[發明專利]一種用于層狀單晶樣品退孿晶的裝置及方法

有效

• 申請號: 202210401544.3
• 申請日: 2022-04-18
• 公開（公告）號: CN114839009B
• 公開（公告）日: 2023-02-07
• 發明（設計）人: 劉瑞鮮;魯興業
• 申請（專利權）人: 北京師范大學
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28;G01N1/36;G01N23/20025;G01N23/2055;G01N27/04
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 王喆

1.一種用于層狀單晶樣品退孿晶的裝置，其特征在于，包括：

具有內腔的金屬外框；以及

位于金屬外框內腔中的金屬片；

所述金屬片的兩端與金屬外框固定；

所述金屬外框的熱膨脹系數小于金屬片的熱膨脹系數；

所述金屬片被配置為用以承載固定樣品，在低溫環境下，由于金屬外框與金屬片的熱膨脹系數差異，金屬片受到拉力并將拉伸應變傳遞給樣品；

所述金屬片包括中間區，位于中間區兩端的兩個過渡區，以及兩個分別形成于兩個過渡區的遠離中間區一端的用以與金屬外框結合固定的固定區；

所述過渡區的兩側邊部朝向中間區逐漸變窄；

定義，所述金屬外框的長度方向為第一方向，所述金屬外框的寬度方向為第二方向，所述金屬外框的高度方向為第三方向；

所述金屬片沿所述第一方向設置；

第一方向上所述金屬外框的尺寸為95mm，第二方向上所述金屬外框的尺寸為45mm，第三方向上所述金屬外框的尺寸為5mm；

第一方向上所述中間區的尺寸為20mm，第二方向上所述中間區的尺寸為15mm，第三方向上所述中間區的尺寸為0.2mm；

第一方向上所述固定區的尺寸為7mm，第二方向上所述固定區的尺寸為35mm，第三方向上所述固定區的尺寸為0.2mm。

2.根據權利要求1所述的用于層狀單晶樣品退孿晶的裝置，其特征在于，所述中間區與過渡區的連接處及過渡區與固定區的連接處均包括弧形過渡部。

3.根據權利要求1所述的用于層狀單晶樣品退孿晶的裝置，其特征在于，所述中間區的兩側邊部呈直邊；

所述過渡區的兩側邊部呈逐漸聚攏的斜邊。

4.根據權利要求1所述的用于層狀單晶樣品退孿晶的裝置，其特征在于，所述裝置還包括有形成于金屬外框上的用以與外部設備連接的連接部。

5.根據權利要求1所述的用于層狀單晶樣品退孿晶的裝置，其特征在于，所述金屬外框的材質為因瓦合金；所述金屬片的材質為6061鋁合金。

6.根據權利要求1所述的用于層狀單晶樣品退孿晶的裝置，其特征在于，所述裝置包括兩個排列于金屬片兩端的且與金屬外框固定的夾持固定件，所述金屬片位于兩夾持固定件之間；兩個夾持固定件被配置為將金屬片夾持固定在金屬外框內。

7.一種采用如權利要求1-6任意一項所述的裝置的用于層狀單晶樣品退孿晶的方法，其特征在于，所述方法包括：

將金屬片的兩端與金屬外框固定；

將層狀單晶樣品固定于金屬片上；

低溫環境下，由于金屬外框的熱膨脹系數小于金屬片的熱膨脹系數，金屬片受到拉力并將拉伸應變傳遞給樣品；

對樣品進行分析；

所述分析包括各項異性電阻率測試或彈性中子衍射測量。

8.根據權利要求7所述的用于層狀單晶樣品退孿晶的方法，其特征在于，

金屬片兩端通過夾持固定件固定于金屬外框內，所述方法進一步包括：

在金屬片與夾持固定件以及金屬外框的接觸位置均勻涂抹STYCAST 2850FT膠水，并在65℃溫度下，持續2小時烤干。