[發明專利]應用于閃存控制器的編碼器自我測試電路及相關的方法在審
| 申請號： | 202210482880.5 | 申請日： | 2019-02-25 |
| 公開（公告）號： | CN114927159A | 公開（公告）日： | 2022-08-19 |
| 發明（設計）人： | 楊宗杰 | 申請（專利權）人： | 慧榮科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56;G11C29/12;G11C29/14;G11C29/36;G11C29/40;G11C29/42;G11C29/44 |
| 代理公司： | 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀純 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 應用于 閃存 控制器 編碼器 自我 測試 電路 相關 方法 | ||
1.一種應用于閃存控制器的編碼器自我測試電路，其特征在于，包括有：一控制電路；以及
一編碼器；
其中在不對任何閃存進行存取的情形下，所述控制電路產生一輸入數據至所述編碼器，所述編碼器對所述輸入數據進行編碼以產生一校驗碼至所述控制電路，以供判斷所述編碼器的功能是否正常；
其中所述控制電路與所述編碼器進行多次循環操作，其中每一次循環操作包括了以下步驟：
(a)所述控制電路產生第K筆輸入數據至所述編碼器，其中K為一任意正整數；以及
(b)所述編碼器對所述第K筆輸入數據進行編碼以產生第K筆校驗碼至所述控制電路以供產生第(K+1)筆輸入數據；
其中所述編碼器所產生的第N筆校驗碼被用來判斷所述編碼器的功能是否正常，其中N為一默認值。
2.如權利要求1所述的編碼器自我測試電路，其特征在于，所述控制電路包括有：
一隨機數據產生電路，用以產生所述第(K+1)筆輸入數據至所述編碼器；以及
一種子數據產生電路，耦接于所述隨機數據產生電路，用以根據所述第(K+1)筆校驗碼以產生一種子數據至所述隨機數據產生電路，以供所述隨機數據產生電路產生第(K+2)筆輸入數據。
3.如權利要求2所述的編碼器自我測試電路，其特征在于，所述種子數據產生電路對所述第K筆校驗碼進行一循環冗余校驗操作以產生所述種子數據。
4.如權利要求2所述的編碼器自我測試電路，其特征在于，所述控制電路還包括有：
一多任務器，用以選擇性地將一默認輸入數據或是所述隨機數據產生電路所產生的所述第(K+1)筆輸入數據傳送至所述編碼器，其中所述默認輸入數據作為所述控制電路所產生至所述編碼器的第一筆數據。
5.一種應用于閃存控制器的編碼器自我測試方法，其特征在于，包括有：在不對任何閃存進行存取的情形下：
產生一輸入數據至一編碼器；
使用所述編碼器對所述輸入數據進行編碼以產生一校驗碼；以及
根據所述校驗碼以判斷所述編碼器的功能是否正常；
其中產生所述輸入數據是由一控制電路來進行，所述控制電路與所述編碼器進行多次循環操作，其中每一次循環操作包括了以下步驟：
(a)所述控制電路產生第K筆輸入數據至所述編碼器，其中K為一任意正整數；以及
(b)所述編碼器對所述第K筆輸入數據進行編碼以產生第K筆校驗碼至所述控制電路以供產生第(K+1)筆輸入數據；
其中所述編碼器所產生的第N筆校驗碼被用來判斷所述編碼器的功能是否正常，其中N為一默認值。
6.如權利要求5所述的編碼器自我測試方法，其特征在于，每一次循環操作還包括了以下步驟：
根據所述第K筆校驗碼以產生一種子數據至所述控制電路，以供所述控制電路產生第(K+1)筆輸入數據。
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