[發(fā)明專利]用于非易失性存儲(chǔ)器的擦除方法和上電修復(fù)方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210366516.2 | 申請日: | 2022-04-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114758689A | 公開(公告)日: | 2022-07-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 安友偉 | 申請(專利權(quán))人: | 珠海博雅科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11C7/20 | 分類號(hào): | G11C7/20;G11C16/34 |
| 代理公司: | 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡純;張靖琳 |
| 地址: | 519080 廣東省珠海市唐家灣鎮(zhèn)大學(xué)路*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 非易失性存儲(chǔ)器 擦除 方法 修復(fù) | ||
本發(fā)明公開了一種用于非易失性存儲(chǔ)器的擦除方法及上電修復(fù)方法,非易失性存儲(chǔ)器包括多個(gè)用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的區(qū)域,擦除方法包括:將選定區(qū)域?qū)?yīng)的標(biāo)志位標(biāo)記為第一狀態(tài),標(biāo)志位位于狀態(tài)標(biāo)志區(qū);對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行擦除操作;將選定區(qū)域?qū)?yīng)的標(biāo)志位標(biāo)記為第二狀態(tài)。上電修復(fù)方法包括上述擦除方法,以及在非易失性存儲(chǔ)器上電后讀取標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū);若標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū)包括處于第一狀態(tài)的標(biāo)志位,則判斷標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū)的對(duì)應(yīng)區(qū)域是否包括過擦除存儲(chǔ)單元;若對(duì)應(yīng)區(qū)域包括過擦除存儲(chǔ)單元,則在過擦除存儲(chǔ)單元所在字線施加第二電壓;重復(fù)上述流程,直至遍歷標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū),從而減小或消除意外掉電對(duì)非易失性存儲(chǔ)器的不良影響,提高非易失性存儲(chǔ)器的可靠性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及存儲(chǔ)器技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種用于非易失性存儲(chǔ)器的擦除方法和上電修復(fù)方法。
背景技術(shù)
在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中使用的存儲(chǔ)器可以根據(jù)斷電狀態(tài)下的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)能力分為易失性存儲(chǔ)器和非易失性存儲(chǔ)器。易失性存儲(chǔ)器僅在上電狀態(tài)下存儲(chǔ)數(shù)據(jù),在斷電狀態(tài)下?lián)p失數(shù)據(jù),例如,包括靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SRAM)和動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)。非易失性存儲(chǔ)器在上電狀態(tài)下和斷電狀態(tài)下均可存儲(chǔ)數(shù)據(jù),例如包括傳統(tǒng)上稱為只讀存儲(chǔ)器(ROM)的多種存儲(chǔ)器。只讀存儲(chǔ)器例如包括NAND閃存和NOR閃存。
在實(shí)際使用中,通常需要對(duì)非易失性存儲(chǔ)器進(jìn)行讀、寫和擦除三種操作。在擦除操作中,若出現(xiàn)意外掉電的情況,可能會(huì)導(dǎo)致擦除區(qū)域中的一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)單元過擦除,即在過擦除存儲(chǔ)單元的控制端電壓為0V時(shí)其第一端和第二端會(huì)產(chǎn)生較大漏電流,過擦除存儲(chǔ)單元所在的位線漏電,進(jìn)而導(dǎo)致該位線上其它存儲(chǔ)單元在進(jìn)行讀寫操作時(shí)出錯(cuò),影響非易失性存儲(chǔ)器整體的可靠性。
因此,期望一種非易失性存儲(chǔ)器的擦除方法及上電修復(fù)方法,以減小或者消除意外掉電對(duì)非易失性存儲(chǔ)器的不良影響,提高其可靠性。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問題,本發(fā)明的目的在于提供一種用于非易失性存儲(chǔ)器的擦除方法和上電修復(fù)方法,減小或消除意外掉電對(duì)非易失性存儲(chǔ)器的不良影響,提高其可靠性。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,提供一種用于非易失性存儲(chǔ)器的擦除方法,所述非易失性存儲(chǔ)器包括多個(gè)用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的區(qū)域,所述擦除方法包括:將選定區(qū)域?qū)?yīng)的標(biāo)志位標(biāo)記為第一狀態(tài),所述標(biāo)志位位于狀態(tài)標(biāo)志區(qū);對(duì)所述選定區(qū)域進(jìn)行擦除操作;將所述選定區(qū)域?qū)?yīng)的所述標(biāo)志位標(biāo)記為第二狀態(tài)。
可選地,所述狀態(tài)標(biāo)志區(qū)包括與所述多個(gè)用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的區(qū)域?qū)?yīng)的多個(gè)標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū);所述標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū)包括一個(gè)或多個(gè)標(biāo)志位。
可選地,每個(gè)所述標(biāo)志位包括兩個(gè)相鄰的存儲(chǔ)單元。
可選地,所述第一狀態(tài)選自二進(jìn)制的01;所述第二狀態(tài)選自二進(jìn)制的00;以及,所述標(biāo)志位還包括初始狀態(tài),所述初始狀態(tài)選自二進(jìn)制的11。
可選地,所述多個(gè)用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的區(qū)域以及所述狀態(tài)標(biāo)志區(qū)位于所述非易失性存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)單元陣列中。
可選地,字線包括的標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū)的數(shù)量,與所述存儲(chǔ)單元陣列的擦除次數(shù)、字線包括的標(biāo)志位數(shù)量相關(guān)。
可選地,x^2=y(tǒng)*(m/n),其中,x為一條字線包括的所述標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū)的數(shù)量,y為一條字線包括的所述標(biāo)志位的數(shù)量,m為所述選定區(qū)域需滿足的擦除次數(shù),n為所述標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū)需滿足的擦除次數(shù)。
可選地,所述選定區(qū)域需滿足的擦除次數(shù)等于所述標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū)需滿足的擦除次數(shù)。
可選地,在所述將選定區(qū)域?qū)?yīng)的標(biāo)志位標(biāo)記為第一狀態(tài)的步驟之前,還包括:讀取所述標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū);若所述標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū)包括處于第一狀態(tài)的標(biāo)志位,則判斷所述標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū)的對(duì)應(yīng)區(qū)域是否包括過擦除存儲(chǔ)單元;若所述對(duì)應(yīng)區(qū)域包括所述過擦除存儲(chǔ)單元,則對(duì)所述過擦除存儲(chǔ)單元進(jìn)行校驗(yàn)、修復(fù);完成所述對(duì)應(yīng)區(qū)域中全部過擦除存儲(chǔ)單元的校驗(yàn)、修復(fù)后,將所述處于第一狀態(tài)的標(biāo)志位標(biāo)記為第二狀態(tài);以及,重復(fù)進(jìn)行上述流程,直至遍歷讀取所述狀態(tài)標(biāo)志區(qū)的所述標(biāo)志位存儲(chǔ)區(qū)。
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