[發明專利]多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法

在審

• 申請號: 202210324550.3
• 申請日: 2022-03-30
• 公開（公告）號: CN114813744A
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發明（設計）人: 王鄭;和江鎮;陳晨;王小寧;甘道祥;顧航陽;宋云龍
• 申請（專利權）人: 征圖新視（江蘇）科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G06T7/00
• 代理公司: 常州品益專利代理事務所(普通合伙) 32401
• 代理人: 王涵江

本發明涉及一種多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法，包括以下步驟，S1、在產品成像檢測位置搭建成像所需的硬件結構，包括多個相機、鏡頭以及光源；S2、采用步驟S1中搭建的成像硬件對同一產品進行多次圖像采集以獲取多張圖像；S3、對比同一產品在多張圖像上的缺陷信息，判斷檢出缺陷類型。本發明克服了現有技術檢出率底、誤判率高的缺陷，采用多工位圖像的綜合復判技術，利用同一個缺陷在多個圖像的特征表現來區分其類型，更加的準確。

技術領域

本發明涉及圖像視覺檢測技術領域，尤其是一種多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法。

背景技術

缺陷檢測通常是指對物品表面缺陷的檢測，表面缺陷檢測是采用先進的機器視覺檢測技術，對工件表面的斑點、凹坑、劃痕、色差、缺損等缺陷進行檢測，缺陷檢測技術一直是檢測方面的重點難題，但是目前市場上并沒有完善的解決方法，由于缺陷檢測技術要求較高，并且廠商要求的漏判率和誤判率都要求極高，所以缺陷檢測一直是一個讓人頭疼的難題。

并且，由于現在的檢測技術大多都是單工位的檢測方式，比如明場、暗場圖像，算法根據單個圖像的缺陷表型來區分缺陷的類型，這種單圖像的檢測方法判斷缺陷時，只能從單幅圖像的缺陷表現來判斷，存在一定的失敗率。

發明內容

本發明要解決的技術問題是：提供一種多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法，通過多個工位的圖像從各個圖像的缺陷表現來綜合判斷一個缺陷是否需要被檢出，解決單工位圖像檢測出現的漏檢和誤檢問題。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法，包括以下步驟，

S1、在產品成像檢測位置搭建成像所需的硬件結構，包括多個相機、鏡頭以及光源；

S2、采用步驟S1中搭建的成像硬件對同一產品進行多次圖像采集以獲取多張圖像；

S3、對比同一產品在多張圖像上的缺陷信息，判斷檢出缺陷類型。

進一步的說，本發明所述的步驟S1中的硬件結構包括第一相機、第一鏡頭、第一光源、第二光源、第三光源、第二相機以及第二鏡頭；所述的第二光源和第三光源分別設置與產品的上方和下方；所述的第一光源設置于第二光源的上方；所述的第一相機和第一鏡頭設置于第一光源的上方；所述的第二相機和第二鏡頭設置于第三光源的下方。

再進一步的說，本發明所述的第一光源為背光源。

再進一步的說，本發明所述的第二光源和第三光源均為平行同軸光源。

進一步的說，本發明所述的步驟S2中，對同一產品進行多次圖像采集包括以下步驟，

S21、在第一光源下拍攝第一張圖像；

S22、在第二光源下拍攝第二張圖像；

S23、在第三光源下拍攝第三張圖像。

再進一步的說，本發明所述的步驟S3中，將同一個缺陷在第二張圖像和第三張圖像上的特征表現與第一張圖像上的特征表現進行灰度以及對比度的比對，以此判斷檢出缺陷類型。

本發明的有益效果是，解決了背景技術中存在的缺陷，采用多工位圖像的綜合復判方法，利用同一個缺陷在多個圖像的特征表現來區分其類型會更加的準確，提高了檢出率，減少了誤判率；同時，使用本方法能夠使產品進行高效的分類，達到客戶的使用要求，大大較少了人力目檢的成本。

附圖說明

圖1是本發明的成像結構示意圖；

圖2A-圖2C是本發明缺陷綜合復判圖像示意圖；

圖中：1、產品；2、第二光源；3、第三光源；4、第一光源；5、第一鏡頭；6、第二鏡頭；7、第一相機；8、第二相機。

具體實施方式