[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于FPGA預(yù)處理觸發(fā)數(shù)據(jù)的數(shù)字電路及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210485765.3 | 申請(qǐng)日: | 2022-05-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114935676B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-10-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李明遠(yuǎn);郝春華 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 青島漢泰智能科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R13/02 | 分類(lèi)號(hào): | G01R13/02 |
| 代理公司: | 北京天盾知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11421 | 代理人: | 鄭艷春 |
| 地址: | 266000 山東省青島市高*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 fpga 預(yù)處理 觸發(fā) 數(shù)據(jù) 數(shù)字電路 方法 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于FPGA預(yù)處理觸發(fā)數(shù)據(jù)的數(shù)字電路及方法,所述數(shù)字電路包括:ADC、數(shù)字比較模塊,所述ADC輸出端耦接數(shù)字比較模塊,且數(shù)字比較模塊包括多個(gè)數(shù)字比較器,所述數(shù)字比較器內(nèi)設(shè)有參考電平值:高觸發(fā)電平、低觸發(fā)電平、高遲滯電壓VH和低遲滯電壓VL;且所述低遲滯電壓VL作為低觸發(fā)電平和高觸發(fā)電平共同的低遲滯電壓VL,高遲滯電壓VH作為低觸發(fā)電平和高觸發(fā)電平共同的高遲滯電壓VH;本發(fā)明通過(guò)對(duì)數(shù)字比較器輸出的無(wú)法得到電平值的數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行預(yù)處理,提高觸發(fā)效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種觸發(fā)數(shù)據(jù)技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種基于FPGA預(yù)處理觸發(fā)數(shù)據(jù)的數(shù)字電路及方法。
背景技術(shù)
數(shù)字示波器的信號(hào)輸入后分為兩個(gè)通路,一路經(jīng)過(guò)ADC抽樣量化后可供存儲(chǔ)記錄;另一路經(jīng)過(guò)觸發(fā)器可產(chǎn)生啟動(dòng)信號(hào)控制采樣存儲(chǔ);
參考圖1,由于ADC的分辨率為多位,當(dāng)采樣波形噪聲較大,或者上升時(shí)間非常長(zhǎng)時(shí), ADC在采集到觸發(fā)附近的點(diǎn)數(shù)會(huì)在觸發(fā)附近有一定的數(shù)據(jù)抖動(dòng),這樣導(dǎo)致數(shù)字比較出來(lái)的方波的上升沿和方波的下降沿有噪聲出現(xiàn),就導(dǎo)致在判斷波形的上升沿和下降沿出現(xiàn)誤判,導(dǎo)致觸發(fā)邊沿誤判;
在處理噪聲時(shí),目前一種方法是通過(guò)對(duì)數(shù)據(jù)的處理需要對(duì)預(yù)處理的數(shù)據(jù)之前的數(shù)據(jù)反復(fù)計(jì)算,當(dāng)ADC采集的數(shù)據(jù)量很大時(shí),導(dǎo)致計(jì)算規(guī)模大而且所需的數(shù)字比較器數(shù)量也多,致使預(yù)處理數(shù)據(jù)的效率較低,也浪費(fèi)了大量的軟硬件資源。
現(xiàn)有技術(shù)已經(jīng)不能滿(mǎn)足現(xiàn)階段人們的需求,基于現(xiàn)狀,急需對(duì)現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行改革。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基于FPGA預(yù)處理觸發(fā)數(shù)據(jù)的數(shù)字電路及方法,以解決上述背景技術(shù)中提出的問(wèn)題。
一方面,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案一種基于FPGA預(yù)處理觸發(fā)數(shù)據(jù)的數(shù)字電路,包括: ADC、數(shù)字比較模塊、多級(jí)數(shù)據(jù)計(jì)算處理單元;
所述ADC輸出端耦接數(shù)字比較模塊,且數(shù)字比較模塊包括多個(gè)數(shù)字比較器;
優(yōu)選的,所述數(shù)字比較器內(nèi)設(shè)有參考電平值:高觸發(fā)電平、低觸發(fā)電平、高遲滯電壓 VH和低遲滯電壓VL,且所述低遲滯電壓VL作為低觸發(fā)電平和高觸發(fā)電平共同的低遲滯電壓 VL,高遲滯電壓VH作為低觸發(fā)電平和高觸發(fā)電平共同的高遲滯電壓VH;
ADC采集數(shù)據(jù)后把數(shù)據(jù)依次傳輸?shù)矫總€(gè)數(shù)字比較器,數(shù)據(jù)與數(shù)字比較器內(nèi)的參考電平值比較后輸出到多級(jí)數(shù)據(jù)計(jì)算處理單元,多級(jí)數(shù)據(jù)計(jì)算處理單元根據(jù)ADC同時(shí)采集的數(shù)據(jù)量而設(shè)定,即多級(jí)數(shù)據(jù)計(jì)算處理單元的數(shù)量與ADC同時(shí)采集的數(shù)據(jù)量相同,例如,ADC同時(shí)采集的8個(gè)數(shù)據(jù),則多級(jí)數(shù)據(jù)計(jì)算處理單元設(shè)有8級(jí),分別對(duì)每個(gè)數(shù)據(jù)位進(jìn)行處理;所述多級(jí)數(shù)據(jù)計(jì)算處理單元通過(guò)對(duì)數(shù)據(jù)的相關(guān)位處理后輸出高電平或者低電平。
另一方面,本發(fā)明提供如下另一技術(shù)方案一種基于FPGA預(yù)處理觸發(fā)數(shù)據(jù)的方法,對(duì)每一位的數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,使用流水線完成計(jì)算,降低計(jì)算規(guī)模,具體方法步驟包括:
步驟1:減少參考電平值,將ADC采集的數(shù)據(jù)直接與參考觸發(fā)電平值比較;
優(yōu)選的,將低觸發(fā)電平的低遲滯電壓VL同樣作為高觸發(fā)電平的低遲滯電壓VL,將高觸發(fā)電平的高遲滯電壓VH也同樣作為低觸發(fā)電平的高遲滯電壓VH,這樣僅存在4個(gè)觸發(fā)電平值:高觸發(fā)電平、低觸發(fā)電平、高遲滯電壓VH和低遲滯電壓VL,所以?xún)H需要4個(gè)遲滯比較器處理即可;
ADC采集的數(shù)據(jù)進(jìn)入到數(shù)字比較器后,首先直接與設(shè)置的參考電平值比較,若大于高觸發(fā)電平的高遲滯電壓VH,則可以直接賦值電平1,若小于低觸發(fā)電平的低遲滯電壓VL,則可以直接賦值電平0;
步驟2:預(yù)處理觸發(fā)數(shù)據(jù)相關(guān)位,重新編碼,劃分出可以得到確定位置的數(shù)據(jù)和不可以得到確定位置的數(shù)據(jù):
優(yōu)選的,步驟2包括步驟201:對(duì)于通過(guò)數(shù)字比較器比較后可以得到確定位置的數(shù)據(jù),最高位編碼為1;
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