[發明專利]應用于閃存控制器的編碼器自我測試電路及相關的方法

在審

• 申請號: 202210482880.5
• 申請日: 2019-02-25
• 公開（公告）號: CN114927159A
• 公開（公告）日: 2022-08-19
• 發明（設計）人: 楊宗杰
• 申請（專利權）人: 慧榮科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56;G11C29/12;G11C29/14;G11C29/36;G11C29/40;G11C29/42;G11C29/44
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

本發明公開了一種應用于閃存控制器的編碼器自我測試電路，包括控制電路和編碼器。在編碼器自我測試電路的操作中，在不對任何閃存進行存取的情形下，所述控制電路產生一輸入數據至所述編碼器，所述編碼器對所述輸入數據進行編碼以產生一校驗碼至所述控制電路，以供判斷所述編碼器的功能是否正常。本發明的自我測試電路可在不需要連結到閃存模塊的情形下對閃存控制器中的編碼器進行功能測試，以準確地判斷出編碼器的功能是否異常，以避免現有技術中需要讓閃存控制器與閃存模塊相連后才能進行測試，而造成當閃存控制器有異常時導致相連結的閃存模塊需要另外進行剝離制程的麻煩。

本申請是申請日為2019年02月25日、申請號為201910137901.8、發明創造名稱為“應用于閃存控制器的編碼器自我測試電路及相關的方法”的中國發明申請的分案申請。

技術領域

本發明關于閃存控制器，尤指一種應用在閃存控制器中的編碼器自我測試電路。

背景技術

在閃存控制器中會設計至少一個編碼器以對輸入數據進行編碼以產生相對應的校驗碼后，再連同輸入數據一并寫入到閃存芯片中。然而，考慮到編碼器在功能上的正確性，在工廠內的測試階段時，閃存控制器會與閃存芯片鏈接，之后閃存控制器會被控制以持續地將數據進行編碼后寫入至閃存芯片中，再將數據從閃存芯片中讀取出來并進行解碼，以判斷閃存控制器的編碼及解碼功能是否正常。然而，上述作法至少會遇到以下兩種問題，第一個問題是當判斷閃存控制器的編碼及解碼功能不正常時，與閃存控制器相連接的閃存芯片便浪費了，或是需要另外進行剝離(debonding)制程以使得閃存芯片可以重復使用；而第二個問題則是當判斷閃存控制器的編碼及解碼功能不正常時，無法正確迅速地判斷是編碼器的問題還是解碼器的問題，因而造成工程師的困擾。

發明內容

因此，本發明的目的之一在于提供一種應用于閃存控制器的編碼器自我測試電路，其可以在不需要閃存芯片的情形下，單獨地對編碼器進行測試，以解決現有技術中的問題。

在本發明的一個實施例中，公開一種應用于閃存控制器的編碼器自我測試電路，其包括有一控制電路以及一編碼器。在編碼器自我測試電路的操作中，在不對任何閃存進行存取的情形下，所述控制電路產生一輸入數據至所述編碼器，所述編碼器對所述輸入數據進行編碼以產生一校驗碼至所述控制電路，以供判斷所述編碼器的功能是否正常。

在本發明的另一個實施例中，公開了一種應用于閃存控制器的編碼器自我測試方法，其包括有以下步驟：在不對任何閃存進行存取的情形下：產生一輸入數據至一編碼器；使用所述編碼器對所述輸入數據進行編碼以產生一校驗碼；以及根據所述校驗碼以判斷所述編碼器的功能是否正常。

附圖說明

圖1為依據本發明一實施例的一閃存控制器的示意圖。

圖2為根據本發明一實施例的編碼器與控制電路的示意圖。

圖3為根據本發明一實施例的應用于閃存控制器的編碼器自我測試方法的流程圖。

其中，附圖標記說明如下：

110 閃存控制器

112 微處理器

112C 程序碼

112M 只讀存儲器

114 控制邏輯

116 緩沖存儲器

118 接口邏輯