[發(fā)明專利]智能卡測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)

有效

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• 申請日: 2022-04-21
• 公開（公告）號: CN114780313B
• 公開（公告）日: 2023-09-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 梁雪煥;袁外平;鄧振東
• 申請（專利權(quán)）人: 星漢智能科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205
• 代理人: 張志輝

本發(fā)明公開了一種智能卡測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，其中該方法包括：通過配置模塊對智能卡的測試信息進(jìn)行配置，其中所述配置模塊包括不同測試平臺的測試配置，所述測試信息包括智能卡類型、所述智能卡測試的應(yīng)用類型、所述智能卡的讀卡器類型；根據(jù)所述讀卡器類型確定目標(biāo)讀卡器，通過所述目標(biāo)讀卡器讀取所述智能卡的智能卡數(shù)據(jù)；通過所述智能卡類型調(diào)用目標(biāo)測試模塊，根據(jù)所述目標(biāo)測試模塊獲取目標(biāo)測試用例；根據(jù)所述應(yīng)用類型確定目標(biāo)測試腳本，基于所述目標(biāo)測試腳本，通過所述目標(biāo)測試用例對所述智能卡數(shù)據(jù)中進(jìn)行測試。本發(fā)明通過提出一種智能卡測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，以兼容不同的智能卡測試平臺、提高智能卡的測試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及智能卡測試領(lǐng)域，尤其是智能卡測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

目前，智能卡在銀行、SIM卡、醫(yī)療卡、交通卡、門禁卡等上面的需求越來越大，同時(shí)對智能卡的功能驗(yàn)證測試也提出更高的要求，在各種不同的智能卡功能測試驗(yàn)證中，需要使用與其相對應(yīng)的測試平臺對其進(jìn)行功能測試驗(yàn)證，當(dāng)所有的測試平臺都放在同一個(gè)測試系統(tǒng)時(shí)，如果每一個(gè)測試平臺都是相互獨(dú)立不交叉的、不兼容的，那么會造成測試系統(tǒng)非常臃腫，在測試過程中占用操作系統(tǒng)的空間過大造成測試效率低下。

同時(shí)，智能卡應(yīng)用在不斷產(chǎn)生，測試人員需要針對每一種智能卡應(yīng)用開發(fā)對應(yīng)的測試腳本，應(yīng)用越復(fù)雜開發(fā)量越大，傳統(tǒng)的方法是靠測試人員針對新應(yīng)用的測試點(diǎn)逐個(gè)開發(fā)對應(yīng)的測試用例，這樣導(dǎo)致的工作效率非常低。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例提供一種智能卡測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)。以兼容各種類型的智能卡測試平臺并且提升智能卡的測試效率及開發(fā)效率。

本發(fā)明的第一方面提供了一種智能卡測試方法，包括：通過配置模塊對智能卡的測試信息進(jìn)行配置，其中所述配置模塊包括不同測試平臺的測試配置，所述測試信息包括智能卡類型、所述智能卡測試的應(yīng)用類型、所述智能卡的讀卡器類型；根據(jù)所述讀卡器類型確定目標(biāo)讀卡器，通過所述目標(biāo)讀卡器讀取所述智能卡的智能卡數(shù)據(jù)；通過所述智能卡類型調(diào)用目標(biāo)測試模塊，根據(jù)所述目標(biāo)測試模塊獲取目標(biāo)測試用例，其中所述目標(biāo)測試模塊用于提供生成目標(biāo)測試用例的接口；根據(jù)所述應(yīng)用類型確定目標(biāo)測試腳本，基于所述目標(biāo)測試腳本，通過所述目標(biāo)測試用例對所述智能卡數(shù)據(jù)中進(jìn)行測試。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的智能卡測試方法，至少具有如下有益效果：通過智能的測試信息進(jìn)行配置，從而調(diào)用目標(biāo)測試模塊生成目標(biāo)測試用例，并且得到目標(biāo)讀卡器用來對智能卡進(jìn)行讀卡操作，將目標(biāo)測試用例根據(jù)目標(biāo)測試腳本對智能卡數(shù)據(jù)進(jìn)行測試。通過這種方法，使得支持、兼容不同的智能卡測試平臺，提升測試效率，對降低測試系統(tǒng)的臃腫，緩解對計(jì)算機(jī)內(nèi)存的占用率提升測試速度。

根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例，所述通過所述智能卡類型調(diào)用目標(biāo)測試模塊，根據(jù)所述目標(biāo)測試模塊獲取目標(biāo)測試用例，包括：確定所述智能卡類型為SIM卡，則調(diào)用第一測試模塊，其中所述第一測試模塊包括第一測試用例、第一指令測試集和第一算法，其中所述第一指令測試集封裝了所述第一測試模塊中的所有指令，通過所述第一指令測試集生成第一測試接口；通過所述第一算法調(diào)用第一測試接口加載應(yīng)用測試模塊，其中所述應(yīng)用測試模塊包括：應(yīng)用測試用例；獲取所述第一測試用例中符合所述應(yīng)用測試用例的測試數(shù)據(jù)，生成所述目標(biāo)測試用例，其中，所述第一測試模塊和所述應(yīng)用測試模塊都屬于目標(biāo)測試模塊，所述目標(biāo)測試用例由測試數(shù)據(jù)組成。

根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例，所述通過所述智能卡類型調(diào)用目標(biāo)測試模塊，根據(jù)所述目標(biāo)測試模塊獲取目標(biāo)測試用例，包括：確定所述智能卡類型為非SIM卡，則調(diào)用第二測試模塊，其中所述第二測試模塊包括第二測試用例、第二指令測試集和第二算法，其中所述第二指令測試集封裝了所述第二測試模塊中的所有指令，通過所述指令測試集生成第二測試接口；所述第二算法調(diào)用第二測試接口加載應(yīng)用測試模塊，其中所述應(yīng)用測試模塊包括：應(yīng)用測試用例；獲取所述第二測試用例中符合所述應(yīng)用測試用例的測試數(shù)據(jù)，生成所述目標(biāo)測試用例，其中，所述第二測試模塊和所述應(yīng)用測試模塊都屬于目標(biāo)測試模塊，所述目標(biāo)測試用例由測試數(shù)據(jù)組成。