[發(fā)明專利]飛針測(cè)試方法、飛針測(cè)試裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210465846.7
• 申請(qǐng)日: 2022-04-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114910778A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-08-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃亮;林湘妙;汪興友;邵勇鋒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳橙子自動(dòng)化有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205
• 代理人: 洪銘福

1.飛針測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待測(cè)測(cè)試項(xiàng)；

獲取策略文件；

根據(jù)預(yù)設(shè)的學(xué)習(xí)模型對(duì)所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，得到第一測(cè)試參數(shù)；

提取所述策略文件中所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的理論測(cè)試參數(shù)；

若所述第一測(cè)試參數(shù)小于所述理論測(cè)試參數(shù)，則根據(jù)預(yù)設(shè)的學(xué)習(xí)模型對(duì)所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的重復(fù)測(cè)試，得到多個(gè)測(cè)試結(jié)果；

若多個(gè)所述測(cè)試結(jié)果均與所述第一測(cè)試參數(shù)相等，將所述第一測(cè)試參數(shù)作為所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試基準(zhǔn)值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)預(yù)設(shè)的學(xué)習(xí)模型對(duì)所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，得到第一測(cè)試參數(shù)，包括：

根據(jù)預(yù)設(shè)的分類規(guī)則對(duì)所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行分類，得到測(cè)試集合，所述測(cè)試集合為同一類型的多個(gè)待測(cè)測(cè)試項(xiàng)；

根據(jù)預(yù)設(shè)的學(xué)習(xí)模型對(duì)所述測(cè)試集合進(jìn)行測(cè)試，得到第一測(cè)試參數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)預(yù)設(shè)的學(xué)習(xí)模型對(duì)所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，得到第一測(cè)試參數(shù)，包括：

獲取相機(jī)拍攝的所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的飛針位置信息；

根據(jù)所述飛針位置信息計(jì)算所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的飛針測(cè)點(diǎn)分布范圍；

根據(jù)所述飛針測(cè)點(diǎn)分布范圍得到所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試順序；

根據(jù)預(yù)設(shè)的學(xué)習(xí)模型和所述測(cè)試順序?qū)λ龃郎y(cè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，得到第一測(cè)試參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的飛針測(cè)試方法，其特征在于，所述獲取相機(jī)拍攝的所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的飛針位置信息，包括：

獲取所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的掃描圖像；

獲取所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試圖像；

若所述掃描圖像和所述測(cè)試圖像不匹配，根據(jù)所述掃描圖像得到基板圖像；

根據(jù)預(yù)設(shè)的拼板旋轉(zhuǎn)角度將所述基板圖像進(jìn)行旋轉(zhuǎn)得到目標(biāo)圖像；

響應(yīng)于對(duì)所述目標(biāo)圖像中測(cè)點(diǎn)的點(diǎn)擊操作，控制所述相機(jī)對(duì)所述測(cè)點(diǎn)進(jìn)行拍攝，以獲取所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的飛針位置信息。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針測(cè)試方法，其特征在于，所述獲取待測(cè)測(cè)試項(xiàng)，包括：

獲取PCB板的第一目標(biāo)區(qū)域信息；

根據(jù)所述第一目標(biāo)區(qū)域信息對(duì)所述PCB板進(jìn)行掃碼操作，得到標(biāo)識(shí)信息；

根據(jù)所述標(biāo)識(shí)信息獲取待測(cè)測(cè)試項(xiàng)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的飛針測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據(jù)視覺(jué)補(bǔ)償算法獲取模板；

根據(jù)所述模板得到所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的標(biāo)記坐標(biāo)；

根據(jù)所述標(biāo)記坐標(biāo)對(duì)所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的原點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行校正。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的飛針測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的第二目標(biāo)區(qū)域信息；

根據(jù)所述第二目標(biāo)區(qū)域信息將所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的PCB板提升預(yù)設(shè)的距離。

8.飛針測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一獲取模塊，用于獲取待測(cè)測(cè)試項(xiàng)；

第二獲取模塊，用于獲取策略文件；

第一測(cè)試模塊，用于根據(jù)預(yù)設(shè)的學(xué)習(xí)模型對(duì)所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，得到第一測(cè)試參數(shù)；

提取模塊，用于提取所述策略文件中所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的理論測(cè)試參數(shù)；

第二測(cè)試模塊，用于若所述第一測(cè)試參數(shù)小于所述理論測(cè)試參數(shù)，則根據(jù)預(yù)設(shè)的學(xué)習(xí)模型對(duì)所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的重復(fù)測(cè)試，得到多個(gè)測(cè)試結(jié)果；

第三測(cè)試模塊，用于若多個(gè)所述測(cè)試結(jié)果均與所述第一測(cè)試參數(shù)相等，將所述第一測(cè)試參數(shù)作為所述待測(cè)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試基準(zhǔn)值。

9.計(jì)算機(jī)設(shè)備，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)設(shè)備包括存儲(chǔ)器和處理器，其中，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有程序，所述程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)所述處理器用于執(zhí)行：

如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法。

10.存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)為計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，在所述計(jì)算機(jī)程序被計(jì)算機(jī)執(zhí)行時(shí)，所述計(jì)算機(jī)用于執(zhí)行：

如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法。