[發明專利]過溫保護電路及其測試方法

在審

• 申請號: 202210469748.0
• 申請日: 2022-04-28
• 公開（公告）號: CN114911298A
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 張普杰;韓熙明
• 申請（專利權）人: 北京集創北方科技股份有限公司
• 主分類號: G05F1/567
• 分類號: G05F1/567
• 代理公司: 北京成創同維知識產權代理有限公司 11449
• 代理人: 楊思雨

1.一種過溫保護電路，其特征在于，包括：

信號產生電路，根據溫度系數電壓和表征設定溫度的參考電壓之間的比較結果輸出控制信號；

參考電壓電路，耦接于所述信號產生電路，用于提供所述參考電壓；

溫度檢測電路，耦接于所述信號產生電路，用于提供響應于環境溫度的所述溫度系數電壓；以及

偏置電流電路，耦接于所述溫度檢測電路，用于提供可調的偏置電流，所述偏置電流用于修調所述溫度系數電壓。

2.根據權利要求1所述的過溫保護電路，其特征在于，所述偏置電流電路根據調節信號生成所述偏置電流，所述調節信號基于測試環境下的所述溫度系數電壓確定，所述測試環境包括常溫環境。

3.根據權利要求2所述的過溫保護電路，其特征在于，所述偏置電流電路包括：

電流調節模塊，根據基準電流生成可調電流，所述可調電流與所述基準電流之間的比例受控于所述調節信號；以及

電流輸出模塊，與所述電流調節模塊耦接，以根據所述可調電流輸出所述偏置電流。

4.根據權利要求2所述的過溫保護電路，其特征在于，所述電流調節模塊包括：

多個電流鏡支路，分別提供與所述基準電流成比例的支路電流，所述多個電流鏡支路并聯連接在參考地與可調電流輸出端之間，以便于所述可調電流輸出端提供所述可調電流；以及

開關單元，設置在至少一個所述電流鏡支路與所述可調電流輸出端之間，所述開關單元在所述調節信號的控制下控制所述至少一個電流鏡支路的導通與關斷。

5.根據權利要求4所述的過溫保護電路，其特征在于，所述開關單元包括至少一個開關管，分別連接在每個所述至少一個電流鏡支路與所述可調電流輸出端之間，每個所述開關管的控制端受控于所述調節信號中相應的數據位。

6.根據權利要求4所述的過溫保護電路，其特征在于，所述多個電流鏡支路分別提供與所述基準電流成不同比例/相同比例的所述支路電流。

7.根據權利要求4所述的過溫保護電路，其特征在于，所述電流輸出模塊基于設置在電源電壓端與所述可調電流輸出端之間的電流鏡結構提供所述偏置電流。

8.根據權利要求1所述的過溫保護電路，其特征在于，所述溫度檢測電路包括第一雙極型晶體管，所述第一雙極型晶體管的基極與集電極短接并接地，所述第一雙極型晶體管的發射極提供所述溫度系數電壓并接收所述偏置電流，所述偏置電流用于配置形成于所述發射極與所述基極之間的PN結電壓，以使所述溫度系數電壓在高于所述設定溫度的環境中小于所述參考電壓。

9.根據權利要求1所述的過溫保護電路，其特征在于，所述偏置電流包括第1至第N偏置電流，所述溫度檢測電路包括第1至第N雙極型晶體管，N為大于1的自然數，

所述第1雙極型晶體管的發射極提供所述溫度系數電壓并接收所述第1偏置電流，第i雙極型晶體管的發射極與第i-1雙極型晶體管的基極連接并接收第i偏置電流，所述第N雙極性集體管的基極與所述第1至第N雙極型晶體管的集電極接地，i為大于/等于2且小于/等于N的自然數。

10.根據權利要求1所述的過溫保護電路，其特征在于，所述設定溫度包括第一設定溫度和低于所述第一設定溫度的第二設定溫度，

所述參考電壓電路根據所述控制信號選擇第一電壓和第二電壓之一作為所述參考電壓，所述第一電壓表征所述第一設定溫度，所述第二電壓表征所述第二設定溫度，

在所述控制信號表征所述溫度系數電壓高于所述參考電壓的情況下，所述參考電壓電路選擇所述第一電壓作為所述參考電壓，

在所述控制信號表征所述溫度系數電壓低于所述參考電壓的情況下，所述參考電壓電路選擇所述第二電壓作為所述參考電壓。