[發明專利]一種觸摸屏采樣率的調整方法、系統、裝置及存儲介質在審
| 申請號: | 202210449982.7 | 申請日: | 2022-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN114967972A | 公開(公告)日: | 2022-08-30 |
| 發明(設計)人: | 張沛榮;金連文 | 申請(專利權)人: | 華南理工大學 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人: | 鄭宏謀 |
| 地址: | 510641 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 觸摸屏 采樣率 調整 方法 系統 裝置 存儲 介質 | ||
1.一種觸摸屏采樣率的調整方法,其特征在于,包括以下步驟:
創建曲線類,所述曲線類包括源點、終點和控制點,所述源點、所述終點和所述控制點用于對曲線軌跡進行更新,其中,控制點用于記錄因觸摸屏發生觸碰產生的軌跡點;
確定當前所述控制點和上一個所述控制點之間的歐幾里得距離,并根據所述歐幾里得距離確定采樣點的數量;
根據曲線軌跡以及所述采樣點的數量確定所述采樣點的信息。
2.根據權利要求1所述的一種觸摸屏采樣率的調整方法,其特征在于,所述觸摸屏采樣率的調整方法還包括以下步驟:
創建點類,所述點類用于記錄因觸碰產生的觸點信息。
3.根據權利要求1所述的一種觸摸屏采樣率的調整方法,其特征在于,所述觸摸屏采樣率的調整方法還包括以下步驟:
創建筆類,所述筆類通過重寫觸控事件函數來檢測觸摸移動事件以更新所述控制點;
所述筆類根據所述曲線類提供的調用接口獲取根據所述控制點更新后的所述曲線軌跡上的采樣點的信息。
4.根據權利要求3所述的一種觸摸屏采樣率的調整方法,其特征在于,所述觸摸屏采樣率的調整方法還包括以下步驟:
創建觸屏控制類,所述觸屏控制類調用所述筆類提供的上層接口來重寫所述觸控事件函數以獲取所述控制點更新后的所述曲線軌跡上的采樣點的信息。
5.根據權利要求3所述的一種觸摸屏采樣率的調整方法,其特征在于,所述觸摸屏采樣率的調整方法還包括以下步驟:
創建全局列表,所述全局列表用于存所述儲筆類獲取的所述曲線軌跡上的點的信息。
6.根據權利要求1所述的一種觸摸屏采樣率的調整方法,其特征在于,所述根據曲線軌跡以及所述采樣點的數量確定所述采樣點的信息這一步驟,包括以下步驟:
根據所述采樣點的數量確定采樣變量;
根據所述采樣變量確定所述曲線軌跡上的采樣點的信息。
7.根據權利要求6所述的一種觸摸屏采樣率的調整方法,其特征在于,所述曲線軌跡的表達式如下:
a=D.v-2×C.v+S.v
b=2×(C.v-S.v)
P.v=a×t2+b×t+S.v
其中,S.v表示所述源點的信息,D.v表示所述終點的信息,C.v表示所述控制點的信息,P.v為二次函數表達式,a和b為該二次函數表達式的參數,t為所述采樣變量。
8.一種觸摸屏采樣率的調整系統,其特征在于,包括:
軌跡更新模塊,用于創建曲線類,所述曲線類包括源點、終點和控制點,所述源點、所述終點和所述控制點用于對曲線軌跡進行更新,其中,控制點用于記錄因觸摸屏發生觸碰產生的軌跡點;
距離確定模塊,用于確定當前所述控制點和上一個所述控制點之間的歐幾里得距離,并根據所述歐幾里得距離確定采樣點的數量;
采樣點確定模塊,用于根據曲線軌跡以及所述采樣點的數量確定所述采樣點的信息。
9.一種觸摸屏采樣率的調整裝置,其特征在于,包括:
至少一個處理器;
至少一個存儲器,用于存儲至少一個程序;
當所述至少一個程序被所述至少一個處理器執行,使得所述至少一個處理器實現如權利要求1-7中任一項所述的一種觸摸屏采樣率的調整方法。
10.一種存儲介質,其中存儲有處理器可執行的程序,其特征在于,所述處理器可執行的程序在由處理器執行時用于實現如權利要求1-7中任一項所述的一種觸摸屏采樣率的調整方法。
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