[發(fā)明專利]一種應(yīng)力硅及其制備方法與半導(dǎo)體元件在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210360983.4 | 申請(qǐng)日: | 2022-04-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114883188A | 公開(公告)日: | 2022-08-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 崔積適 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三明學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | H01L21/306 | 分類號(hào): | H01L21/306;H01L21/324;H01L29/16 |
| 代理公司: | 廈門智慧呈睿知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 35222 | 代理人: | 邱明惠 |
| 地址: | 365000 福*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 應(yīng)力 及其 制備 方法 半導(dǎo)體 元件 | ||
本發(fā)明提供一種應(yīng)力硅及其制備方法,涉及光電材料領(lǐng)域,其方法包含以下步驟:準(zhǔn)備一塊硅襯底,在硅襯底上刻蝕出V型狹縫凹槽,通過施加的應(yīng)力使刻蝕后的硅襯底彎曲,至V型狹縫凹槽兩側(cè)貼在一起;再對(duì)V型狹縫凹槽貼在一起的狹縫進(jìn)行退火處理,至狹縫處硅為熔融狀態(tài),V型狹縫凹槽兩側(cè)的硅融化后重新結(jié)晶,并形成共價(jià)鍵,再緩慢冷卻;冷卻到室溫后,去除施加的應(yīng)力,硅襯底恢復(fù)成平整狀態(tài),V型狹縫凹槽兩側(cè)因硅重新結(jié)晶形成共價(jià)鍵而連在一起,并在V型狹縫凹槽附近形成拉應(yīng)力,該拉應(yīng)力,可減小硅的吸收帶隙,且如果在硅中產(chǎn)生的應(yīng)力不對(duì)稱,則可以打破硅的中心對(duì)稱結(jié)構(gòu),使硅產(chǎn)生一階電光效應(yīng),提高硅的調(diào)制效率。本申請(qǐng)另提供一種半導(dǎo)體元件。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光電材料技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種應(yīng)力硅的制備方法。
背景技術(shù)
硅是一種半導(dǎo)體材料,是構(gòu)成當(dāng)今電子信息系統(tǒng)的主要材料。當(dāng)今電子信息集成電路的基底主要為硅材料,且硅具有成熟的CMOS加工工藝,并且具有尺寸大、成本低等優(yōu)點(diǎn)。此外,基于成熟的CMOS工藝,硅基集成光電子技術(shù)也如火如荼的發(fā)展起來,并初步開始投入商用。
但對(duì)于豐富、高效的信息處理要求而言,硅材料在集成電子和集成光電子領(lǐng)域逐漸顯現(xiàn)出某些方面的不足。例如,由于硅中載流子遷移率的限制,制約了硅電子器件工作頻率;硅由于帶隙較大,對(duì)長(zhǎng)波長(zhǎng)光無法產(chǎn)生吸收;且硅不具有一階電光效應(yīng),導(dǎo)致硅基調(diào)制器的調(diào)制效率不高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明公開了一種應(yīng)力硅及其制備方法,旨在改善硅中載流子遷移率的限制,制約了硅電子器件工作頻率;硅由于帶隙較大,對(duì)長(zhǎng)波長(zhǎng)光無法產(chǎn)生吸收;且硅不具有一階電光效應(yīng),導(dǎo)致硅基調(diào)制器的調(diào)制效率不高的問題。
本發(fā)明采用了如下方案:
一種應(yīng)力硅的制備方法,,所述方法包含以下步驟:
在提供的硅襯底上刻蝕V型狹縫凹槽;
對(duì)所述硅襯底施加應(yīng)力使其變成弧形硅襯底,且使得所述V型狹縫凹槽兩側(cè)貼在一起;
退火處理貼在一起的所述V型狹縫凹槽,直至所述V型狹縫凹槽處的硅處于熔融狀態(tài);
將所述V型狹縫凹槽兩側(cè)的硅融化后重新結(jié)晶,并形成共價(jià)鍵;
冷卻到室溫后,去除施加的應(yīng)力;
將所述硅襯底恢復(fù)為平整狀態(tài),所述V型狹縫凹槽兩側(cè)因硅重新結(jié)晶形成共價(jià)鍵而連接在一起,從而在所述V型狹縫凹槽附近形成拉應(yīng)力。
作為進(jìn)一步改進(jìn),所述刻蝕為濕法刻蝕或干法刻蝕。
作為進(jìn)一步改進(jìn),所述退火處理為激光退火處理。
作為進(jìn)一步改進(jìn),所述V型狹縫凹槽設(shè)置在所述硅襯底邊側(cè)的中間位置。
作為進(jìn)一步改進(jìn),所述V型狹縫凹槽處的拉應(yīng)力會(huì)產(chǎn)生一定的形變。
一種應(yīng)力硅,采用如上述任意一項(xiàng)所述的制備方法制備得到。
作為進(jìn)一步改進(jìn),所述應(yīng)力硅能夠吸收覆蓋C波段。
一種半導(dǎo)體元件,包括如上述所述的應(yīng)力硅。
通過采用上述技術(shù)方案,本發(fā)明可以取得以下技術(shù)效果:
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H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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