[發明專利]電路測試裝置

有效

• 申請號: 202210417865.2
• 申請日: 2022-04-21
• 公開（公告）號: CN114545210B
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發明（設計）人: 劉勇;孫燈群;張超;段良軍;張賓;朱齊飛;朱春麗;李婉君
• 申請（專利權）人: 立臻精密智造（昆山）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 北京睿派知識產權代理事務所(普通合伙) 11597
• 代理人: 劉鋒

本發明實施例的電路測試裝置，利用導電件的觸點端的觸點與被測電路的觸點相連接，以及在多個導電件之間電連接的短接結構和充電部件，能夠實現對被測電路的快速充放電切換。另一方面，在導電件的連接端還設置有連接部，該連接部對多個導電件進行固定，從而使電路測試人員可以單手握持該電路測試裝置，極大的降低了操作難度。實現了電路測試裝置小型化和集成化。

技術領域

本發明涉及電路測試技術領域，尤其涉及一種電路測試裝置。

背景技術

手機或平板電腦等3C電子產品在硬件功能檢測時，會對產品主板進行充放電操作，從而測試主板在不同狀態下的性能參數。目前，常使用的方法為自然充放電，也即將充電器與主板進行連接。但是此種方式切換充放電操作較為繁瑣，極大的影響了電子產品的充放電速度。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供了一種電路測試裝置，通過對短接結構和充電部件的切換導通，從而實現對被測電路的充放電操作。

本發明實施例的電路測試裝置包括：

連接部；

短接結構；

充電部件，包括開關以及與所述開關電連接的電源；

多個導電件，多個所述導電件間隔設置，多個所述導電件通過所述充電部件電連接，多個所述導電件通過所述短接結構電連接，所述導電件具有相對設置的觸點端和連接端，各所述連接端通過所述連接部彼此連接；

所述短接結構與所述導電件的一區域電連接，所述充電部件與所述導電件的另一區域電連接，所述短接結構在放電狀態下導通，使得所述多個導電件等電勢，所述開關在充電狀態下導通，使得所述充電部件在多個所述導電件之間形成電勢差。

進一步地，所述充電部件與所述觸點端附近區域電連接，所述短接結構所述連接端的附近區域電連接；或

所述短接結構與所述觸點端的附近區域電連接，所述充電部件與所述連接端的附近區域電連接。

進一步地，多個所述導電件包括第一導電件和第二導電件；

所述連接部被夾持于所述第一導電件和所述第二導電件之間，以使得所述第一導電件和所述第二導電件上的2個所述觸點端具有張開以及收緊量。

進一步地，所述第一導電件和所述第二導電件為片狀結構，所述第一導電件和所述第二導電件沿所述片狀結構的厚度方向排列。

進一步地，所述連接部包括：

電池槽，所述電池槽開設于所述連接部朝向所述第一導電件和所述第二導電件的相對側位置。

進一步地，所述開關包括按鈕，所述按鈕凸設于所述第一導電件背離所述第二導電件的一側。

進一步地，所述短接結構包括成對設置的第一部分和第二部分，所述第一部分和所述第二部分分別設置于所述第一導電件和所述第二導電件上，且朝向所述第一導電件和所述第二導電件的相對側，所述第一部分和所述第二部分通過相互搭接和拆分以實現所述第一導電件和所述第二導電件通斷。

進一步地，所述第一部分為卡勾，所述第二部分為卡扣。

進一步地，所述片狀結構具有帶狀區域，所述帶狀區域由所述連接端向所述觸點端延伸，所述第一導電件具有螺紋通孔；

所述第一部分包括與所述螺紋通孔對應的調節螺栓 ，所述調節螺栓沿朝向所述第二導電件的方向穿設在所述螺紋通孔內，所述第二部分包括斷開套塊，所述斷開套塊套設于所述第二導電件的所述帶狀區域；

所述斷開套塊的位置被配置為在所述短接結構處于斷開狀態時，所述斷開套塊滑移至與所述調節螺栓對應位置，在所述短接結構處于導通狀態時，所述斷開套塊滑移至與所述調節螺栓相互錯開位置。