[發明專利]飛針測試方法、飛針測試裝置、計算機設備、存儲介質

在審

• 申請號: 202210465846.7
• 申請日: 2022-04-29
• 公開（公告）號: CN114910778A
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 黃亮;林湘妙;汪興友;邵勇鋒
• 申請（專利權）人: 深圳橙子自動化有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 洪銘福

本申請實施例提供一種飛針測試方法、飛針測試裝置、計算機設備、存儲介質，屬于飛針測試技術領域，所述方法包括：獲取待測測試項；獲取策略文件；根據預設的學習模型對待測測試項進行測試，得到第一測試參數；提取策略文件中待測測試項的理論測試參數；若第一測試參數小于理論測試參數，則根據預設的學習模型對待測測試項進行預設次數的重復測試，得到多個測試結果；若多個測試結果均與第一測試參數相等，將第一測試參數作為待測測試項的測試基準值。根據學習模型的學習功能使待測測試項能夠得到測試基準值，能夠快速設置測試參數，不需要人工手動調試測試程序設置測試參數，提高了飛針測試的效率。

技術領域

本發明涉及飛針測試技術領域，尤其涉及一種飛針測試方法、飛針測試裝置、計算機設備、存儲介質。

背景技術

相關技術中，對飛針測試機載板上的PCB板進行測試時，需要人工手動調試測試程序設置PCB板的測試參數，每測試一片PCB板，都需要對該PCB板重新設置測試參數，調試測試程序的時間加長，嚴重影響了飛針測試機測試的效率。

發明內容

本申請實施例的主要目的在于提出一種飛針測試方法、飛針測試裝置、計算機設備、存儲介質，能夠通過學習功能快速設置測試參數，無需人工手動調試測試程序，提高了飛針測試的效率。

為實現上述目的，本申請實施例的第一方面提出了一種飛針測試方法，所述方法包括：

獲取待測測試項；

獲取策略文件；

根據預設的學習模型對所述待測測試項進行測試，得到第一測試參數；

提取所述策略文件中所述待測測試項的理論測試參數；

若所述第一測試參數小于所述理論測試參數，則根據預設的學習模型對所述待測測試項進行預設次數的重復測試，得到多個測試結果；

若多個所述測試結果均與所述第一測試參數相等，將所述第一測試參數作為所述待測測試項的測試基準值。

在一些實施例，所述根據預設的學習模型對所述待測測試項進行測試，得到第一測試參數，包括：

根據預設的分類規則對所述待測測試項進行分類，得到測試集合，所述測試集合為同一類型的多個待測測試項；

根據預設的學習模型對所述測試集合進行測試，得到第一測試參數。

在一些實施例，所述根據預設的學習模型對所述待測測試項進行測試，得到第一測試參數，包括：

獲取相機拍攝的所述待測測試項的飛針位置信息；

根據所述飛針位置信息計算所述待測測試項的飛針測點分布范圍；

根據所述飛針測點分布范圍得到所述待測測試項的測試順序；

根據預設的學習模型和所述測試順序對所述待測測試項進行測試，得到第一測試參數。

在一些實施例，所述獲取相機拍攝的所述待測測試項的飛針位置信息，包括：

獲取所述待測測試項對應的掃描圖像；

獲取所述待測測試項對應的測試圖像；

若所述掃描圖像和所述測試圖像不匹配，根據所述掃描圖像得到基板圖像；

根據預設的拼板旋轉角度將所述基板圖像進行旋轉得到目標圖像；

響應于對所述目標圖像中測點的點擊操作，控制所述相機對所述測點進行拍攝，以獲取所述待測測試項的飛針位置信息。

在一些實施例，所述獲取待測測試項，包括：

獲取PCB板的第一目標區域信息；