[發明專利]一種SPI測試的裝置和服務器

在審

• 申請號: 202210440096.8
• 申請日: 2022-04-25
• 公開（公告）號: CN114966364A
• 公開（公告）日: 2022-08-30
• 發明（設計）人: 蔡政庭
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京連和連知識產權代理有限公司 11278
• 代理人: 楊帆;朝魯蒙

1.一種SPI測試的裝置，其特征在于，包括：

連接部，所述連接部由若干個L形金屬針組成，L形金屬針的一端連接到串行閃存插槽上以與串行外設接口的對應引腳相連接；

測試部，所述測試部包括底座和測試針，底座連接到L形金屬針的另一端上，底座上設置有信號導線，測試針設置在底座的信號導線上方，每個測試針通過信號導線與L形金屬針連接的預設引腳相連接。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，連接部包括兩組連接組件，每組連接組件包括8個L形金屬針，兩組連接組件分別連接到串行閃存插槽的兩側。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，L形金屬針為低傳輸損耗的金針，每個L形金屬針的直徑為0.7mm，L形金屬針之間的距離為1.27mm。

4.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，測試部的底座上包括兩排連接孔，每排連接孔設置為8個連接孔，每個連接孔的直徑為0.72mm。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，測試針包括短腳測試針和長腳測試針，短腳測試針的直徑為1mm，長度為6mm，短腳測試針通過底座上設置的信號導線分別連接到/CS引腳、DO引腳、DI引腳和CLK引腳，長腳測試針的直徑為1mm，長度為15mm，長腳測試針通過底座上設置的信號導線連接到GND引腳，短腳測試針與長腳測試針的間距大于5mm。

6.一種服務器，其特征在于，所述服務器包括SPI測試的裝置，所述SPI測試的裝置包括：

連接部，所述連接部由若干個L形金屬針組成，L形金屬針的一端連接到串行閃存插槽上以與串行外設接口的對應引腳相連接；

測試部，所述測試部包括底座和測試針，底座連接到L形金屬針的另一端上，底座上設置有信號導線，測試針設置在底座的信號導線上方，每個測試針通過信號導線與L形金屬針連接的預設引腳相連接。

7.根據權利要求6所述的服務器，其特征在于，連接部包括兩組連接組件，每組連接組件包括8個L形金屬針，兩組連接組件分別連接到串行閃存插槽的兩側。

8.根據權利要求7所述的服務器，其特征在于，L形金屬針為低傳輸損耗的金針，每個L形金屬針的直徑為0.7mm，L形金屬針之間的距離為1.27mm。

9.根據權利要求6所述的服務器，其特征在于，測試部的底座上包括兩排連接孔，每排連接孔設置為8個連接孔，每個連接孔的直徑為0.72mm。

10.根據權利要求9所述的服務器，其特征在于，測試針包括短腳測試針和長腳測試針，短腳測試針的直徑為1mm，長度為6mm，短腳測試針通過底座上設置的信號導線分別連接到/CS引腳、DO引腳、DI引腳和CLK引腳，長腳測試針的直徑為1mm，長度為15mm，長腳測試針通過底座上設置的信號導線連接到GND引腳，短腳測試針與長腳測試針的間距大于5mm。