[發明專利]多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法

在審

• 申請號: 202210324550.3
• 申請日: 2022-03-30
• 公開（公告）號: CN114813744A
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發明（設計）人: 王鄭;和江鎮;陳晨;王小寧;甘道祥;顧航陽;宋云龍
• 申請（專利權）人: 征圖新視（江蘇）科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G06T7/00
• 代理公司: 常州品益專利代理事務所(普通合伙) 32401
• 代理人: 王涵江

1.一種多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法，其特征在于：包括以下步驟，

S1、在產品成像檢測位置搭建成像所需的硬件結構，包括多個相機、鏡頭以及光源；

S2、采用步驟S1中搭建的成像硬件對同一產品進行多次圖像采集以獲取多張圖像；

S3、對比同一產品在多張圖像上的缺陷信息，判斷檢出缺陷類型。

2.如權利要求1所述的多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法，其特征在于：所述的步驟S1中的硬件結構包括第一相機、第一鏡頭、第一光源、第二光源、第三光源、第二相機以及第二鏡頭；所述的第二光源和第三光源分別設置與產品的上方和下方；所述的第一光源設置于第二光源的上方；所述的第一相機和第一鏡頭設置于第一光源的上方；所述的第二相機和第二鏡頭設置于第三光源的下方。

3.如權利要求2所述的多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法，其特征在于：所述的第一光源為背光源。

4.如權利要求2所述的多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法，其特征在于：所述的第二光源和第三光源均為平行同軸光源。

5.如權利要求2所述的多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法，其特征在于：所述的步驟S2中，對同一產品進行多次圖像采集包括以下步驟，

S21、在第一光源下拍攝第一張圖像；

S22、在第二光源下拍攝第二張圖像；

S23、在第三光源下拍攝第三張圖像。

6.如權利要求5所述的多工位圖像綜合復判缺陷檢測方法，其特征在于：所述的步驟S3中，將同一個缺陷在第二張圖像和第三張圖像上的特征表現與第一張圖像上的特征表現進行灰度以及對比度的比對，以此判斷檢出缺陷類型。