[發明專利]一種觸摸屏采樣率的調整方法、系統、裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 202210449982.7
• 申請日: 2022-04-27
• 公開（公告）號: CN114967972A
• 公開（公告）日: 2022-08-30
• 發明（設計）人: 張沛榮;金連文
• 申請（專利權）人: 華南理工大學
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 鄭宏謀

本發明公開一種觸摸屏采樣率的調整方法、系統、裝置及存儲介質，方法包括：創建曲線類，所述曲線類包括源點、終點和控制點，所述源點、所述終點和所述控制點用于對曲線軌跡進行更新，控制點用于記錄因觸摸屏發生觸碰產生的軌跡點；確定當前所述控制點和上一個所述控制點之間的歐幾里得距離，并根據所述歐幾里得距離確定采樣點的數量；根據曲線軌跡以及所述采樣點的數量確定所述采樣點的信息。本發明通過確定相鄰的控制點之間的歐幾里得距離，來確定當前曲線軌跡上采樣點的數量，并完成曲線軌跡的采樣，這些采樣點是系統原生API無法記錄到的，從而提高了安卓設備的采樣率，而且保證采樣點的真實有效性。本發明可廣泛應用于終端技術領域內。

技術領域

本發明涉及終端技術領域，尤其是一種觸摸屏采樣率的調整方法、系統、裝置及存儲介質。

背景技術

目前，大多數安卓設備通過屏幕傳感器來獲取觸屏時觸點的坐標、壓力等實時信息，可通過安卓編程開發來獲取這些信息。對于需要用戶長時間用手指或手寫筆接觸屏幕以獲取實時信息的項目來說，安卓設備因為其普及性和良好的交互性常被用來作為信息獲取媒介。但是，安卓設備的屏幕信息采樣率比較低，只有約60Hz，對于一些要求高精度的實時數據的場景并不足夠，容易導致數據質量不理想，比如，使用安卓設備進行筆跡數據采集，如果只使用原生的安卓API來獲取數據，60Hz的采樣率會導致設備記錄的用戶手寫信息量比較少；而wacom手寫板等設備的采樣率一般可以達到100到300Hz，，但是其交互性和便利性比安卓設備差。這樣，無法同時兼顧良好的交互和高質量的數據采集。

發明內容

本發明的目的在于至少一定程度上解決現有技術中存在的技術問題之一。

為此，本發明實施例的目的在于提供一種觸摸屏采樣率的調整方法、系統、裝置及存儲介質。

第一方面，本發明實施例提供了一種觸摸屏采樣率的調整方法，包括以下步驟：

創建曲線類，所述曲線類包括源點、終點和控制點，所述源點、所述終點和所述控制點用于對曲線軌跡進行更新，其中，控制點用于記錄因觸摸屏發生觸碰產生的軌跡點；

確定當前所述控制點和上一個所述控制點之間的歐幾里得距離，并根據所述歐幾里得距離確定采樣點的數量；

根據曲線軌跡以及所述采樣點的數量確定所述采樣點的信息。

進一步地，所述觸摸屏采樣率的調整方法還包括以下步驟：

創建點類，所述點類用于記錄因觸碰產生的觸點信息。

進一步地，所述觸摸屏采樣率的調整方法還包括以下步驟：

創建筆類，所述筆類通過重寫觸控事件函數來檢測觸摸移動事件以更新所述控制點；

所述筆類根據所述曲線類提供的調用接口獲取根據所述控制點更新后的所述曲線軌跡上的采樣點的信息。

進一步地，所述觸摸屏采樣率的調整方法還包括以下步驟：

創建觸屏控制類，所述觸屏控制類調用所述筆類提供的上層接口來重寫所述觸控事件函數以獲取所述控制點更新后的所述曲線軌跡上的采樣點的信息。

進一步地，所述觸摸屏采樣率的調整方法還包括以下步驟：

創建全局列表，所述全局列表用于存所述儲筆類獲取的所述曲線軌跡上的點的信息。

進一步地，所述根據曲線軌跡以及所述采樣點的數量確定所述采樣點的信息這一步驟，包括以下步驟：

根據所述采樣點的數量確定采樣變量；

根據所述采樣變量確定所述曲線軌跡上的采樣點的信息。

進一步地，所述曲線軌跡的表達式如下：

a＝D.v-2×C.v+S.v