[發明專利]一種小型圓錐錐度檢測誤差分析方法、裝置、終端及介質

在審

• 申請號: 202210412842.2
• 申請日: 2022-04-19
• 公開（公告）號: CN115371616A
• 公開（公告）日: 2022-11-22
• 發明（設計）人: 尚謙;祝小超;鄧文;邸太龍;李倩;劉桂榮;楊英朵;何艷玲;王彬彬;曹巍林
• 申請（專利權）人: 中國第一汽車股份有限公司
• 主分類號: G01B21/20
• 分類號: G01B21/20
• 代理公司: 長春吉大專利代理有限責任公司 22201
• 代理人: 朱世林;牟風平

1.一種小型圓錐錐度檢測誤差分析方法，其特征在于，包括：

當接收到誤差分析請求時，分別獲取所述誤差分析請求中小型圓錐相關數據和圓錐錐度檢測誤差值；

通過所述小型圓錐相關數據和圓錐錐度檢測誤差值得出小型圓錐錐度檢測補償值。

2.根據權利要求1所述的一種小型圓錐錐度檢測誤差分析方法，其特征在于，所述小型圓錐相關數據包括：小型圓錐圓臺小徑、小型圓錐圓臺大徑、小型圓錐圓臺角度和小型圓錐圓臺高度。

3.根據權利要求2所述的一種小型圓錐錐度檢測誤差分析方法，其特征在于，所述圓錐錐度檢測誤差值包括：測量坐標系原點沿Y軸方向與工件軸線偏移誤差和測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移誤差角度。

4.根據權利要求3所述的一種小型圓錐錐度檢測誤差分析方法，其特征在于，所述小型圓錐錐度檢測補償值包括：測量坐標系原點沿Y軸方向與工件軸線偏移后圓臺錐線角度和測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移后圓臺錐線角度。

5.根據權利要求4所述的一種小型圓錐錐度檢測誤差分析方法，其特征在于，通過所述小型圓錐相關數據和圓錐錐度檢測誤差值得出小型圓錐錐度檢測補償值，包括：

當所述圓錐錐度檢測誤差值為測量坐標系原點沿Y軸方向與工件軸線偏移誤差時，通過所述小型圓錐相關數據和測量坐標系原點沿Y軸方向與工件軸線偏移誤差得到測量坐標系原點沿Y軸方向與工件軸線偏移后圓臺錐線角度；

當所述圓錐錐度檢測誤差值為測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移誤差角度時，通過所述小型圓錐相關數據和測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移誤差角度得到測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移后圓臺錐線角度。

6.根據權利要求5所述的一種小型圓錐錐度檢測誤差分析方法，其特征在于，通過所述小型圓錐相關數據和測量坐標系原點沿Y軸方向與工件軸線偏移誤差得到測量坐標系原點沿Y軸方向與工件軸線偏移后圓臺錐線角度，包括：

所述小型圓錐相關數據和測量坐標系原點沿Y軸方向與工件軸線偏移誤差通過公式(1)得到測量坐標系原點沿Y軸方向與工件軸線偏移后圓臺錐線角度：

其中：D1為小型圓錐圓臺小徑，D2為小型圓錐圓臺大徑，θ1為小型圓錐圓臺角度，H為小型圓錐圓臺高度，θ2為測量坐標系原點沿Y軸方向與工件軸線偏移后圓臺錐線角度。

7.根據權利要求6所述的一種小型圓錐錐度檢測誤差分析方法，其特征在于，通過所述小型圓錐相關數據和測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移誤差角度得到測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移后圓臺錐線角度，包括：

所述小型圓錐相關數據和測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移誤差角度通過公式(2)得到測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移后圓臺錐線角度：

其中，θ3為測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移誤差角度，θ4為測量坐標系與工件平面坐標系角度偏移后圓臺錐線角度。

8.一種小型圓錐錐度檢測誤差分析裝置，其特征在于，所述分析裝置包括：

獲取模塊，用于當接收到誤差分析請求時，分別獲取所述誤差分析請求中小型圓錐相關數據和圓錐錐度檢測誤差值；

執行模塊，用于通過所述小型圓錐相關數據和圓錐錐度檢測誤差值得出小型圓錐錐度檢測補償值。

9.一種終端，其特征在于，包括：

一個或多個處理器；

用于存儲所述一個或多個處理器可執行指令的存儲器；

其中，所述一個或多個處理器被配置為：

執行如權利要求1至7任一所述的一種小型圓錐錐度檢測誤差分析方法。

10.一種非臨時性計算機可讀存儲介質，其特征在于，當所述存儲介質中的指令由終端的處理器執行時，使得終端能夠執行如權利要求1至7任一所述的一種小型圓錐錐度檢測誤差分析方法。