鞋面邦角余量的長度判斷中底布是否位于楦底的正中央及邦角余皮外露大小是否均勻；

根據所述垂直距離判斷鞋面是否完全套入鞋楦。

4.根據權利要求2或3所述的一種調整鞋幫涂膠軌跡的方法，其特征在于，所述并根據所述判定結果進行涂膠軌跡差異性補償，還包括：

依次將獲得的所述角度、所述鞋面邦角余量的長度和所述垂直距離與標準套楦的參數進行對比，獲取偏差值，根據所述偏差值進行涂膠軌跡差異性補償。

5.根據權利要求1所述的一種調整鞋幫涂膠軌跡的方法，其特征在于，所述對所述目標圖像進行處理得不同對象，還包括：

對所述鞋后跟視角圖像進行掃描，得相應的點，并對所述相應的點進行擬合，刪除異常點，再進行精確擬合得鞋后跟中心線；

通過分析提取鞋楦下端鋁塊左側緣側線和鞋楦鋁塊上側邊緣線。

6.一種存儲設備，其中存儲有指令集，其特征在于，所述指令集用于執行：采集目標圖像，所述目標圖像包括：鞋底視角圖像和鞋后跟視角圖像；

對所述目標圖像進行處理得不同對象；

根據所述不同對象對套楦結果進行判定，并根據所述判定結果進行涂膠軌跡差異性補償。

7.根據權利要求6所述的一種存儲設備，其特征在于，所述不同對象包括以下中的一種或多種：鞋后跟中心線、鞋面后跟邊緣點、鞋楦鋁塊左側邊緣線、鞋楦鋁塊上側邊緣線；

所述指令集還用于執行：所述根據所述不同對象對套楦結果進行判定，還包括：

計算所述鞋后跟中心線與所述鞋楦鋁塊左側邊緣線的角度，計算鞋面邦角余量的長度，計算鞋面后跟邊緣點到鞋楦鋁塊上側邊緣線的垂直距離，

根據所述角度、所述鞋面邦角余量的長度和所述垂直距離對套楦結果進行判定。

8.根據權利要求7所述的一種存儲設備，其特征在于，所述指令集還用于執行：根據所述角度、所述鞋面邦角余量的長度和所述垂直距離對套楦結果進行判定還包括：

根據所述角度判斷鞋面是否歪斜；

根據所述鞋面邦角余量的長度判斷中底布是否位于楦底的正中央及邦角余皮外露大小是否均勻；

根據所述垂直距離判斷鞋面是否完全套入鞋楦。

9.根據權利要求7或8所述的一種存儲設備，其特征在于，所述指令集還用于執行：所述并根據所述判定結果進行涂膠軌跡差異性補償，還包括：

依次將獲得的所述角度、所述鞋面邦角余量的長度和所述垂直距離與標準套楦的參數進行對比，獲取偏差值，根據所述偏差值進行涂膠軌跡差異性補償。

10.一種鞋底涂膠機器人，其特征在于，包括：3D相機、涂膠機械臂和處理器；

所述3D相機，用于采集目標圖像，所述目標圖像包括：鞋底視角圖像和鞋后跟視角圖像；

所述處理器用于：對所述目標圖像進行處理得不同對象；根據所述不同對象對套楦結果進行判定，并根據所述判定結果進行涂膠軌跡差異性補償；

所述涂膠機械臂用于：響應處理器的指令，對鞋底進行涂膠補償。