[發明專利]電路測試裝置有效
| 申請號: | 202210417865.2 | 申請日: | 2022-04-21 |
| 公開(公告)號: | CN114545210B | 公開(公告)日: | 2022-07-29 |
| 發明(設計)人: | 劉勇;孫燈群;張超;段良軍;張賓;朱齊飛;朱春麗;李婉君 | 申請(專利權)人: | 立臻精密智造(昆山)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京睿派知識產權代理事務所(普通合伙) 11597 | 代理人: | 劉鋒 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電路 測試 裝置 | ||
1.一種電路測試裝置,其特征在于,所述電路測試裝置包括:
連接部(2);
短接結構(4);
充電部件(3),包括開關(31)以及與所述開關(31)電連接的電源(32);
多個導電件(1),多個所述導電件(1)間隔設置,多個所述導電件(1)通過所述充電部件(3)電連接,多個所述導電件(1)通過所述短接結構(4)電連接,所述導電件(1)具有相對設置的觸點端(11)和連接端(12),各所述連接端(12)通過所述連接部(2)彼此連接;
所述短接結構(4)與所述導電件(1)的一區域電連接,所述充電部件(3)與所述導電件(1)的另一區域電連接,所述短接結構(4)在放電狀態下導通,使得所述多個導電件(1)等電勢,所述開關(31)在充電狀態下導通,使得所述充電部件(3)在多個所述導電件(1)之間形成電勢差;
多個所述導電件(1)包括第一導電件(13)和第二導電件(14),所述第一導電件(13)和所述第二導電件(14)為片狀結構;
所述短接結構(4)包括成對設置的第一部分和第二部分,所述第一部分和所述第二部分分別設置于所述第一導電件(13)和所述第二導電件(14)上,且朝向所述第一導電件(13)和所述第二導電件(14)的相對側,所述第一部分和所述第二部分通過相互搭接和拆分以實現所述第一導電件(13)和所述第二導電件(14)通斷;
所述片狀結構具有帶狀區域(15),所述帶狀區域(15)由所述連接端(12)向所述觸點端(11)延伸,所述第一導電件(13)具有螺紋通孔(16);
所述第一部分包括與所述螺紋通孔(16)對應的調節螺栓(43),所述調節螺栓(43)沿朝向所述第二導電件(14)的方向穿設在所述螺紋通孔(16)內,所述第二部分包括斷開套塊(44),所述斷開套塊(44)套設于所述第二導電件(14)的所述帶狀區域(15);
所述斷開套塊(44)的位置被配置為在所述短接結構(4)處于斷開狀態時,所述斷開套塊(44)滑移至與所述調節螺栓(43)對應位置,在所述短接結構(4)處于導通狀態時,所述斷開套塊(44)滑移至與所述調節螺栓(43)相互錯開位置。
2.根據權利要求1所述的電路測試裝置,其特征在于,所述充電部件(3)與所述觸點端(11)附近區域電連接,所述短接結構(4)與所述連接端(12)的附近區域電連接;或
所述短接結構(4)與所述觸點端(11)的附近區域電連接,所述充電部件(3)與所述連接端(12)的附近區域電連接。
3.根據權利要求1所述的電路測試裝置,其特征在于,
所述連接部(2)被夾持于所述第一導電件(13)和所述第二導電件(14)之間,以使得所述第一導電件(13)和所述第二導電件(14)上的2個所述觸點端(11)具有張開以及收緊量。
4.根據權利要求3所述的電路測試裝置,其特征在于,所述第一導電件(13)和所述第二導電件(14)沿所述片狀結構的厚度方向排列。
5.根據權利要求3所述的電路測試裝置,其特征在于,所述連接部包括:
電池槽(21),所述電池槽(21)開設于所述連接部(2)朝向所述第一導電件(13)和所述第二導電件(14)的相對側位置。
6.根據權利要求3所述的電路測試裝置,其特征在于,所述開關(31)包括按鈕,所述按鈕凸設于所述第一導電件(13)背離所述第二導電件(14)的一側。
7.根據權利要求1所述的電路測試裝置,其特征在于,所述第一部分為卡勾(41),所述第二部分為卡扣(42)。
8.根據權利要求1所述的電路測試裝置,其特征在于,所述第二部分還包括:
導通套塊(45),所述導通套塊(45)套設于所述第二導電件(14)的所述帶狀區域(15),在所述短接結構(4)處于導通狀態時,所述導通套塊(45)滑移至與所述調節螺栓(43)對應位置。
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