[發明專利]智能卡測試方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202210420991.3
• 申請日: 2022-04-21
• 公開（公告）號: CN114780313B
• 公開（公告）日: 2023-09-15
• 發明（設計）人: 梁雪煥;袁外平;鄧振東
• 申請（專利權）人: 星漢智能科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 張志輝

1.一種智能卡測試方法，其特征在于，包括：

通過配置模塊對智能卡的測試信息進行配置，其中所述配置模塊包括不同測試平臺的測試配置，所述測試信息包括智能卡類型、所述智能卡測試的應用類型、所述智能卡的讀卡器類型；

根據所述讀卡器類型確定目標讀卡器，通過所述目標讀卡器讀取所述智能卡的智能卡數據；

通過所述智能卡類型調用目標測試模塊，根據所述目標測試模塊獲取目標測試用例，其中所述目標測試模塊用于提供生成目標測試用例的接口；

根據所述應用類型確定目標測試腳本，基于所述目標測試腳本，通過所述目標測試用例對所述智能卡數據中進行測試；

其中，所述通過所述智能卡類型調用目標測試模塊，根據所述目標測試模塊獲取目標測試用例，其中所述目標測試模塊用于提供生成目標測試用例的接口，包括以下步驟：

確定所述智能卡類型為SIM卡，則調用第一測試模塊，其中所述第一測試模塊包括第一測試用例、第一指令測試集和第一算法，其中所述第一指令測試集封裝了所述第一測試模塊中的所有指令，通過所述第一指令測試集生成第一測試接口；通過所述第一算法調用第一測試接口加載應用測試模塊，其中所述應用測試模塊包括：應用測試用例；獲取所述第一測試用例中符合所述應用測試用例的測試數據，生成所述目標測試用例，其中，所述第一測試模塊和所述應用測試模塊都屬于目標測試模塊，所述目標測試用例由測試數據組成；

確定所述智能卡類型為非SIM卡，則調用第二測試模塊，其中所述第二測試模塊包括第二測試用例、第二指令測試集和第二算法，其中所述第二指令測試集封裝了所述第二測試模塊中的所有指令，通過所述指令測試集生成第二測試接口；所述第二算法調用第二測試接口加載應用測試模塊，其中所述應用測試模塊包括：應用測試用例；獲取所述第二測試用例中符合所述應用測試用例的測試數據，生成所述目標測試用例，其中，所述第二測試模塊和所述應用測試模塊都屬于目標測試模塊，所述目標測試用例由測試數據組成；

其中，生成所述應用測試用例的方法包括以下步驟：

確定添加新應用，獲取應用的測試數據；

通過所述應用測試模塊的接口，使得應用添加模塊獲取測試模板，根據所述測試模板對所述測試數據進行調整得到模板測試用例，其中所述應用添加模塊用于提供應用支持的指令接口，所述測試模板由測試指令構成，所述測試指令表征用于生成測試用例的指令；

通過所述應用測試模塊的接口，使得所述應用添加模塊將所述模板測試用例傳輸到所述應用測試模塊作為所述應用測試用例。

2.根據權利要求1所述的智能卡測試方法，其特征在于，所述確定所述智能卡類型為非SIM卡，則調用第二測試模塊包括：

獲取所述測試信息，確定所述測試信息中包括EMV標準中的信息，則調用的所述第二測試模塊為EMV測試模塊，否則調用的所述第二測試模塊為非SIM卡測試模塊。

3.根據權利要求1所述的智能卡測試方法，其特征在于，所述通過所述應用測試模塊的接口，使得應用添加模塊獲取測試模板，根據所述測試模板對所述測試數據進行調整得到模板測試用例包括：

確定所述目標讀卡器為接觸接口，則設置測試界面為接觸界面；

確定所述目標讀卡器為非接觸式接口，則設置測試界面為非接觸界面；

根據所述測試模板中所述測試指令，在所述測試界面上對所述測試數據進行調整。

4.根據權利要求1所述的智能卡測試方法，其特征在于，所述根據所述讀卡器類型確定目標讀卡器，通過所述目標讀卡器讀取所述智能卡的智能卡數據包括：

獲取所述智能卡數據，確定所述智能卡數據中包含垃圾數據，則將所述垃圾數據進行刪除，其中，所述垃圾數據包括寫入到應用中的實例數據。