[發明專利]過溫保護電路及其測試方法

在審

• 申請號: 202210469748.0
• 申請日: 2022-04-28
• 公開（公告）號: CN114911298A
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 張普杰;韓熙明
• 申請（專利權）人: 北京集創北方科技股份有限公司
• 主分類號: G05F1/567
• 分類號: G05F1/567
• 代理公司: 北京成創同維知識產權代理有限公司 11449
• 代理人: 楊思雨

本發明公開了一種過溫保護電路及其測試方法，包括信號產生電路、參考電壓電路、溫度檢測電路和偏置電流電路。其中，信號產生電路用于輸出控制信號，包括電壓比較器；參考電壓電路耦接于電壓比較器的一個輸入端，響應于所述控制信號以提供可切換參考電壓；溫度檢測電路通過PN結結電壓與溫度的關系檢測溫度，耦接于電壓比較器的另一個輸入端；偏置電流電路用于輸出可變的偏置電流，用于調節所述PN結結電壓以獲取準確的結電壓值。本發明的過溫保護電路通過增設偏置電流電路，使所述結電壓值可調，從而使過溫保護電路在測試過程中不需要提供高溫環境，減少了測試難度，提高了測試精度，有利于過溫保護電路所在的電子器件安全運行。

技術領域

本發明涉及集成電路技術領域，特別涉及一種過溫保護電路及其測試方法。

背景技術

隨著集成電路產品在集成化、小型化方向上取得進展，在現有的集成電路產品，例如電源、處理器芯片中，經常要面臨環境溫度過高而導致器件無法正常運行甚至燒毀的問題。因此，現有的芯片中都設有過溫保護電路，過溫保護電路的作用在于，當芯片的環境溫度高于設定值的時候，使芯片停止工作或者進入低功耗模式，使芯片的溫度逐漸降低；在芯片的溫度低于另一設定值時，使芯片重新進入工作模式。

現有技術中，在芯片的制造過程中，需要對其中的過溫保護電路進行檢測和校準，使過溫保護電路能夠在設定的溫度值工作。但是，測試過程中往往需要利用高溫箱等設備對待測芯片提供高溫環境，這樣不僅加大了測試難度，還增大了校準過程中的誤差，不利于芯片的安全運行。

因此，需要一種新的過溫保護電路，實現對過溫保護電路的簡易的、精準的測試。

發明內容

鑒于上述問題，本發明的目的在于提供一種過溫保護電路及其測試方法，從而實現常溫下對于過溫保護電路的精準測試和校準。

根據本發明的一方面，提供一種過溫保護電路，其特征在于，包括：

信號產生電路，包括第一輸入端和第二輸入端，所述信號產生電路用于輸出控制信號；參考電壓電路，耦接于所述信號產生電路的第一輸入端，所述參考電壓電路響應于所述控制信號，向所述第一輸入端輸出可切換的參考電壓；溫度檢測電路，耦接于所述信號產生電路的第二輸入端，所述溫度檢測電路用于向所述第二輸入端輸出響應于溫度的溫度系數電壓；偏置電流電路，耦接于所述溫度檢測電路，用于向所述溫度檢測電路輸出可變的偏置電流，所述偏置電流用于修調所述溫度系數電壓。

可選地，所述偏置電流電路包括電流調節模塊和電流輸出模塊，所述電流調節模塊包括恒流輸入端子和電流輸出端口，所述電流輸出模塊包括電流接收端口和至少一個輸出端子，所述電流輸出端口與所述電流接收端口連接。

可選地，所述電流調節模塊包括多個電流鏡支路，所述多個電流鏡支路分別耦接在所述恒流輸入端子與地之間或所述電流輸出端口與地之間，形成電流鏡結構，用于復制所述恒流輸入端子接收的恒定電流。

可選地，述電流調節模塊包括至少一個開關管，所述開關管耦接于所述電流輸出端口與所述電流鏡支路之間，用于控制所述電流輸出端口的輸出電流大小。

可選地，所述至少一個開關管為MOS管。

可選地，所述耦接于所述電流輸出端口與地之間的電流鏡支路包括多個且規格不同，所述多個規格不同的電流鏡支路用于按照不同比例復制所述恒定電流，使所述電流輸出端口輸出非線性變化的電流，所述非線性變化的電流用于使所述溫度系數電壓線性變化。

可選地，所述電流輸出模塊包括多個電流鏡支路，所述多個電流鏡支路分別耦接在所述輸出端子與地之間或所述電流接收端口與地之間，形成電流鏡結構。

可選地，所述多個電流鏡支路的規格相同，所述輸出端子的輸出電流與所述電流接收端口的接收電流大小相同。